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Volumn 242, Issue 13, 2005, Pages 2561-2569

A fast reflectance anisotropy spectrometer for in situ growth monitoring

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EID: 27844444241     PISSN: 03701972     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssb.200541143     Document Type: Conference Paper
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References (15)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.