Structural, optical and magnetic characteristics of an InMnP:Zn epilayer

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 50, Issue 3, 2007, Pages 814-818

  Shon, Yoon ^a   Jeon, H C ^a   Lee, Sejoon ^a,d   Lee, Seung Joo ^a   Kang, T W ^a   Kim, Jin Soak ^b   Kim, Eun Kyu ^b   Yoon, Chong S ^b   Lee, Jeoung Ju ^c  

^a Dongguk University   (South Korea)

^b Hanyang University   (South Korea)

^c Gyeongsang National University   (South Korea)

^d INSTITUTE OF INDUSTRIAL SCIENCE   (Japan)

Author keywords

DMS; InMnP:Zn; MBB; MOCVD

Indexed keywords

EID: 34147181629     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.3938/jkps.50.814     Document Type: Article

References (23)

1. H. Munekata, H. Ohno, S. von Molnar, A. Segmuller, L. L. Chang and L. Esaki, Phys. Rev. Lett. 63, 1849 (1989).
2. H. Ohno, Science 281, 951 (1998).
3. J. M. Baik, Y. Shon, T. W. Kang and J. L. Lee, Appl. Phys. Lett. 84, 1120 (2004).
4. Fucheng Yu, Cunxu Gao, Dojin Kim, Soon Ku Hong, Hyojin Kim, Young Eon Ihm and Chang Soo Kim, J. Korean Phys. Soc. 49, 596 (2006).
5. Y. Shon, H. C. Jeon, Y. S. Park, D. Y. Kim, T. W. Kang, S. J. Lee, J. S. Kim, E. K. Kim, D. J. Fu, X. J. Fan and Y. J. Park, Appl. Phys. Lett. 89, in press (2006).
6. G. Thaler, R. Frazier, B. Gila, J. Stapleton, M. David-son, C. R. Abernathy, S. J. Pearton and C. Segre, Appl. Phys. Lett. 84, 1314 (2004).
7. N. Theodoropulou, A. F. Hebard, M. E. Overberg, C. R. Abernathy, S. J. Pearton, S. N. G. Chu and R. G. Wilson, Phys. Rev. Lett. 89, 107203 (2002).
8. X. Chen, M. Na, M. Cheon, S. Wang, H. Luo, B. D. McCombe, X. Liu, Y. Sasaki, T. Wojtowicz, J. K. Furdyna, S. J. Potashnik and P. Schiffer, Appl. Phys. Lett. 81, 511 (2002).
9. S. Y. Park, Y. J. Yoo, P. J. Kim, Y. P. Lee, T. H. Kim and J.-H. Kang, J. Korean Phys. Soc. 49, 1029 (2006).
10. M. K. Lee, C. B. Li, C. S. Liu, S. J. Fan, D. J. Fu, Y. Shon and T. W. Kang, J. Appl. Phys. 95, 755 (2004).
11. T. Dietl, H. Ohno, F. Matsukura, J. Cibert and D. Ferrand, Science 287, 1019 (2000).
12. Y. Shon, W. C. Lee, Y. S. Park, Y. H. Kwon, S. J. Lee, K. J. Chung, H. S. Kim, D. Y. Kim, D. J. Fu, T. W. Kang, X. J. Fan, Y. J. Park and H. T. Oh, Appl. Phys. Lett. 84, 2310 (2004).
13. Y. Shon, H. C. Jeon, Y. S. Park, S. J. Lee, D. Y. Kim, H. S. Kim, T. W. Kang, Y. J. Park, C. S. Yoon, C. K. Kim, E. K. Kim, Y. M. Kim and Y. D. Woo, J. Cryst. Growth 281, 501 (2005).
14. Y. Shon, H. C. Jeon, Y. S. Park, S. J. Lee, T. H. Kwon, S. J. Lee, D. Y. Kim, H. S. Kim, T. W. Kang, Y. J. Park, C. S. Yoon, C. K. Kim, E. K. Kim, Y. M. Kim and Y. D. Woo, Thin Solid Films 505, 129 (2006).
15. Y. Shon, S. J. Lee, H. C. Jeon, S.-W. Lee, D. Y. Kim, T. W. Kang, E. K. Kim, D. J. Fu, X. J. Fan, C. S. Yoon and C. K. Kim, Appl. Phys. Lett. 88, 232511 (2006).
16. Y. Shon, S. J. Lee, H. C. Jeon, S.-W. Lee, D. Y. Kim, T. W. Kang, E. K. Kim, C. S. Yoon, C. K. Kim, Y. J. Park and J. J. Lee, Appl. Phys. Lett. 89, 41905 (2006).
17. J. Schneider, U. Kaufmann, W. Widkening, M. Baeumler and F. Kohl, Phys. Rev. Lett. 59, 240 (1987).
18. J. Szczytko, A. Twardowski, K. Swiatek, M. Palczewska, M. Tanaka, T. Hayashi and K. Ando, Phys. Rev. B 60, 8304 (1999).
19. Y. Shon, Y. H. Kwon, Sh. U. Yuldashev, J. H. Leem, C. S. Park, D. J. Fu, H. J. Kim and T. W. Kang, Appl. Phys. Lett. 81, 1845 (2002).
20. Y. Shon, Y. H. Kwon, Y. S. Park, Sh. U. Yuldashev, S. J. Lee, C. S. Park, K. J. Chung, S. Y. Yoon, H. J. Kim, W. C. Lee, D. J. Fu, T. W. Kang, X. J. Fan, Y. J. Park nd H. T. Oh, J. Appl. Phys. 95, 761 (2004).
21. Y. Shon, Y. S. Park, K. J. Chung, D. J. Pu, D. Y. Kim, H. S. Kim, H. J. Kim, T. W. Kang, Y. M. Kim, X. J. Fan and Y. J. Park, J. Appl. Phys. 96, 7022 (2004).
22. Y. M. Kim, Y. Shon, T. Takamasu and H. Yokoi, Phys. Rev. B 71, 073308 (2005).
23. L. Eaves, A. W. Smith, M. S. Skolnick and B. Cockayne, J. Appl. Phys. 53, 4955 (1982).