The effect of stoichiometric La1/2Sr1/2CoO3 as sputtered bottom electrode on SiO2/Si(100)

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 42, Issue SUPPL., 2003, Pages

  Kim, Jai Hyun ^a   Koh, Kyoung Shin ^a,b   Choo, Woong Kil ^a  

^a Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)   (South Korea)

^b Chung Ang University   (South Korea)

Author keywords

Ferroelectric properties; LSCO; PZT; Sputtering

Indexed keywords

EID: 26344477485     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Conference Paper

References (16)

1. J. F. Scott, C. A. Pax de Aroujo, b. M. Melnick, L. D. McMillan and R. Zuleeg, J. Appl. Phys. 70, 382 (1991).
2. E. L. Colla, A. K. Tagantsev, D. Talyor and A. L. Kholkin, J. Korean Phys. Soc. 32, s1353 (1998).
3. K. Kim, N. Kim J. Choi, I. Choi, H. Kim and J. Park, J. Korean Phys. Soc. 41, 354 (2002).
4. B. S. Kim, S. H. Oh, S. Y. Son, K. W. Park and D. K. Choi, J. Korean Phys. Soc. 41, 227 (2002).
5. M. Shimizu, H. Fujisawa, S. Hyodo, S. Nakashima, H. Niu, H. Okino and T. Shiosake, J. Korean Phys. Soc. 32, s1349 (1998).
6. S. Bernsterin, T. Wong, Y. Kisler and R. Tustison, J. Mater. Res. 8, 12 (1993).
7. R. Ramesh, H. Gilchist, T. Sands, V. G. Keramidas, R. Haakenaasen and D. K. Fork, Appl. Phys. Lett. 63, 3592 (1993).
8. P. W. Chan, W. Wu, K. H. Wong, K. Y. Tong and J. T. Cheung, J. Phys. D, Appl. Phys. 30, 957 (1997).
9. L. Jun, X. dingquan, Z. Wen and S. Jinwei, J. Korean Phys. Soc. 32, s1060 (1998).
10. J. S. Park, S. Y. Park, H. G. Park, S. M. Kim, Y. P. Lee, V. G. Prokhorov and V. M. Ishchuk, J. Korean Phys. Soc. 41, 732 (2002).
11. E. Joseph, K. Sunstor, V. Ramanujachary, J. Solid State Chem. 139, 388 (1998).
12. P. Ganguly, J. Phys.: Condens. Matter. 6, 533 (1994).
13. E. G. Lee, K. S. Kim, J. K. Lee, W. Y. Jang, J. G. Lee and S. J. Kim, J. Korean Phys. Soc. 42, 158 (2003).
14. Park, K. C. and Cho, J. H, Appl. Phys. Lett. 77, 435 (2000).
15. H. N. Al-Shareef, K. R. Bellur, O. Auciello and A. I. Kingon, Thin Solids Films. 256, 73 (1995).
16. J. Robertson, and C. W. Chen, Appl. Phys. Lett. 74, 1168 (1999).