Perpendicular exchange bias in antiferromagnetic-ferromagnetic nanostructures

Applied Physics Letters

Volumn 84, Issue 18, 2004, Pages 3696-3698

  Sort, J ^a   Dieny, B ^a   Fraune, M ^b   Koenig, C ^b   Lunnebach, F ^b   Beschoten, B ^b   Guntherodt G ^b  

^a CEA GRENOBLE   (France)

^b RWTH AACHEN UNIVERSITY   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANTIFERROMAGNETIC MATERIALS; COERCIVE FORCE; ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY; FERROMAGNETIC MATERIALS; MAGNETIC ANISOTROPY; MAGNETIC HYSTERESIS; MAGNETIZATION; MULTILAYERS; OXIDATION; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SILICON WAFERS;

ANTIFERROMAGNETS; EXCHANGE BIAS EFFECTS; NANOWIRES; PATTERNING PROCESSES;

NANOSTRUCTURED MATERIALS;

EID: 2542507247     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1737484     Document Type: Article

References (34)

1. B. Dieny, V. S. Speriousu, S. S. P. Parkin, B. A. Gurney, D. R. Wilhoit, and D. Mauri, Phys. Rev. B 43, 1297 (1991).
2. J. Nogués and I. K. Schuller, J. Magn. Magn. Mater. 192, 203 (1999).
3. A. E. Berkowitz and K. Takano, J. Magn. Magn. Mater. 200, 552 (1999).
4. R. L. Stamps, J. Phys. D 33, R247 (2000).
5. M. Kiwi, J. Magn. Magn. Mater. 234, 584 (2001).
6. Y. Otani, A. Nemoto, S. G. Kim, K. Fukamichi, O. Kitakami, and Y. Shimada, J. Magn. Magn. Mater. 198, 434 (1999).
7. M. Fraune, U. Rüdiger, G. Güntherodt, S. Cardoso, and P. Freitas, Appl. Phys. Lett. 77, 3815 (2000).
8. J. Yu, A. D. Kent, and S. S. P. Parkin, J. Appl. Phys. 87, 5049 (2000).
9. R. E. Dunin-Borkowski, M. R. McCartney, B. Kardynal, M. R. Scheinfein, D. J. Smith, and S. S. P. Parkin, J. Appl. Phys. 90, 2899 (2001).
10. Y. Shen, Y. Wu, H. Xie, K. Li, J. Qui, and Z. Guo, J. Appl. Phys. 91, 8001 (2002).
11. A. Hoffmann, M. Grimsditch, J. E. Pearson, J. Nogués, W. A. A. Macedo, and I. K. Schuller, Phys. Rev. B 67, 220406(R) (2003).
12. K. Liu, J. Nogués, C. Leighton, H. Masuda, K. Nishio, I. V. Roshchin, and I. K. Schuller, Appl. Phys. Lett. 81, 4434 (2002).
13. S. Maat, K. Takano, S. S. P. Parkin, and E. E. Fullerton, Phys. Rev. Lett. 87, 087202 (2001).
14. Ch. Binek, A. Hochstrat, and W. Kleemann, Phys. Status Solidi A 189, 575 (2002).
15. F. Garcia, J. Moritz, F. Ernult, S. Auffret, B. Rodmacq, B. Dieny, J. Camarero, Y. Pennec, S. Pizzini, and J. Vogel, IEEE Trans. Magn. 38, 2730 (2002).
16. F. Garcia, F. Fettar, S. Auffret, B. Rodmacq, and B. Dieny, J. Appl. Phys. 93, 8397 (2003).
17. F. Garcia, J. Sort, B. Rodmacq, S. Auffret, and B. Dieny, Appl. Phys. Lett. 83, 3537 (2003).
18. N. Nishimura, T. Hirai, A. Koganei, T. Ikeda. and K. Okano, J. Appl. Phys. 91, 5246 (2002).
19. A. Moser, K. Takano, D. T. Margulies, M. Albrecht, Y. Sonobe, Y. Ikeda, S. Sun, and E. E. Fullerton, J. Phys. D 35, R157 (2000).
20. K. Y. Guslienko, S. B. Choe, and S. C. Shin, Appl. Phys. Lett. 76, 3609 (2000).
21. S. Landis, B. Rodmacq, and B. Dieny, Phys. Rev. B 62, 12271 (2000).
22. J. I. Martín, J. Nogués, K. Liu, J. L. Vincent, and I. K. Schuller, J. Magn. Magn. Mater. 256, 449 (2003).
23. M. T. Johnson, P. J. H. Bloemen, F. J. A. den Breeder, and J. J. de Vries, Rep. Prog. Phys. 59, 1409 (1996).
24. D. Mauri, H. C. Siegmann, P. S. Bagus, and E. Kay, J. Appl. Phys. 62, 3047 (1987).
25. A. P. Malozemoff, Phys. Rev. B 35, 3679 (1987).
26. P. Miltényi, M. Gierlings, J. Keller, B. Beschoten, G. Güntherodt, U. Nowak, and K. D. Usadel, Phys. Rev. Lett. 84, 4224 (2000).
27. S. Zhang and Z. Li, Phys. Rev. B 65, 054406 (2001).
28. K. Liu, S. M. Baker, M. Touminen, T. P. Russell, and I. K. Schuller, Phys. Rev. B 63, 060403(R) (2001).
29. F. Huang, M. T. Kief, G. J. Mankey, and R. F. Willis, Phys. Rev. B 49, 3962 (1994).
30. W. H. Zhong, C. Q. Sun, B. K. Tay, S. Li, H. L. Bai, and E. Y. Jiang, J. Phys.: Condens. Matter 14, L399 (2002).
31. Y. J. Tang, D. J. Smith, B. L. Zink, F. Hellman, and A. ′E. Berkowitz, Phys. Rev. B 67, 054408 (2003).
32. F. B≥dker and S. Moørup, Europhys. Lett. 52, 217 (2000).
33. S. Soeya, S. Nakamura, T. Imagawa, and S. Narishige, J. Appl. Phys. 77, 5838 (1995).
34. T. Ambrose and C. L. Chien, J. Appl. Phys. 83, 6822 (1998).