Multiple length-scale patterning of DNA by stamp-assisted deposition

Angewandte Chemie - International Edition

Volumn 45, Issue 29, 2006, Pages 4779-4782

  Bystrenova, Eva ^a   Facchini, Massimo ^a   Cavallini, Massimiliano ^a   Cacace, Marcello G ^a   Biscarini, Fabio ^a  

^a CNR   (Italy)

Author keywords

Biotechnology; DNA; Nanotechnology; Scanning probe microscopy; Surface analysis

Indexed keywords

MULTIPLE LENGTH-SCALE PATTERNING; SCANNING PROBE MICROSCOPY; SURFACE ANALYSIS;

BIOTECHNOLOGY; DEPOSITION; MICA; MOLDING; NANOTECHNOLOGY; SURFACE PROPERTIES;

DNA;

DNA;

ARTICLE; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CHEMISTRY; ULTRASTRUCTURE;

DNA; MICROSCOPY, ATOMIC FORCE;

EID: 33746782523     PISSN: 14337851     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/anie.200600114     Document Type: Article

References (31)

1. C. Bustamante, Z. Bryant, S. B. Smith, Nature 2003, 424, 338-341.
2. A. A. Yu, T. Savas, S. Cabrini, E. diFabrizio, H. I. Smith, F. Stellacci, J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 16 774-16 775.
3. J. S. Shin, N. A. Pierce, Nano Lett. 2004, 4, 905-909.
4. H. Nakao, M. Gad, S. Sugiyama, K. Otobe, T. Ohtani, J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 7162-7163.
5. a) Z. Gueroui, C. Place, E. Freyssingeas, B. P. Berge, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 2002, 99, 6005-6010;
6. b) Y. Y. Liu, P. Y. Wang, S. X. Dou, W. C. Wang, P. Xie, H. W. Yin, X. D. Zhang, J. Chem. Phys. 2004, 121, 4302-4309.
7. H. Yokota, J. Sunwoo, M. Sarikaya, G. van den Engh, R. Aebersold, Anal. Chem. 1999, 71, 4418-4422.
8. a) P. Bjork, A. Herland, I. G. Scheblykin, O. Inganas, Nano Lett. 2005, 5, 1948-1953;
9. b) D. Mijatovic, J. C. T. Eijkel, A. van den Berg, Lab Chip 2005, 5, 492-500.
10. a) N. L. Rosi, C. A. Mirkin, Chem. Rev. 2005,105, 1547-1562;
11. b) L. M. Demers, D. S. Ginger, S. J. Park, Z. Li, S. W. Chung, C. A. Mirkin, Science 2002, 296, 1836-1838.
12. G. J. Zhang, T. Tanii, T. Funatsu, I. Ohdomari, Chem. Commun. 2004, 7, 786-787.
13. a) V. Dugas, J. Broutin, E. Souteyrand, Langmuir 2005, 21, 9130-9136;
14. b) M. Fujita, W. Mizutani, M. Gad, H. Shigekawa, H. Tokumoto, Ultramicroscopy 2002, 91,281-285.
15. S. A. Lange, V. Benes, D. P. Kern, J. K. Heinrich Horber, A. Bernard, Anal. Chem. 2004, 76, 1641-1647.
16. P. Pammer, R. Schlapak, M. Sonnleitner, A. Ebner, R. Zhu, P. Hinterdorfer, O. Hoglinger, H. Schindler, S. I. Howorka, ChemPhysChem 2005, 6, 900-903.
17. F. Matsumoto, M. Kamiyama, K. Nishio, H. Masuda, Jpn. J. Appl. Phys. 2005, 44, L355-L358.
18. M. Cavallini, F. Biscarini, J. Gomez-Segura, D. Ruiz, J. Veciana, Nano Lett. 2003, 3,1527-1530.
19. a) Y. Xia, G. M. Whitesides, Angew. Chem. 1998, 110, 568-594;
20. Angew. Chem. Int. Ed. 1998, 37, 550-575;
21. b) D. Qin, Y. Xia, G. M. Whitesides, Adv. Mater. 1996, 8, 917-919;
22. c) M. Cavallini, P. Stoliar, J. F. Moulin, M. Surin, P. Leclère, R. Lazzaroni, D. W. Breiby, J. W. Andreasen, M. M. Nielsen, P. Sonar, A. C. Grimsdale, K. Müllen, F. Biscarini, Nano Lett. 2005, 5, 2422-2425.
23. M. G. Cacace, E. M. Landau, J. J. Ramsden, Q. Rev. Biophys. 1997, 30, 241-278.
24. G. Reiter, Langmuir 1993, 9, 1344-1351.
25. D. Beysens, C. M. Knobler, Phys. Rev. Lett. 1986, 57, 1433-1436.
26. a) M. Brinkmann, F. Biscarini, C. Taliani, I. Aiello, M. Ghedini, Phys. Rev. B 2000, 61, R16339-R16342;
27. b) M. Brinkmann, S. Graff, F. Biscarini, Phys. Rev. B 2002, 66, 165 430-165 438;
28. c) M. Cavallini, F. Biscarini, S. Léon, F. Zerbetto, G. Bottari, D. A. Leigh, Science 2003, 299, 531.
29. R. Seemann, S. Herminghaus, K. Jacobs, Phys. Rev. Lett. 2001, 86, 5534-5537.
30. R. Xie, A. Karim, J. F. Douglas, C. C. Han, R. A. Weiss, Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 1251-1254.
31. P. Doty, B. Bunce McGill, S. A. Rice, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 1958, 44, 432-438.