Preparation of alkanethiol monolayers on mild steel surfaces studied with sum frequency generation and electrochemistry

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 109, Issue 32, 2005, Pages 15520-15530

  Zhang, Hongping ^a   Romero, Casey ^a   Baldelli, Steven ^a  

^a University of Houston   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTROCHEMICAL IMPEDANCE (EIS); METHYL GROUP; MILD STEELS; SUM FREQUENCY GENERATION (SFG);

CYCLIC VOLTAMMETRY; ELECTROCHEMICAL ELECTRODES; ELECTROCHEMISTRY; METALLIC FILMS; MONOLAYERS; POLARIZATION; SPECTRUM ANALYSIS; STEEL; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

PARAFFINS;

EID: 24344477102     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp052807p     Document Type: Article

References (89)

1. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y. T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152.
2. Kim, Y. T.; McCarley, R. L.; Bard, A. J. J. Phys. Chem. 1992, 96, 7416.
3. Fenter, P.; Eberhardt, A.; Eisenberger, P. Science 1994, 266, 1216.
4. McDermott, C. A.; McDemott, M. T.; Green, J. B.; D., P. M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 13257.
5. Sigal, G. B.; Bamdad, C.; Barberis, A.; Strominger, J.; Whitesides, G. M. Anal. Chem. 1996, 68, 490.
6. Poirier, G. E. Langmuir 1997, 13, 2019.
7. Ron, H.; Cohen, H.; Matlis, S.; Rappaport, M.; Rubinstein, I. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 9861.
8. Byloos, M.; Al-Maznai, H.; Morin, M. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 6554.
9. Zhang, H. P.; Luo, J.; Huang, H. G.; Wu, L. L.; Lin, Z. H. Chem. Phys. Lett. 2000, 326, 169.
10. Duan, L.; Garrett, S. J. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 9812.
11. Liu, D.; Szulczewski, G. J.; Kispert, L. D.; Primak, A.; Moore, T. A.; Moore, A. L.; Gust, D. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2933.
12. Yang, X.; Perry, S. S. Langmuir 2003, 19, 6135.
13. Ulman, A. Chem. Rev. 1996, 96, 1533.
14. Lavrich, D. J.; Wetterer, S. M.; Bernasek, S. L.; Scoles, G. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 3456.
15. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 1990.
16. Childs, W. R.; Nuzzo, R. G. Langmuir 2005, 21, 195.
17. Schlenoff, J. B.; Li, M.; Ly, H. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 12528.
18. Walczak, M. M.; Chung, C.; Stole, S. M.; Widrig, C. A.; Porter, M. D. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 2370.
19. Osawa, M.; Matsuda, N.; Yoshii, K.; Uchida, I. J. Phys. Chem. 1994, 98, 12702.
20. Lang, P.; Mekhalif, Z.; Rat, B.; Garnier, F. J. Electroanal. Chem. 1998, 441, 83.
21. Brito, R.; Tremont, R.; Cabrera, C. R. J. Electroanal. Chem. 2004, 574, 15.
22. Li, Z.; Chang, S.-C.; Williams, R. S. Langmuir 2003, 19, 6744.
23. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 9022.
24. Jennings, G. K.; Yong, T. H.; Munro, J. C.; Laibinis, P. E. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 2950.
25. Volmer, M.; Stratmann, M.; Viefhaus, H. Surf. Interface Anal. 1990, 16, 278.
26. Volmer-Uebing, M.; Stratmann, M. Appl. Surf. Sci. 1992, 55, 19.
27. Kataby, G.; Prozorov, T.; Koltypin, Y.; Cohen, H.; Sukenik, C. N.; Ulman, A.; Gedanken, A. Langmuir 1997, 13, 6151.
28. Grundmeier, G.; Reinartz, C.; Rohwerder, M.; Stratmann, M. Electrochim. Acta 1998, 43, 165.
29. Nozawa, N.; Aramaki, K. Corros. Sci. 1999, 41, 57.
30. Ruan, C. M.; Bayer, T.; Meth, S.; Sukenik, C. N. Thin Solid Films 2002, 419, 95.
31. Whelan, C. M.; Barnes, C. J.; Walker, C. G. H.; Brown, N. M. D. Surf. Sci. 1999, 425, 195.
32. Whelan, C. M.; Smyth, M. R.; Barnes, C. J. Langmuir 1999, 15, 116.
33. Barner, B. J.; Corn, R. M. Langmuir 1990, 6, 1023.
34. Anderson, M. R.; Gatin, M. Langmuir 1994, 10, 1638.
35. Shon, Y. S.; Colorado, R.; Williams, C. T.; Bain, C. D.; Lee, T. R. Langmuir 2000, 16, 541.
36. Hirose, C.; Akamatsu, N.; Domen, K. J. Chem. Phys. 1992, 96, 997.
37. Hirose, C.; Yamamoto, H.; Akamatsu, N.; Domen, K. J. Phys. Chem. 1993, 97, 10064.
38. Ward, R. N.; Davies, P. B.; Bain, C. D. J. Phys. Chem. 1993, 97, 7141.
39. Ward, R. N.; Duffy, D. C.; Davies, P. B.; Bain, C. D. J. Phys. Chem. 1994, 98, 8536.
40. Hines, M. A.; Todd, J. A.; Guyot-Sionnest, P. Langmuir 1995, 11, 493.
41. Bain, C. D. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1995, 91, 1281.
42. Bell, G. R.; Bain, C. D.; Ward, R. N. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1996, 92, 515.
43. Duffy, D. C.; Friedmann, A.; Boggis, S. A.; Klenerman, D. Langmuir 1998, 14, 6518.
44. Tanaka, Y.; Lin, S.; Aono, M.; Suzuki, T. Appl. Phys. B 1999, 68, 713.
45. Zhuang, X.; Miranda, P. B.; Kim, D.; Shen, Y. R. Phys. Rev. B 1999, 59, 12632.
46. Baldelli, S.; Markovic, N.; Ross, P. N.; Shen, Y. R.; Somorjai, G. A. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 8920.
47. Himmelhaus, M.; Disert, F.; Buck, M.; Grunze, M. J. Phys. Chem. 2000, 104, 576.
48. Buck, M.; Himmelhaus, M. J. Vac. Sci. Technol., A 2001, 19, 2717.
49. Baldelli, S.; Mailhot, G.; Ross, P. N.; Somorjai, G. A. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 7697.
50. Watry, M. R.; Richmond, G. L. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 12517.
51. Chou, K. C.; Kim, J.; Baldelli, S.; Somorjai, G. A. J. Electroanal. Chem. 2003, 554-555, 253.
52. Baldelli, S. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 6148.
53. Rivera-Rubero, S.; Baldelli, S. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 15133.
54. Rivera-Rubero, S.; Baldelli, S. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 11788.
55. Maechling, C. R.; Kliner, D. A. V.; Klenerman, D. Appl. Spectrosc. 1993, 47, 167.
56. Westerberg, S.; Wang, C.; Chou, K.; Somorjai, G. A. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 6374.
57. Feller, M. B.; Chen, W.; Shen, Y. R. Phys. Rev A 1991, 43, 6778.
58. Miranda, P. B.; Shen, Y. R. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 3292.
59. Wei, X.; Hong, S.; Zhuang, X.; Shen, Y. R. 2000.
60. Bell, G. R.; Li, Z. X.; Bain, C. D. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 9461.
61. Braun, R.; Casson, B. D.; Bain, C. D. J. Chem. Phys. 1999, 110, 4634.
62. Hirose, C.; Akamatsu, N.; Domen, K. Appl. Spectrosc. 1992, 46, 1051.
63. Janek, R. P.; Fawcett, W. R.; Ulman, A. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 8550.
64. Protsailo, L. V.; Fawcett, W. R. Electrochim. Acta 2000, 45, 3497.
65. Subramanian, R.; Lakshminarayanan, V. Electrochim. Acta 2000, 45, 4501.
66. Schweiss, R.; Werner, C.; Knoll, W. J. Electroanal. Chem. 2003, 540, 145.
67. Finklea, H. O. In Electroanalytical Chemistry, A series of Advances; Bard, A. J., Rubinstein, I., Eds.; Marcel Dekker: New York, 1996; Vol. 19; pp 166-167.
68. Hsu, C. H.; Mansfeld, F. Corrosion 2001, 57, 747.
69. Harris, A. L.; Chidseg, C. E. D.; Levinos, N. J.; N., L. D. Chem. Phys. Lett. 1987, 141, 350.
70. Bain, C. D.; Davies, P. B.; Ong, T. H.; Ward, R. N.; Brown, M. A. Langmuir 1991, 7, 1563.
71. Campion, A. Annu. Rev. Phys. Chem. 1985, 36, 549.
72. Sellers, H.; Ulman, A.; Shnidman, Y.; Eilers, J. E. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 9389.
73. Feng, Y. Q.; Teo, W. K.; Siow, K. S.; Gao, Z. Q.; Tan, K. L.; K., H. A. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 55.
74. Ma, H. Y.; Yang, C.; Chen, S. H.; Jiao, Y. L.; Huang, S. X.; Li, D. G.; Luo, J. L. Electrochim. Acta 2003, 48, 4277.
75. Dubois, L. H.; Nuzzo, R. G. Annu. Rev. Phys. Chem. 1992, 43, 437.
76. Love, J. C.; Estroff, L. A.; Kriebel, J. K.; Nuzzo, R. G.; Whitesides, G. M. Chem. Rev. 2005, 105, 1103.
77. Dreesen, L.; Humbert, C.; Celebi, M.; Lemaire, J. J.; Mani, A. A.; Thiry, P. A.; Peremans, A. Appl. Phys. B 2002, 74, 621.
78. Davis, J. R. Surface Engineering for Corrosion and Wear Resistance; ASM International: Materials Park, OH, 2001.
79. Dean, J. A. Lange's Handbook of Chemistry; McGraw-Hill: New York, 1992.
80. Weast, R. C. CRC Handbook of Chemistry and Physics; CRC Press: Boca Raton, FL, 1984.
81. Handbook of Optical Constants of Solids; Palik, E. D., Ed.; Academic Press: San Diego, CA, 1998.
82. Bunker, P. R. Molecular symmetry and spectroscopy; Academic: New York, 1970.
83. Wilson, E. B.; Decius, J. C.; Cross, P. C. Molecular vibrations: McGraw-Hill: New York, 1955.
84. Snyder, R. G. J. Chem. Phys. 1965, 42, 1744.
85. Gough, K. M.; Murphy, W. F. J. Chem. Phys. 1987, 87, 3341.
86. McHale, J. L. Molecular Spectroscopy; Prentice Hall: Englewood Cliffs, New Jersey, 1999.
87. Demtroder, W. Laser Spectroscopy; Springer: New York, 1996
88. Nishi, N.; Hobara, D.; Yamamoto, M.; Kakiuchi, T. J. Chem. Phys 2003, 118, 1904.
89. Herzberg, G. Molecular spectra and molecular structure; D. Var Nostrand Company: New York, 1945.