Formation of secondary thin carbon nanotubes on thick ones and improvement in field-emission uniformity

Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers

Volumn 45, Issue 6 A, 2006, Pages 5307-5310

  Kurachi, Hiroyuki ^a   Uemura, Sashiro ^a   Yotani, Junko ^a   Nagasako, Takeshi ^a   Yamada, Hiromu ^a   Ezaki, Tomotaka ^a   Maesoba, Tsuyoshi ^a   Nakao, Takehiro ^a   Ito, Masaaki ^a   Sakurai, Akira ^a   Shimoda, Hideo ^a   Saito, Yahachi ^b   Shinohara, Hisanori ^b  

^a Noritake Co Limited   (Japan)

^b NAGOYA UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

Carbon nanotubes; Chemical vapor deposition; Field emission; Field emission display; Metal catalysts

Indexed keywords

CATALYSTS; CHEMICAL VAPOR DEPOSITION; DEPOSITION; IRON;

FIELD EMISSION; FIELD EMISSION DISPLAY; METAL CATALYSTS;

CARBON NANOTUBES;

EID: 33745263232     PISSN: 00214922     EISSN: 13474065     Source Type: Journal    
DOI: 10.1143/JJAP.45.5307     Document Type: Article

References (23)

1. A. G. Rinzler, J. H. Hafner, P. Nikolaev, L. Lou, S. G. Kim, D. Tomanek, P. Nordlander, D. T. Colbert and R. E. Smalley: Science 269 (1995) 1550.
2. W. A. de Heer, A. Chatelain and D. Ugarte: Science 270 (1995) 1179.
3. Y. Saito, S. Uemura and K. Hamaguchi: Jpn. J. Appl. Phys. 37 (1998) L346.
4. S. Uemura, T. Nagasako, J. Yotani, T. Shimojo and Y. Saito: SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 29 (1998) 1052.
5. W. B. Choi, D. S. Chung, J. H. Kang, H. Y. Kim, Y. W. Jin, I. T. Han, Y. H. Lee, J. E. Jung, N. S. Lee, G. S. Park and J. M. Kim: Appl. Phys. Lett. 75 (1999) 3129.
6. H. Murakami, M. Hirakawa, C. Tanaka and H. Yamakawa: Appl. Phys. Lett. 76 (2000) 1776.
7. S. Uemura, J. Yotani, T. Nagasako, H. Kurachi, H. Yamada, H. Murakami, M. Hirakawa and Y. Saito: Proc. 20th Int. Display Research Conf., 2000, p. 398.
8. S. Uemura, J. Yotani, T. Nagasako, H. Kurachi, H. Yamada, T. Ezaki, T. Maesoba, T. Nakao, Y. Saito and M. Yumura: SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 33 (2002) 1132.
9. S. Uemura, J. Yotani, T. Nagasako, H. Kurachi, H. Yamada, T. Ezaki, T. Maesoba, T. Nakao, Y. Saito and M. Yumura: J. SID 11 (2003) 145.
10. Z. F. Ren, Z. P. Huang, J. W. Xu, J. H. Wang, P. Bush, M. P. Siegal and P. N. Provencio: Science 282 (1998) 1105.
11. S. Fan, M. G. Chapline, N. R. Franklin, T. W. Tombler, A. M. Cassell and H. Dai: Science 283 (1999) 512.
12. I. T. Han, H. J. Kim, Y. J. Park, N. Lee, J. E. Jang, J. W. Kim, J. E. Jung and J. M. Kim: Appl. Phys. Lett. 81 (2002) 2070.
13. S. Kang, C. Bae, W. Son, M. H. Kim, J. Yi, A. Chang, J. J. Kim and C. R. Lee: Tech. Dig. 16th Int. Vacuum Microelectronics Conf., 2003, p. 51.
14. M. Ushirozawa, M. Yamamoto, T. Takei, K. Hagiwara, Y. Murakami, T. Yamamoto, M. Hirakawa, H. Nakano, O. Miura, H. Murakami, K. Okasaka, K. Azami, K. Kaneko and T. Sasaki: Proc. 10th Int. Display Workshops, 2003, p. 1243.
15. J. Dijon, C. Bridoux, A. Fournier, F. Geffraye, T. G. de Monsabert, B. Montmayeul, M. Levis, D. Sarrasin, R. Meyer, K. A. Dean, B. F. Coll, S. V. Johnson, C. Hagen and J. E. Jaskie: J. SID 12 (2004) 373.
16. K. A. Dean et al.: SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 36 (2005) 1936.
17. H. Kurachi, S. Uemura, J. Yotani, T. Nagasako, H. Yamada, T. Ezaki, T. Maesoba, T. Nakao, M. Ito, Y. Saito and H. Shinohara: Abstr. 26th Fullerene-Nanotubes General Symp., 2004, p. 37.
18. H. Kurachi, S. Uemura, J. Yotani, T. Nagasako, H. Yamada, T. Ezaki, T. Maesoba, T. Nakao, M. Ito, Y. Saito and H. Shinohara: Abstr. 28th Fullerene-Nanotubes General Symp., 2005, p. 40.
19. H. Kurachi, S. Uemura, J. Yotani, T. Nagasako, H. Yamada, T. Ezaki, T. Maesoba, T. Nakao, M. Ito, A. Sakurai, Y. Saito and H. Shinohara: J. SID 13 (2005) 727.
20. J. Yotani, S. Uemura, T. Nagasako, H. Kurachi, H. Yamada, T. Ezaki, T. Maesoba, T. Nakao, M. Ito, T. Ishida and Y. Saito: Jpn. J. Appl. Phys. 43 (2004) L1459.
21. J. Kai, M. Kanai, M. Tama, K. Ijima and Y. Tawa: Jpn. J. Appl. Phys. 40 (2001) 4696.
22. Z. L. Wang, P. Poncharal and W. A. de Heer: J. Phys. Chem. Solids 61 (2000) 1025.
23. Y. Saito, K. Seko and J. Kinoshita: Diamond Relat. Mater. 14 (2005) 1843.