The efficiency of light-emitting electrochemical cells

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 109, Issue 12, 2005, Pages 6020-6024

  Pachler, Peter ^a   Wenzl, Franz P ^a,d   Scherf, Ullrich ^b   Leising, Günther ^c,d  

^a GRAZ UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Austria)

^b UNIVERSITY OF WUPPERTAL   (Germany)

^c AT&S Austria Technologie & Systemtechnik Aktiengesellschaft   (Austria)

^d JOANNEUM RESEARCH   (Austria)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CURRENT DENSITY; ELECTROLYTES; ETHERS; LIGHT EMITTING DIODES; ORGANIC CONDUCTORS; QUENCHING; SEMICONDUCTOR DOPING; SEMICONDUCTOR JUNCTIONS;

DEVICE EFFICIENCY; LIGHT-EMITTING ELECTROCHEMICAL CELLS (LEC); LUMINANCE QUENCHING EFFECTS; ORGANIC LIGHT-EMITTING DIODES (OLED);

ELECTROCHEMISTRY;

EID: 17144378209     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp045695v     Document Type: Article

References (39)

1. Friend, R. H.; Gymer, R. W.; Holmes, A. B.; Burroughes, J. H.; Marks, R. N.; Taliani, C.; Bradley, D. D. C.; Dos Santos, D. A.; Bredas, J. L.; Lögdlund, M.; Salaneck, W. R. Nature 1999, 397, 121.
2. Grem, G.; Leditzky, G.; Ullrich, B.; Lelsing, G. Adv. Mater. 1992, 4, 36.
3. Benmansour, H.; Shioya, T.; Sato, Y.; Bazan, G. C. Adv. Funct. Mater. 2003, 13, 883.
4. Culligan, S. W.; Geng, Y.; Chen, S. H.; Klubek, K.; Vaeth, K. M.; Tang, C. W. Adv. Mater. 2003, 15, 1176.
5. Pei, Q.; Yu, G.; Zhang, C.; Yang, Y.; Heeger, A. J. Science 1995, 269, 1086.
6. Pei, Q.; Yang, Y.; Yu, G.; Zhang, C.; Heeger, A. J. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 3922.
7. Yang, C.; Sun, Q.; Qiao, J.; Li, Y. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 12981.
8. Gao, J.; Dane, J. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 3027.
9. deMello, J. C.; Tessler, N.; Graham, S. C.; Friend, R. H. Phys. Rev. B 1998, 57, 12951.
10. deMello, J. C. Phys. Rev. B 2002, 66, 235210.
11. Manzanares, J. A.; Reiss, H.; Heeger, A. J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 4327.
12. Gao, J.; Li, Y.; Yu, G.; Heeger, A. J. J. Appl. Phys. 1999, 86, 4594.
13. Yu, G.; Cao, Y.; Andersson, M.; Gao, J.; Heeger, A. J. Adv. Mater. 1998, 10, 385.
14. Cao, Y.; Pei, Q.; Andersson, M. R.; Yu, G.; Heeger, A. J. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, L317.
15. Edman, L.; Moses, D.; Heeger, A. J. Synth. Met. 2003, 138, 441.
16. Kervella, Y.; Armand, M.; Stéphan, O. J. Electrochem. Soc. 2001, 148, H155.
17. Wenzl, F. P.; Pachler, P.; Tasch, S.; Somitsch, D.; Knoll, P.; Scherf, U.; Annan, K. O.; Leising, G. Synth. Met. 2001, 121, 1735.
18. Wenzl, F. P.; Suess, C.; Pachler, P.; Haase, A.; List, E. J. W.; Poelt, P.; Somitsch, D.; Knoll, P.; Scherf, U.; Leising, G. Solid State Ionics 2004, 169, 161.
19. Wenzl, F. P.; Pachler, P.; Suess, C.; Haase, A.; List, E. J. W.; Poelt, P.; Somitsch, D.; Knoll, P.; Scherf, U.; Leising, G. Adv. Funct. Mater. 2004, 14, 441.
20. Wenzl, F. P.; Suess, C.; Haase, A.; Poelt, P.; Somitsch, D.; Knoll, P.; Scherf, U.; Leising, G. Thin Solid Films 2003, 433, 263.
21. Tasch, S.; Niko, A.; Leising, G.; Scherf, U. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 1090.
22. Sampietro, M.; Sotgiu, R.; Wenzl, F. P.; Holzer, L.; Tasch, S.; Leising, G. Phys. Rev. B 2000, 61, 266.
23. Greenwald, Y.; Hide, F.; Heeger, A. J. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, L 241.
24. Greenwald, Y.; Hide, F.; Gao, J.; Wudl, F.; Heeger, A. J. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, L 70.
25. Yang, C.; He, G.; Sun, Q.; Li, Y. Synth. Met. 2001, 124, 449.
26. Park, C. H.; Kim, D. W.; Prakash, J.; Sun, Y. K. Solid State Ionics 2003, 159, 111.
27. Campbell, I. H.; Smith, D. L.; Neef, C. J.; Ferraris, J. P. Appl. Phys. Lett. 1998, 72, 2565.
28. Edman, L.; Pauchard, M.; Moses, D.; Heeger, A. J. J. Appl. Phys. 2004, 95, 4357.
29. Gao, J.; Yu, G.; Heeger, A. J. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 1293.
30. Bliznyuk, V.; Ruhstaller, B.; Brock, P. J.; Scherf, U.; Carter, S. A. Adv. Mater. 1999, 11, 1257.
31. Shen, Y.; Hosseini, A. R.; Wong, M. H.; Malliaras, G. G. ChemPhysChem 2004, 5, 16.
32. Gao, J.; Heeger, A. J.; Campbell, I. H.; Smith, D. L. Phys. Rev. B 1999, 59, R2482.
33. Moderegger, E.; Wenzl, F. P.; Tasch, S.; Leising, G.; Scherf, U.; Annan, K. O. Adv. Mater. 2000, 12, 825.
34. Tasch, S.; Kranzelbinder, G.; Leising, G.; Scherf, U. Phys. Rev. B 1997, 55, 5079.
35. Graupner, W.; Cerullo, G.; Lanzani, G.; Nisoli, M.; List, E. J. W.; Leising, G.; De Silvestri, S. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 3259.
36. Malliaras, G. G.; Scott, J. C. J. Appl. Phys. 1995, 85, 7426.
37. Kalinowski, J.; Palilis, L. C.; Kim, W. H.; Kafafi, Z. H. J. Appl. Phys. 2003, 94, 7764.
38. Haugeneder, A.; Neges, M.; Kallinger, C.; Spirkl, W.; Lemmer, U.; Feldmann, J.; Scherf, U.; Harth, E.; Gügel, A.; Müllen, K. Phys. Rev. B 1999, 59, 15346.
39. Dick, D. J.; Heeger, A. J.; Yang, Y.; Pei, Q. Adv. Mater. 1996, 8, 985.