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Volumn 44, Issue 2, 1997, Pages 157-163

Ballistic-electron-emission microscopy at epitaxial metal/semiconductor interfaces

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BEEM; BEES; CoSi2; Si(100); Si(111)

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EID: 25344468287     PISSN: 00408808     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (3)

References (30)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.