An aromaticity scale based on the topological analysis of the electron localization function including σ and π contributions

Journal of Chemical Theory and Computation

Volumn 1, Issue 1, 2005, Pages 83-86

  Santos, Juan C ^c   Andres, Juan ^a   Aizman, Arie ^c   Fuentealba, Patricio ^b  

^a UNIVERSITAT JAUME I   (Spain)

^b UNIVERSITY OF CHILE   (Chile)

^c DEPARTAMENTO DE FÍSICA   (Chile)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 16644389175     PISSN: 15499618     EISSN: 15499626     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ct0499276     Document Type: Article

References (41)

1. Zhou, Z.; Parr, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 7371.
2. Minkin, V. I.; Glukhovtev, M. N.; Simkin, B. Y. Aromaticity and Antiaromaticty, Electronic and Structural Aspects; John Wiley and Sons: New York, 1994.
3. Katritzky, A. R.; Karelson, M.; Sild, S.; Krygowski, T. M.; Jug, K. J. Org. Chem. 1998, 63, 5228.
4. Schleyer, P. v. R.; Freeman, P. K.; Jiao, H.; Goldfuss, B. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 1995, 16, 337.
5. Schleyer, P. v. R.; Maerker, C.; Dransfeld, A.; Jiao, H.; Hommes, N. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 6317.
6. Cyrañski, M.; Krygowski, T.; Katritsky, A.; Schleyer, P. v. R. J. Org. Chem. 2002, 67, 1333.
7. Schleyer, P. v. R.; Manoharan, M.; Wang, Z.; Kiran, B.; Jiao, H.; Puchta, R.; Hommes, N. Org. Lett. 2001, 3, 16, 2465.
8. Schleyer, P.v. R. Chem Rev. 2001, 101, 1115.
9. Fleischer, U.; Kutzelnigg, W.; Lazzeretti, P.; Muhlenkamp, V. J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 5298.
10. Balawander, R.; Komorowsky, L.; De Proft, F.; Geerlings, P. J. Phys. Chem. A 1998, 102, 9912.
11. De Proft, F.; Geerlings, P. Chem. Rev. 2001, 101, 1451.
12. Poater, J.; Fradera, X.; Duran, M.; Sola, M. Chem. Eur. J. 2003, 9, 400.
13. Poater, J.; Fradera, X.; Duran, M.; Sola, M. Chem. Eur. J. 2003, 9, 1113.
14. Chesnut, D. B.; Bartolotti, L. J. Chem. Phys. 2000, 253, 1.
15. Fuster, F.; Savin, A.; Silvi, B. J. Phys. Chem. A 2000, 104, 852.
16. Sakai, S. J. Phys. Chem. A 2002, 106, 10370.
17. Sakai, S. J. Phys. Chem. A 2002, 106, 11526.
18. Rassat, A. Phys. Chem. Chem. Phys. 2004, 6, 232.
19. Lazzeretti, P. Phys. Chem. Chem. Phys. 2004, 6, 217.
20. Steiner, V.; Fowler, P. W. Phys. Chem. Chem. Phys. 2004, 6, 261.
21. Krygowski, T. M.; Cyranski, M. K. Chem. Rev. 2001, 101, 1385.
22. Ritter, S. Chem. Eng. News 2003, 81, 23.
23. Kuznetsov, A.; Birch, K.; Boldyrev, A.; Li, X.; Zhai, H.; Wang, L. Science 2003, 300, 622.
24. Chen, Z.; Corminboeuf, C.; Heine, T.; Bohmann, J.; Schleyer, P. v. R. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 13930.
25. Kruszewski, J.; Krygowski, T. M. Tetrahedron Lett. 1972, 3839.
26. Krygowski, T. M.; Cyranski, M. K. Tetrahedron 1996, 52, 1713.
27. Silvi, B.; Savin, A. Nature 1994, 371, 683.
28. Becke, A.; Edgecombe, K. J. Chem. Phys. 1990, 92, 5397.
29. Silvi, B. Phys. Chem. Chem. Phys. 2004, 6, 256.
30. Santos, J. C.; Tiznado, W.; Contreras, R.; Fuentealba, P. J Chem. Phys. 2004, 120, 1670.
31. Savin, A.; Silvi, B.; Colonna, F. Can. J. Chem. 1996, 74, 1088.
32. Savin, A.; Becke, A.; Flad, D.; Nesper, R.; Preuss, H.; Schnering, H. V. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 1991, 30, 409.
33. Vij, A.; Pavlovich, J.; Wilson, W.; Vij, V.; Christie, K. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 2002, 41, 16.
34. Wu, H.; Jiao, H.; Wang, Z.; Scheleyer, P. v. R. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 4428.
35. Li, X.; Kuznetsov, A.; Zhang, H.; Boldyrev, A.; Wang, L. Science 2001, 291, 859.
36. Kuznetsov, A.; Boldyrev, A.; Li, X.; Wang, L. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 8825.
37. Boldyrev, A.; Kuznetsov, A. Inorg. Chem. 2002, 41, 532.
38. Zhan, C.; Zheng, F.; Dixon, D. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 14795.
39. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Zakrzewski, V. G.; Montgomery, J. A.; Stratmann, R. E. Jr.; Burant, J. C.; Dapprich, S.; Millam, J. M.; Daniels, A. D.; Kudin, K. N.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Tomasi, J.; Barone, V.; Cossi, M.; Cammi, R.; Mennucci, B.; Pomelli, C.; Adamo, C.; Clifford, S.; Ochterski, J.; Petersson, G. A.; Ayala, P. Y.; Cui, Q.; Morokuma, K.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Cioslowski, J.; Ortiz, J. V.; Baboul, A. G.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Gomperts, R.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Andres, J. L.; Gonzalez, C.; Head-Gordon, M.; Replogle, E. S.; Pople, J. A. Gaussian 98, Revision A.9; Gaussian Inc.; Pittsburgh, PA, 1998.
40. Noury, S.; Krokidis, X.; Fuster, F.; Silvi, B. TopMoD Package; Universite Pierre et Marie Curie, 1997.
41. Hibbard, B.; Kellum, J.; Paul, B. Vis5d 5.1, Visualization Project; University of Winsconsin-Madison Space Science and Engineering Center (SSEC); B. Hibbard and D. Santek, Proc. IEEE Visualization '90, 1990; p 129.