Comparative X-ray standing wave analysis of metal-phosphonate multilayer films of dodecane and porphyrin molecular square

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 109, Issue 4, 2005, Pages 1441-1450

  Libera, Joseph A ^a   Gurney, Richard W ^b,d   Schwartz, Craig ^b   Jin, Hua ^a   Lee, Tien Lin ^c   Nguyen, Sonbinh T ^b   Hupp, Joseph T ^b   Bedzyk, Michael J ^a  

^a Northwestern University   (United States)

^b NORTHWESTERN UNIVERSITY   (United States)

^c EUROPEAN SYNCHROTRON RADIATION FACILITY   (France)

^d SIMMONS COLLEGE   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

PHOSPHONIC ACID; X RAY FLUORESCENCE (XRF); X RAY REFLECTIVITY (XRR); X RAY STANDING WAVES (XSW);

FLUORESCENCE; MICROSTRUCTURE; MIRRORS; MONOLAYERS; NANOSTRUCTURED MATERIALS; ORGANIC ACIDS; ORGANIC SOLVENTS; PORPHYRINS; THIN FILMS; X RAY ANALYSIS;

MULTILAYERS;

1,12 DODECANEDIYLBIS(PHOSPHONIC ACID); 1,12-DODECANEDIYLBIS(PHOSPHONIC ACID); ALKANE; DODECANE; HAFNIUM; N-DODECANE; PHOSPHONIC ACID DERIVATIVE; PORPHYRIN; RHENIUM; ZIRCONIUM;

ARTICLE; ARTIFICIAL MEMBRANE; CHEMISTRY; COMPARATIVE STUDY; SPECTROSCOPY; X RAY;

ALKANES; HAFNIUM; MEMBRANES, ARTIFICIAL; PHOSPHONIC ACIDS; PORPHYRINS; RHENIUM; SPECTRUM ANALYSIS; X-RAYS; ZIRCONIUM;

EID: 13444252486     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp0457038     Document Type: Article

References (26)

1. Williams, M. E.; Hupp, J. T. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 8944-8950.
2. Zwahlen, M.; Tosatti, S.; Textor, M.; Hahner, G. Langmuir 2002, 18, 3957-3962.
3. Czaplewski, K. F.; Hupp, J. T.; Snurr, R. Q. Adv. Mater. 2001, 13, 1895-1897.
4. Zhang, J. L.; Williams, M. E.; Keefe, M. H.; Morris, G. A.; Nguyen, S. T.; Hupp, J. T. Electrochem. Solid State Lett. 2002, 5, E25-E28.
5. Merlau, M. L.; Mejia, M. D. P.; Nguyen, S. T.; Hupp, J. T. Angew. Chem.-Int. Ed. 2001, 40, 4239-4242.
6. Mines, G. A.; Tzeng, B. C.; Stevenson, K. J.; Li, J. L.; Hupp, J. T. Angew. Chem.-Int. Ed. 2002, 41, 154-157.
7. Keefe, M. H.; Denkstein, K. D.; Hupp, J. T. Coord. Chem. Rev. 2000, 205, 201-228.
8. Yan, S. G.; Prieskorn, J. S.; Kim, Y. J.; Hupp, J. T. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 10871-10877.
9. Clearfield, A.; Wang, Z. K. J. Chem. Soc., Dalton Trans. 2002, 2937-2947.
10. Milic, T.; Garno, J. C.; Batteas, J. D.; Smeureanu, G.; Drain, C. M. Langmuir 2004, 20, 3974-3983.
11. Putvinski, T. M.; Schilling, M. L.; Katz, H. E.; Chidsey, C. E. D.; Mujsce, A. M.; Emerson, A. B. Langmuir 1990, 6, 1567-1571.
12. Schilling, M. L.; Katz, H. E.; Stein, S. M.; Shane, S. F.; Wilson, W. L. ; Buratto, S.; Ungashe, S. B.; Taylor, G. N.; Putvinski, T. M.; Chidsey, C. E. D. Langmuir 1993, 9, 2156-2160.
13. Zeppenfeld, A. C.; Fiddler, S. L.; Ham, W. K.; Klopfenstein, B. J.; Page, C. J. J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 9158-9165.
14. Byrd, H.; Pike, J. K.; Talham, D. R. Chem. Mater. 1993, 5, 709-715.
15. Bedzyk, M. J.; Bommarito, G. M.; Schildkraut, J. S. Phys. Rev. Lett. 1989, 62, 1376-1379.
16. Wang, J.; Bedzyk, M. J.; Penner, T. L.; Caffrey, M. Nature 1991, 354, 377-380.
17. Bedzyk, M. J.; Bilderback, D.; White, J.; Abruna, H. D.; Bommarito, M. G. J. Phys. Chem. 1986, 90, 4926-4928.
18. Bedzyk, M. J.; Bilderback, D. H.; Bommarito, G. M.; Caffrey, M.; Schildkraut, J. S. Science 1988, 241, 1788-1791.
19. Libera, J. A.; Gurney, R. W.; Nguyen, S. T.; Hupp, J. T.; Liu, C.; Conley, R.; Bedzyk, M. J. Langmuir 2004, 20, 8022-8029.
20. Horne, J. C.; Blanchard, G. J. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 6336-6344.
21. Gurney, R. W.; Massar, A. M.; Libera, J. A.; Schwartz, C. P.; Paoprasert, P.; Bailey, R. C.; Jin, H.; Morris, K. F.; Wightman, M. D.; Bedzyk, M. J.; Nguyen, S. T.; Hupp, J. T. unpublished observation.
22. Bedzyk, M. J.; Bommarito, G. M.; Caffrey, M.; Penner, T. L. Science 1990, 248, 52-56.
23. Puri, S.; Chand, B.; Mehta, D.; Garg, M. L.; Singh, N.; Trehan, P. N. At. Data Nucl. Data Tables 1995, 61, 289-311.
24. Parratt, L. G. Phys. Rev. 1954, 95, 359-369.
25. Bommarito, G. M. Ph.D. Thesis, Cornell University, Ithaca, NY, 1992.
26. Ghose, S. K.; Dev, B. N. Phys. Rev. B 2001, 63, 245409-1-11.