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Volumn 13, Issue 1, 1998, Pages 82-

Diffusion of phase boundary and crystallization behaviors for TiO2/SiO2 composite films

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AES; Crystallization; Diffusion; Sol gel; Thin film

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EID: 33745866961     PISSN: 1000324X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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References (12)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.