Magnetization depth dependence in exchange biased thin films

Applied Physics Letters

Volumn 89, Issue 7, 2006, Pages

  Morales, R ^a,c   Li, Zhi Pan ^a   Petracic, O ^a,d   Batlle, X ^a,e   Schuller, Ivan K ^a   Olamit, Justin ^b   Liu, Kai ^b  

^a UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

^b UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

^c UNIVERSITY OF OVIEDO   (Spain)

^d IMPERIAL COLLEGE LONDON   (United Kingdom)

^e UNIVERSITY OF BARCELONA   (Spain)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

HYSTERESIS LOOPS; MAGNETIZATION DEPTH PROFILE; MAGNETO-OPTICAL KERR EFFECTS; VECTOR MAGNETOMETRY;

HYSTERESIS; INTERFACES (MATERIALS); MAGNETIC DOMAINS; MAGNETIZATION; MAGNETOMETERS; MAGNETOOPTICAL DEVICES; OPTICAL KERR EFFECT; REVERSE ENGINEERING;

THIN FILMS;

EID: 33747509270     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2336742     Document Type: Article

References (24)

1. J. Nogués and Ivan K. Schuller, J. Magn. Magn. Mater. 192, 203 (1999).
2. M. Kiwi, J. Magn. Magn. Mater. 234, 584 (2001).
3. W. H. Meiklejohn and C. P. Bean, Phys. Rev. 102, 1413 (1956).
4. V. Skumryev, S. Stoyanov, Y. Zhang, G. Hadjipanayis, D. Givord, and J. Nogués, Nature (London) 423, 850 (2003).
5. C. Tsang, R. E. Fontana, T. Lin, D. E. Heim, V. S. Speriosu, B. A. Gurney, and M. L. Williams., IEEE Trans. Magn. 30, 3801 (1994).
6. S. S. P. Parkin, K. P. Roche, M. G. Samant, P. M. Rice, R. B. Beyers, R. E. Scheuerlein, E. J. O'Sullivan, S. L. Brown, J. Bucchigano, D. W. Abraham, Yu Lu, M. Rooks, P. L. Trouilloud, R. A. Wanner, and W. J. Gallagher, J. Appl. Phys. 85, 5828 (1999).
7. C. Leighton, H. Suhl, M. J. Pechan, R. Compton, J. Nogués, and I. K. Schuller, J. Appl. Phys. 92, 1483 (2002).
8. S. G. E. te Velthuis, A. Berger, G. P. Felcher, B. K. Hill, and E. D. Dahlberg, J. Appl. Phys. 87, 5046 (2000).
9. M. R. Fitzsimmons, P. Yashar, C. Leighton, I. K. Schuller, J. Nogués, C. F. Majkrzak, and J. A. Dura, Phys. Rev. Lett. 84, 3986 (2000).
10. Z. Li and S. Zhang, Appl. Phys. Lett. 77, 423 (2000).
11. D. Mauri, H. C. Siegmann, P. S. Bagus, and E. Kay, J. Appl. Phys. 62, 3047 (1987).
12. T. C. Schulthess and W. H. Butler, J. Appl. Phys. 85, 5510 (1999).
13. M. Kiwi, J. Mejía-López, R. D. Portugal, and R. Ramírez, Appl. Phys. Lett. 75, 3995 (1999).
14. A. P. Malozemoff, Phys. Rev. B 35, 3679 (1987).
15. F. Nolting, A. Scholl, J. Stöhr, J. W. Seo, J. Fompeyrine, H. Siegwart, J.-P. Locquet, S. Anders, J. Lüning, E. E. Fullerton, M. F. Toney, M. R. Scheinfeink, and H. A. Padmore, Nature (London) 405, 767 (2000).
16. V. Nikitenko, V. Gornakov, A. Shapiro, R. Shull, K. Liu, S. M. Zhou, and C. L. Chien, Phys. Rev. Lett. 84, 765 (2000).
17. P. Kappenberger, S. Martin, Y. Pellmont, H. J. Hug, J. B. Kortright, O. Hellwig, and Eric E. Fullerton, Phys. Rev. Lett. 91, 267202 (2003).
18. O. de Haas, R. Schäfer, L. Schultz, C. M. Schneider, Y. M. Chang, and M.-T. Lin, Phys. Rev. B 67, 054405 (2003).
19. S. Roy, M. R. Fitzsimmons, S. Park, M. Dorn, O. Petracic, Igor V. Roshchin, Z.-P. Li, X. Baille, R. Morales, A. Misra, X. Zhang, K. Chesnel, J. B. Kortright, S. K. Sinha, and I. K. Schuller, Phys. Rev. Lett. 95, 047201 (2005).
20. K. S. Lee, S. K. Kima, and J. B. Kortright, Appl. Phys. Lett. 83, 3764 (2003).
21. W. A. A. Macedo, B. Sahoo, V. E. Kuncser, J. Eisenmenger, I. Felner, J. Nogués, K. Liu, W. Keune, and I. K. Schuller, Phys. Rev. B 70, 224414 (2004).
22. H. Shi, D. Lederman, K. V. O'Donovan, and J. A. Borchers, Phys. Rev. B 69, 214416 (2004).
23. R. Skomski, J. Phys.: Condens. Matter 15, R841 (2003).
24. M. R. Scheinfein, J. Unguris, R. J. Celotta, and D. T. Pierce, Phys. Rev. Lett. 63, 668 (1989).