Dependence of the discharge characteristics and efficacy on the base vacuum level for a high-efficiency PDP

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 47, Issue 2, 2005, Pages 371-374

  Kwon, Sang Jik ^a   Jang, Chan Kyu ^a  

^a Gachon University   (South Korea)

Author keywords

Base vacuum level; PDP; Sealing; Vacuum in line

Indexed keywords

EID: 24644509736     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

References (13)

1. J. Kang, O. D. Kim, W. G. Jean and J. W. Song, J. Korean Phys. Soc. 37, 854 (2000).
2. M. Noh, Y. Yi and K. Jeong, J. Korean Phys. Soc. 42 631 (2003).
3. S. J. Kwon, K. C. Hong, J. H. Sung, C. H. Lee, K. W. Whang, C. K. Yoon and J. D. Lee, J. Korean Phys. Soc. 37, 247 (2000).
4. S. J. Kwon, H. C. Yang and K. W. Whang, J. Vac. Sci. Tech. A 21, 206 (2003).
5. G. Oversluizen, S. Zwart, M. F. Gillies, T. Dekker and T. J. Vink, Microelectronics J. 35, 319 (2004).
6. H. Uchiike, K. Miura, N. Nakayama, T. Shinoda and Y. Fukushima, IEEE Trans. Electron. Dev. 23, 1211 (1976).
7. J. H. Shin and C. H. Park, J. KIEEME 15, 909 (2002).
8. E. H. Choi, H. J. Oh, Y. G. Kim, J. J. Ko, J. Y. Lim, J. G. Kim, D. I. Kim, G. S. Cho and S. O. Kang, Jpn. J. Appl. Phys. 37, 7015 (1998).
9. A. Saito, T. Maeda, M. Tone, T. Shiga and S.Mikoshiba, SID04 Digest, 210 (2004).
10. Z. N. Yu, J. W. Seo, S. J. Yu and D. X. Zheng, J. Sun, Surf, and Coatings Tech. 162, 11, (2002).
11. J. H. Shin and C. H. Park, J. KIEEME 15, 909 (2002).
12. J. E. Heo, Y. K. Kim, M. N. Hur, Y. G. Kim and C. H. Park, IMID'01 Digest, 441 (2001).
13. W. E. Ahearn, IBM J. Res. Dev. 22, 622 (1978).