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Volumn 89, Issue 13, 2006, Pages

Low hysteretic behavior of Al/AlOx/Al Josephson junctions

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ALUMINUM COMPOUNDS; EVAPORATION; HYSTERESIS; LEAKAGE CURRENTS; SWITCHING CIRCUITS; THERMAL EFFECTS;

EID: 33749253499     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2357915     Document Type: Article
Times cited : (16)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.