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Volumn 38, Issue 2, 2006, Pages 315-322

Loss estimation of electrostatically trapped ND3 molecules

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ELECTRIC FIELDS;

EID: 33645805000     PISSN: 14346060     EISSN: 14346079     Source Type: Journal    
DOI: 10.1140/epjd/e2006-00032-4     Document Type: Article
Times cited : (5)

References (46)
  • 24
    • 33645806448 scopus 로고    scopus 로고
    • T. Rieger, T. Junglen, S.A. Rangwala, P.W.H. Pinkse, G. Rempe, e-print arXiv:physics/0505039
    • T. Rieger, T. Junglen, S.A. Rangwala, P.W.H. Pinkse, G. Rempe, e-print arXiv:physics/0505039


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.