Diffusion des rayonnements X et visibles; microscopie en champ proche: Utilisation comparée pour la caractérisation des surfaces

Journal De Physique. IV : JP

Volumn 118, Issue , 2004, Pages 395-405

  Tollens, E ^a   Menecier, S ^b   Haidar, Y ^b   Zerrouki, C ^a   Chassevent, M ^a   De Fornel, F ^b   Bonnet, J J ^a  

^a University of Paris Cité   (France)

^b LABORATOIRE INTERDISCIPLINAIRE CARNOT DE BOURGOGNE   (France)

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EID: 33645610627     PISSN: 11554339     EISSN: 17647177     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1051/jp4:2004118046     Document Type: Article

References (16)

1. Zerrouki C., Miserey F. and Pinot P., Metrologia, 36 (1999) 403-414.
2. Bennett J. M. and Mattsson L., Introduction to surface roughness and scattering, second edition Optical Society of America, Washington, D.C (1999) pp. 1-130.
3. Kroger E., Kretschmann E., Zeit. Physik, 237 (1970) 1-15.
4. Croce P. et Prod'homme L., Opt. Commun, 35, (1980) 20-24.
5. Zerrouki C., PhD Thesis Conservatoire National des Arts et Métiers, 1998, 175p.
6. Elson J. M. and Bennett J. M., J. Opt. Soc.Am, 69, (1979) 31-47.
7. Zerrouki C., Miserey F. et Pinot P., Eur. Phys. J. Applied Physics, 1, (1998) 253-259.
8. Rasigni G., Varnier F., Rasigni M., Palmari J. P. and Llebaria A., J. Opt. Soc. Am, 73, (1983) 1235-1239.
9. Rasigni G., Rasigni M., Palmari J. P., Dussert C., Varnier F. and Llebaria A., J. Opt. Soc. Am. A, 5, (1988) 99-103.
10. Heitmann D. and Permien V., Opt. Commun, 23, (1977) 131-134.
11. Aleyane N. et al, Appl. Opt, 28, (1989) 1763-1772.
12. Deumié C., Richier R., Dumas P. and Amra C., Appl. Opt, 35, (1996) 5583-5594.
13. e Congrès International de Métrologie, Toulon France (20-23 octobre 2003).
14. Wei P. K. and Fann W. S., Appl. Phys, 83, (1998).no 7.
15. Tollens E., Rapport de DEA de l'Université Paris XIII, 2003. (2003).
16. Menecier S., Rapport de DEA de l'Université de Bourgogne, 2003. (2003).