Hydride ion as a two-electron donor in a nanoporous crystalline semiconductor 12CaO·7Al2O3

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 109, Issue 50, 2005, Pages 23836-23842

  Hayashi, Katsuro ^a   Sushko, Peter V ^b   Shluger, Alexander L ^b   Hirano, Masahiro ^a   Hosono, Hideo ^a  

^a TOKYO INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Japan)

^b UNIVERSITY COLLEGE LONDON   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ACTIVATION ENERGY; ALUMINA; CRYSTAL LATTICES; ELECTRIC CONDUCTIVITY; HYDROGEN; LIME; NANOSTRUCTURED MATERIALS; NEGATIVE IONS; POSITIVE IONS; PROTONS;

CARRIER ELECTRONS; ELECTROMOTIVE FORCE; HYDROGEN ATMOSPHERE;

SEMICONDUCTOR MATERIALS;

EID: 30644474372     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp053990p     Document Type: Article

References (44)

1. Van de Walle, C. G.; Neugebauer, J. Nature 2003, 423, 626-628.
2. Kreuer, K. D. Solid State Ionics 2000, 136-137, 149-160.
3. Beyer, W. Tetrahedrally-Bonded Amorphous Semiconductors; Adler, D., Fritzsche, H., Eds.; Plenum Press: New York, 1985; p 129.
4. Sandrock, G. J. Alloys. Comput. 1999, 293-295, 877-888.
5. Cotton, F. A.; Wilkinson, G. Advanced Inorganic Chemistry, 5th ed.; Wiley: New York, 1988.
6. González, R.; Chen, Y. J. Phys.: Condens. Matter 2002, 14, R1143-R1173.
7. Diwald, O.; Hofmann, P.; Knözinger, E. Phys. Chem. Chem. Phys. 1999, 1, 713-721.
8. Paganini, M. C.; Chiesa, M.; Giamello, E.; Coluccia, S.; Martra, G.; Murphy, D. M.; Pacchioni, G. Surf. Sci. 1999, 421, 246-262.
9. Poulsen, F. W. Solid State Ionics 2001, 145, 387-397.
10. Hayward, M. A.; Cussen E. J.; Claridge, J. B.; Bieringer, M.; Rosseinsky, M. J.; Kiely, C. J.; Blundell, S. J.; Marshall, I. M.; Pratt, F. L. Science 2002, 295, 1882-1884.
11. Hayashi, K.; Matsuishi, S.; Kamiya, T.; Hirano, M.; Hosono, H. Nature 2002, 419, 462-465.
12. Hayashi, K.; Toda, Y.; Kamiya, T.; Hirano, M.; Yamanaka, M.; Tanaka, I.; Yamamoto, T.; Hosono, H. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 022109-1-3.
13. Huang, F.; Li, J.; Wang, L.; Dong, T.; Tu, J.; Torimoto, Y.; Sadakata, M.; Li, Q. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 12032-12037.
14. Norby, T.; Larring, Y. Solid State Ionics 2000, 136-137, 139-148.
15. Norby, T.; Widerøe, M.; Glöckner, R.; Larring, Y. Dalton Trans. 2004, 3012-3018.
16. Bartl, H.; Scheller, T. N. Jb. Miner. Mh. 1970, 35, 547-552.
17. Jeevaratnam, J.; Glasser, F. P.; Glasser, L. S. D. J. Am. Ceram. Soc. 1964, 47, 105-106.
18. Zhmoidin, G, I.; Chatteriee, A. K. Cem. Concr. Res. 1984, 14, 386-396.
19. Hosono, H.; Abe, Y. Inorg. Chem. 1987, 26, 1192-1195.
20. Hayashi, K.; Hirano, M.; Matsuishi, S.; Hosono, H. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 738-739.
21. Hayashi, K.; Matsuishi, S.; Ueda, N.; Hirano, M.; Hosono, H. Chem. Mater. 2003, 15, 1851-1834.
22. Hayashi, K.; Matsuishi, S.; Hirano, M.; Hosono, H. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 8920-8925.
23. Hayashi, K.; Ueda, N.; Hirano, M.; Hosono, H. Solid State Ionics 2004, 173, 89-94.
24. Matsuishi, S.; Hayashi, K.; Hirano, M.; Tanaka, I.; Hosono, H. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 18557-18568.
25. Hayashi, K.; Hirano, M.; Hosono, H. Chem. Lett. 2005, 34, 586-587.
26. Matsuishi, S.; Toda, Y.; Miyakawa, M.; Hayashi, K.; Kamiya, T.; Hirano, H.; Hosono, H. Science 2003, 301, 626-629.
27. Sushko P. V.; Shluger, A. L.; Hayashi, K.; Hirano, M.; Hosono, H. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 126401-4
28. Sushko, P. V.; Shluger, A. L.; Hayashi, K.; Hirano, M.; Hosono, H. Thin Solid Films 2003, 445, 161-167.
29. Lacerda, M.; Irvine, J. T. S.; Glasser, F. P.; West A. R. Nature 1988, 332, 525-526.
30. Sushko, P. V.; Shluger, A. L.; Hayashi, K.; Hirano, M.; Hosono, H. Phys. Rev. B, in press.
31. Imlach, J. A.; Glasser, L. S. D.; Glasser, F. P. Cem. Concr. Res. 1971, 1, 57-61.
32. Hayashi, K.; Hirano, M.; Hosono, H. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 11900-11906.
33. Miyakawa, M.; Hayashi, K.; Hirano, M.; Toda, Y.; Kamiya, T.; Hosono, H. Adv. Mater. 2003, 15, 1100-1103.
34. Sushko, P. V.; Shluger, A. L.; Hayashi, K.; Hirano, M.; Hosono, H. Appl. Phys. Lett. 2005, 56, 092101-1-3.
35. Matsuishi, S.; Hayashi, K.; Hirano, M.; Hosono, H. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 12454-12455.
36. Hayashi, K.; Hirano, M.; Hosono, H. J. Mater. Res. 2002, 17, 1244-1247.
37. Watauchi, S.; Tanaka, I.; Hayashi, K.; Hirano, M.; Hosono, H. J. Cryst. Growth 2002, 237-239, 801-805.
38. Sushko P. V.; Shluger, A. L.; Catlow, C. R. A. Surf. Sci. 2000, 450, 153-170.
39. Sulimov, V. B.; Sushko, P. V.; Edwards, A. H.; Shluger, A. L.; Stoneham, A. M. Phys. Rev. B 2002, 66, 024108-1-14.
40. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; et al. Gaussian 98, revision A7; Gaussian Inc.: Pittsburgh, PA, 1998.
41. Lacerda, M.; West, A. R.; Irvine, J. T. S. Solid State Ionics 1993, 59, 257-262.
42. Calculated using Malt program, Kagaku Gijutsu-Sha, Japan; Yokokawa, H.; Yamauchi, S.; Matsumoto, T. Calphad 2002, 26, 155-166.
43. Sushko, P. V.; Shluger, A. L.; Hayashi, K.; Hirano, M.; Hosono, H. Submitted for publication.
44. Miyakawa, M.; Toda, Y.; Hayashi, K.; Kamiya, T.; Hirano, M.; Hosono, H. J. Appl. Phys. 2005, 92, 023510-1-6.