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Volumn 326, Issue 1, 2006, Pages 252-258

Shallow traps for thermally induced hole hopping in DNA

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DNA molecular electronics; Long range charge transport; Thermally induced hopping

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EID: 33745510707     PISSN: 03010104     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.chemphys.2006.01.009     Document Type: Article
Times cited : (22)

References (53)
  • 51
    • 33745493104 scopus 로고    scopus 로고
    • M. Bixon, J. Jortner, to be published.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.