True dipole at the indium tin oxide/organic semiconductor interface

Applied Physics Letters

Volumn 89, Issue 26, 2006, Pages

  Lin, Yow Jon ^a   Hong, Jia Huang ^a   Lien, Yi Chun ^a   Liu, Bei Yuan ^a  

^a NATIONAL CHANGHUA UNIVERSITY OF EDUCATION   (Taiwan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COATINGS; INTERFACES (MATERIALS); SEMICONDUCTING INDIUM COMPOUNDS; SEMICONDUCTING ORGANIC COMPOUNDS;

BAND BENDING; INDIUM TIN OXIDE (ITO); INTERFACE-DIPOLE CALCULATIONS; ORGANIC SEMICONDUCTOR INTERFACE;

OPTOELECTRONIC DEVICES;

EID: 33846101587     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2424646     Document Type: Article

References (23)

1. S. Y. Kim and J. L. Lee, Appl. Phys. Lett. 88, 112106 (2006).
2. S. Y. Kim, J. M. Baik, H. K. Yu, K. Y. Kim, Y. H. Tak, and J. L. Lee, Appl. Phys. Lett. 87, 072105 (2005).
3. S. F. Chen and C. W. Wang, Appl. Phys. Lett. 85, 765 (2004).
4. Y. J. Lin, W. Y. Chou, and S. T. Lin, Appl. Phys. Lett. 88, 071108 (2006).
5. W. R. Salaneck, M. Lögdlund, M. Fahlman, G. Greczynski, and T. Kugler, Mater. Sci. Eng., R. 34, 121 (2001).
6. Th. Kugler, W. R. Salaneck, H. Rost, and A. B. Holmes, Chem. Phys. Lett. 310, 391 (1999).
7. S. Y. Kim and J. L. Lee, Appl. Phys. Lett. 87, 232105 (2005).
8. G. K. Ho, H. F. Meng, S. C. Lin, S. F. Horng, C. S. Hsu, L. C. Chen, and S. M. Chang, Appl. Phys. Lett. 85, 4576 (2004).
9. G. Greczynski, M. Fahlman, and W. R. Salaneck, Chem. Phys. Lett. 321, 379 (2000).
10. H. W. Choi, S. Y. Kim, K. B. Kim, Y. H. Tak, and J. L. Lee, Appl. Phys. Lett. 86, 012104 (2005).
11. K. H. Lee, H. W. Jang, K. B. Kim, Y. H. Tak, and J. L. Lee, J. Appl. Phys. 95, 586 (2004).
12. J. C. C. Fan and J. B. Goodenough, J. Appl. Phys. 48, 3524 (1977).
13. M. Mizuno, T. Miyamoto, T. Ohnishi, and H. Hayashi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 36, 3408 (1997).
14. H. Ishii, K. Sugiyama, E. Ito, and K. Seki, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 11, 605 (1999).
15. J. C. Scott, J. Vac. Sci. Technol. A 21, 521 (2003).
16. S. Hufner, Photoelectron Spectroscopy Principles and Applications, 3rd ed. (Springer, Berlin, 2003), p. 6.
17. K. Seki, T. Tani, and H. Ishii, Thin Solid Films 273, 20 (1996).
18. S. Y. Kim, J. M. Baik, H. K. Yu, and J. L. Lee, J. Appl. Phys. 98, 093707 (2005).
19. Y. J. Lin, Y. M. Chen, and Y. C. Wang, J. Appl. Phys. 97, 083702 (2005).
20. J. Hu, J. Pan, F. Zhu, and H. Gong, J. Appl. Phys. 95, 6273 (2004).
21. S. Y. Kim, J. L. Lee, K. B. Kim, and Y. H. Tak, J. Appl. Phys. 95, 2560 (2004).
22. H. Y. Yu, X. D. Feng, D. Grozea, Z. H. Lu, R. N. S. Sodhi, A.-M. Hor, and H. Aziz, Appl. Phys. Lett. 78, 2595 (2001).
23. A. L. Swint and P. W. Bohn, Appl. Phys. Lett. 84, 61 (2004).