1s2p Resonant inelastic X-ray scattering of iron oxides

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 109, Issue 44, 2005, Pages 20751-20762

  De Groot, Frank M F ^a   Glatzel, Pieter ^b   Bergmann, Uwe ^c   Van Aken, Peter A ^d   Barrea, Raul A ^e   Klemme, Stephan ^f   Hävecker, Michael ^g   Knop Gericke, Axel ^g   Heijboer, Willem M ^a   Weckhuysen, Bert M ^a  

^a UTRECHT UNIVERSITY   (Netherlands)

^b EUROPEAN SYNCHROTRON RADIATION FACILITY   (France)

^c SLAC NATIONAL ACCELERATOR LABORATORY   (United States)

^d DARMSTADT UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Germany)

^e ARGONNE NATIONAL LABORATORY   (United States)

^f UNIVERSITY OF HEIDELBERG   (Germany)

^g FRITZ HABER INSTITUT DER MAX PLANCK GESELLSCHAFT   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CRYSTAL FIELD MULTIPLET SIMULATIONS; RESONANT INELASTIC X-RAY SCATTERING (RIXS);

ABSORPTION SPECTROSCOPY; COMPUTER SIMULATION; X RAY SCATTERING;

IRON OXIDES;

FERRIC ION; FERRIC OXIDE;

ARTICLE; CHEMISTRY; ELECTRON; RADIATION SCATTERING; SPECTROSCOPY; TECHNIQUE; X RAY;

ELECTRONS; FERRIC COMPOUNDS; METHODS; SCATTERING, RADIATION; SPECTRUM ANALYSIS; X-RAYS;

EID: 28144436332     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp054006s     Document Type: Article

References (54)

1. Degroot, F. M. F. J. Elec. Spec. 1994, 67, 529.
2. deGroot, F. Coord. Chem. Rev. 2005, 249, 31.
3. Cramer, S. P.; Ralston, C. Y.; Wang, H. X.; Bryant, C. J. Elec. Spec. 1997, 86, 175.
4. Wilke, M.; Farges, F.; Petit, P. E.; Brown, G. E.; Martin, F. Am. Mineral. 2001, 86, 714.
5. (a) Gloter, A.; Douiri, A.; Tence, M.; Colliex, C. Ultramicroscopy 2003, 96, 385.
6. (b) Mitterbauer, C.; Kothleitner, G.; Grogger, W.; Zandbergen, H.; Freitag, B.; Tiemeijer, P.; Hofer, F. Ultramicroscopy 2003, 96, 469.
7. van Aken, P. A.; Lauterbach, S. Phys. Chem. Miner. 2003, 30, 469.
8. Degroot, F. M. F.; Fuggle, J. C.; Thole, B. T.; Sawatzky, G. A. Phys. Rev. B 1990, 41, 928.
9. Degroot, F. M. F.; Fuggle, J. C.; Thole, B. T.; Sawatzky, G. A. Phys. Rev. B 1990, 42, 5459.
10. (a) Knop-Gericke, A.; Havecker, M.; Neisius, T.; Schedel-Niedrig, T. Nucl. Instrum. Methods A 1998, 406, 311.
11. (b) Knop-Gericke, A.; Havecker, M.; Schedel-Niedrig, T.; Schlogl, R. Top. Catal. 2000, 10, 187.
12. (a) Wagner, J. B.; Hansen, P. L.; Molenbroek, A. M.; Topsoe, H.; Clausen, B. S.; Helveg, S. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 7753.
13. (b) Hansen, P. L.; Wagner, J. B.; Helveg, S.; Rostrup-Nielsen, J. R.; Clausen, B. S.; Topsoe, H. Science 2002, 295, 2053.
14. Meitzner, G.; Bare, S. R.; Parker, D.; Woo, H.; Fischer, D. A. Rev. Sci. Instrum. 1998, 69, 2618.
15. Hamalainen, K.; Kao, C. C.; Hastings, J. B.; Siddons, D. P.; Berman, L. E.; Stojanoff, V.; Cramer, S. P. Phys. Rev. B 1992, 46, 14274.
16. (a) Glatzel, P.; Jacquamet, L.; Bergmann, U.; de Groot, F. M. F.; Cramer, S. P. Inorg. Chem. 2002, 41, 3121.
17. (b) Glatzel, P.; de Groot, F. M. F.; Manoilova, O.; Grandjean, D.; Weckhuysen, B. M. Bergmann, U.; Barrea, R. Phys. Rev. B 2005, 72, 014117.
18. (a) Stojanoff, V.; Hamalainen, K.; Siddons, D. P.; Hastings, J. B.; Berman, L. E.; Cramer, S.; Smith, G. Rev. Sci. Instrum. 1992, 63, 1125.
19. (b) Bergmann, U.; Crush, M. M.; Horne, C. R.; DeMarois, P.; PennerHahn, J. E.; Yocum, C. F.; Wright, D. W.; Dube, C. E.; Armstrong, W. H.; Christou, G.; Eppley, H. J.; Cramer, S. P. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 8350.
20. Schulke, W.; Kaprolat, A.; Fischer, T.; Hoppner, K.; Wohlert, F. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 2446.
21. (a) de Groot, F. Chem. Rev. 2001, 101, 1779.
22. (b) Butorin, S. M. J. Elec. Spec. 2000, 110, 213.
23. (c) Kotani, A.; Shin, S. Rev. Mod. Phys. 2001, 73, 203.
24. (d) Gel'mukhanov, F.: Agren, H. Phys. Rep. 1999, 312, 91.
25. Cramer, S. P.; Degroot, F. M. F.; Ma, Y.; Chen, C. T.; Sette, F.; Kipke, C. A.; Eichhorn, D. M.; Chan, M. K.; Armstrong, W. H.; Libby, E.; Christou, G.; Brooker, S.; McKee, V.; Mullins, O. C.; Fuggle, J. C. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7937.
26. Caliebe, W. A.; Kao, C. C.; Hastings, J. B.; Taguchi, M.; Uozumi, T.; de Groot, F. M. F. Phys. Rev. B 1998, 58, 13452.
27. Westre, T. E.; Kennepohl, P.; Dewitt, J. G.; Hedman, B.; Hodgson, K. O.; Solomon, E. I. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 6297.
28. Glatzel, P.; Bergmann, U.; Gu, W. W.; Wang, H. X.; Stepanov, S.; Mandimutsira, B. S.; Riordan, C. G.; Horwitz, C. P.; Collins, T.; Cramer, S. P. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 9668.
29. Heijboer, W. M.; Glatzel, P.; Sawant, K. R.; Lobo, R. F.; Bergmann, U.; Barrea, R. A.; Koningsberger, D. C.; Weckhuysen, B. M.; de Groot, F. M. F. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 10002.
30. Glatzel, P.; Bergmann, U.; Yano, J.: Visser, H.; Robblee, J. H.; Gu, W. W.; de Groot, F. M. F.; Christou, G.; Pecoraro, V. L.; Cramer, S. P.; Yachandra, V. K. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 9946.
31. Rueff, J. P.; Journel, L.; Petit, P. E.; Farges, F. Phys. Rev. B 2004, 69, 235107.
32. Barrea, R. A.; Fischetti, R.; Stepanov, S.; Rosenbaum, G.; Kondrashkina, E.; Bunker, G. B.; Black, E.; Zhang, K.; Gore, D.; Heurich, R.; Vukonich, M.; Kropf, A. J.; Wang, S.; Irving, T. C. Phys. Scr. 2005, 115, 867.
33. Bergmann, U.; Cramer, S. P. SPIE Proc. 1998, 3448, 198.
34. Troger, L.; Arvanitis, D.; Baberschke, K.; Michaelis, H.; Grimm, U.; Zschech, E. Phys. Rev. B 1992, 46, 3283.
35. (a) Follath, J. A. R.; Senf, F. Nucl. Instrum. Methods A 1997, 390, 388.
36. (b) Senf, F.; Sawhney, K. J. S. Nucl. Instrum. Methods A 2001, 467-468, 466.
37. Abbate, M.; Goedkoop, J. B.; de Groot, F. M. F.; Grioni, M.; Fuggle, J. C.; Hofmann, S.; Petersen, H.; Sacchi, M. Surf. Interface Anal. 1992, 18, 65.
38. Vanaken, P. A.; Wu, Z. Y.; Langenhorst, F.; Seifert, F. Phys. Rev. B 1999, 60, 3815.
39. Egerton, R. F. Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope, 2nd ed.; Plenum Press: New York, 1996.
40. Klemme, S.; van Miltenburg, J. C. Am. Miner. 2003, 88, 68.
41. Subias, G.; Garcia, J.; Proietti, M. G.; Blasco, J. Phys. Rev. B 1997, 56, 8183.
42. de Vries, A. H.; Hozoi, L.; Broer, R. Int. J. Quantum Chem. 2003, 91, 57.
43. Wong, J.; Lytle, F. W.; Messmer, R. P.; Maylotte, D. H. Phys. Rev. B 1984, 30, 5596.
44. Wilke, M.; Farges, F.; Petit, P. E.; Brown, G. E.; Martin, F. Am. Miner. 2001, 86, 714.
45. Abbate, M.; Pen, H.; Czyzyk, M. T.; Degroot, F. M. F.; Fuggle, J. C.; Ma, Y. J.; Chen, C. T.; Sette, F.; Fujimori, A.; Ueda, Y.; Kosuge, K. J. Elec. Spec. 1993, 62, 185.
46. Arrio, M. A.; Rossano, S.; Brouder, C.; Galoisy, L.; Calas, G. Europhys. Lett. 2000, 51, 454.
47. Cabaret, D.; Joly, Y.; Renevier, H.; Natoli, C. R. J. Synchrotron Radiat. 1999, 6, 258.
48. (a) Kuiper, P.; Searle, B. G.; Rudolf, P.; Tjeng, L. H.; Chen, C. T. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 1549.
49. (b) Crocombette, J. P.; Pollak, M.; Jollet, F.; Thromat, N.; Gautiersoyer, M. Phys. Rev. B 1995, 52, 3143.
50. Wasinger, E. C.; de Groot, F. M. F.; Hedman, B.; Hodgson, K. O.; Solomon, E. I. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 12894.
51. (a) Piamonteze, C.; Tolentino, H. C. N.; Vicentin, F. C.; Ramos, A. Y.; Massa, N. E.; Alonso, J. A.; Martinez-Lope, M. J.; Casais, M. T. Surf. Rev. Lett. 2002, 9, 1121.
52. (b) Piamonteze, C.; de Groot, F. M. F.; Tolentino, H. C. N.; Ramos, A. Y.; Massa, N. E.; Alonso, J. A.; Martjínez-Lope, M. J. Phys. Rev. B 2005, 71, 020406.
53. (a) Rueff, J. P.; Kao, C. C.; Struzhkin, V. V.; Badro, J.; Shu, J.; Hemley, R. J.; Hao, H. K. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 3284.
54. (b) Badro, J.; Rueff, J. P.; Vanko, G.; Monaco, G.; Fiquet, G.; Guyot, F. Science 2004, 305, 383.