Annealing effect on the structural and magnetic properties of La 0.7 Sr 0.3 Mn O 3 films

Journal of Applied Physics

Volumn 98, Issue 12, 2005, Pages

  Li, Tong ^a   Wang, Bo ^a   Dai, Hongyun ^a   Du, Yongsheng ^a   Yan, Hui ^a   Liu, Yanpin ^b  

^a BEIJING UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (China)

^b LANZHOU UNIVERSITY   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CURIE TEMPERATURE (TC); JAHN-TELLER (JT) DISTORTION; LATTICE CONTRACTION; LSMO FILMS;

ANNEALING; CRYSTAL LATTICES; ELECTRIC DISTORTION; LANTHANUM; MAGNETIC PROPERTIES; RAMAN SCATTERING; RAMAN SPECTROSCOPY; SQUIDS; STRUCTURAL ANALYSIS; SUBSTRATES; X RAY DIFFRACTION;

LANTHANUM COMPOUNDS;

EID: 29744450491     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2148621     Document Type: Review

References (22)

1. H. Wang, X. Zhang, M. F. Hundley, J. D. Thompson, B. J. Gibbons, Y. Lin, P. N. Arendt, S. R. Foltyn, and Q. X. Jia, Appl. Phys. Lett. 84, 1147 (2004).
2. Guotai Tan, X. Zhang, and Zhenghao Chen, J. Appl. Phys. 95, 6322 (2004).
3. Jin. H. So, J. R. Gladden, Y. F. Hu, J. D. Maynard, and Qi Li, Phys. Rev. Lett. 90, 036103-1 (2003).
4. R. Desfeux, S. Bailleul, A. Da Costa, W. Prellier, and A. M. Haghiri-Gosnet, Appl. Phys. Lett. 78, 3681 (2001).
5. Joonghoe Dho, N. H. Hur, I. S. Kim, and Y. K. Park, J. Appl. Phys. 94, 7670 (2003).
6. A. J. Millis, Phys. Rev. B 53, 8434 (1996).
7. M.-J. Casanove, C. Roucau, P. Bauies, J. Majimel, J.-C. Ousset, D. Magnoux, and J. F. Bobo, Appl. Surf. Sci. 188, 19 (2002).
8. K. A. Thomas, P. S. I. P. N. de Silva, L. F. Cohen, A. Hossain, M. Rajeswari, T. Venkatesan, R. Hiskes, and J. L. MacManus-Driscoll, J. Appl. Phys. 84, 3939 (1997).
9. S. H. Seo, H. C. Kang, H. W. Jang, and D. Y. Noh, Phys. Rev. B 71, 012412 (2005).
10. J. R. Sun, C. F. Yeung, K. Zhao, L. Z. Zhou, C. H. Leung, H. K. Wong, and B. G. Shen, Appl. Phys. Lett. 76, 1164 (2000).
11. P. Postorino, A. Congeduti, E. Degiorgi, J. P. Ití, and P. Munsch, Phys. Rev. B 65, 224102 (2002).
12. S. Yoon, H. L. Liu, G. Schollerer, S. L. Cooper, P. D. Han, D. A. Payne, S-W. Cheong, and Z. Fisk, Phys. Rev. B 58, 2795 (1998).
13. M. V. Abrashev, V. G. Ivanov, M. N. Iliev, R. A. Chakalov, R. I. Chakalova, and C. Thomsen, Phys. Status Solidi B 215, 631 (1999).
14. N. Malde, P. S. I. P. N. de Silva, A. K. M. Akther Hossain, L. F. Cohen, K. A. Thomas, J. L. MacManus-Driscoll, N. D. Mathur, and M. G. Blamire, Solid State Commun. 105, 643 (1998).
15. V. B. Podobedov, D. B. Romer, A. Weber, J. P. Rice, R. Schreekala, M. Rajeswari, R. Ramesh, T. Venkatesan, and H. D. Drew, Appl. Phys. Lett. 73, 3217 (1998).
16. A. Urushibara, Y. Moritomo, T. Arima, A. Asamitsu, G. Kido, and Y. Tokura, Phys. Rev. B 51, 14103 (1995).
17. Elbio Dagotto, Takashi Hotta, and Adriana Moreo, Phys. Rep. 344 1 (2001).
18. H. L. Ju and Hyunchul Sohn, J. Magn. Magn. Mater. 167, 200 (1997).
19. H. L. Ju, J. Gopalakrishnan, J. L. Peng, Qi Li, G. C. Xiong, T. Venkatesan, and R. L. Greene, Phys. Rev. B 51, 6143 (1995).
20. J. F. Mitchell, D. N. Argyriou, C. D. Potter, D. G. Hinks, J. D. Jorgensen, and S. D. Bader, Phys. Rev. B 54, 6172 (1996).
21. J. Hemberger, A. Krimmel, T. Kurz, H.-A. Krug von Nidda, V. Yu. Ivanov, A. A. Mukhin, A. M. Balbashov, and A. Loid, Phys. Rev. B 66, 094410 (2002).
22. M. Pardavi-Horvath, IEEE Trans. Magn. 21, 1694 (1985).