Comportement mécanique des films minces sous contrainte de compression : Phénomène de cloquage

Vide: Science, Technique et Applications

Volumn 3 4, Issue 301, 2001, Pages 594-610

  Coupeau, C ^a  

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Adhesion; Atomic force microscopy; Buckling; Internal stresses; Thin films

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EID: 17644411529     PISSN: 12660167     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

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