Répartition angulaire de la lumière diffusée par un échantillon poli du super-alliage CoCr20WNi (Alacrite XSH); application à la détermination des paramètres statistiques caractérisant la rugosité superficielle

EPJ Applied Physics

Volumn 1, Issue 2, 1998, Pages 253-259

  Zerrouki, Ch ^a   Miserey, Fr ^b   Pinot, P ^a  

^a BNM INM   (France)

^b Bioinformatique et Chimie Moléculaire   (France)

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CALCULATIONS; LIGHT; MEASUREMENTS; POLARIZATION; ROUGHNESS MEASUREMENT; SURFACE ROUGHNESS;

LIGHT SCATTERING;

EID: 0031704297     PISSN: 12860042     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1051/epjap:1998143     Document Type: Article

References (38)

1. E.Z. Luo, S. Heun, M. Kennedy, J. Wollschläger, Phys. Rev B 49, 4858 (1994).
2. V.M. Agranovich, A. Maradudin, Surface excitations, (Elsevier Science Publishers, 1984) pp. 176-191.
3. P. Pinot, Bulletin du BNM 105, 11 (1996).
4. P. Pinot, C. Zerrouki, F. Miserey, Bulletin du BNM 105, 23 (1996).
5. P. Pinot, Metrologia 31, 357 (94/95).
6. E. Kröger, E. Kretschmann, Z. Physik 237, 1 (1970).
7. P. Croce, L. Prod'homme, Nouvelle Revue d'Optique t7, 121 (1976).
8. P. Bousquet, F. Flory, P. Roche, J. Opt. Soc. Am. 71, 1115 (1981).
9. D. Heitmann, V. Permien, Opt. Comm. 23, 131 (1977).
10. J. Ohtsubo, J. Opt. Soc. Am. A 3 982 (1986).
11. N. Yoshiki, F. Masuo, J. Phys. Soc. Jnp. 58, 4511 (1989)
12. P. Croce, L. Prod'homme, Opt. Comm. 35, 20 (1980).
13. E. Kretschmann, E. Kröger, J. Opt. Soc. Am. 65, 150 (1975).
14. E. Kretschmann, Opt. Comm. 6, 185 (1974).
15. J.M. Elson, R.H. Ritchie, Phys. Lett. 33A, 255 (1970).
16. J.M. Elson, J.M. Bennett, J.C. Stover, Appl. Opt. 32, 3362 (1993).
17. D.L. Hornauer, Opt. Comm. 16, 76 (1976).
18. J.M. Bennett, L. Mattsson, Introduction to surface roughness and scattering (Optical Society of America, Washington, D.C., 1989) pp. 1-112.
19. J. Bodesheim, A. Otto, Surf. Sci. 45, 441 (1974).
20. Y. Wang, W.L. Wolf, J. Opt. Soc. Am. 73, 1596 (1983).
21. J.C. Dainty, N.C. Bruce, A.J. Sant, Waves in Random Media 3, S29 (1992).
22. G. Rasigni, F. Varnier, J.P. Palmari, N. Mayani, M. Rasigni, Opt. Comm. 46, 294 (1983).
23. K.H. Guenther, P.G. Wierer, J.M. Bennett, Appl. Opt. 23, 3820 (1984).
24. J.A. Ogilvy, J.R. Foster, Appl. Phys. 22, 1243 (1989).
25. J.M. Elson, J. Opt. Soc. Am. 69, 48 (1979).
26. J.M. Bennett, Appl. Opt. 15, 2705 (1976).
27. J.P. Marioge, J. Optics 24, 217 (1993).
28. J.P. Marioge, Opto. 88, 76 (1996).
29. J.M. Elson, J.M. Bennett, J. Opt. Soc. Am. 69, 31 (1979).
30. J.M. Elson, J.P. Rahn, J.M. Bennett, Appl. Opt. 19, 669 (1980).
31. J.M. Elson, J.P. Rahn, J.M. Bennett, Appl. Opt. 22, 3207 (1983).
32. G. Rasigni, F. Varnier, M. Rasigni, A. Llebaria, Phys. Rev. B 29, 5931 (1984).
33. C. Zerrouki, F. Miserey, P. Pinot. (submitted).
34. P. Croce, J. Optics 13, 21 (1982).
35. P. Croce, L. Prod'homme, J. Optics 15, 95 (1984).
36. F. Varnier, Thesis, University of Marseille (France), 1983.
37. L.-X. Cao, T.V Vorburger, A.G. Lieberman, T.R. Lettieri, Appl. Opt. 30, 3221 (1991).
38. C. Zerrouki, F. Miserey, P. Pinot, Caractérisation à l'échelle du nanomètre de la rugosité superficielle des étalons de masse par des mesures de flux lumineux diffusé, Actes des conférences du 8e Congrès International de Métrologie. Besançon France (Octobre 1997) pp. 198-203.