Microdrops on atomic force microscope cantilevers: Evaporation of water and spring constant calibration

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 109, Issue 1, 2005, Pages 253-263

  Bonaccurso, Elmar ^a   Butt, Hans Jürgen ^a  

^a MAX PLANCK INSTITUTE FOR POLYMER RESEARCH   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CALIBRATION; CANTILEVER BEAMS; EVAPORATION; INTERFACES (MATERIALS); LAPLACE TRANSFORMS; STRESS ANALYSIS;

LIQUID INTERFACE; MICRODROPS; NANOMETERS; SOLID SURFACES;

WATER;

EID: 12344283034     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp0471406     Document Type: Article

References (34)

1. Birdi, K. S.; Vu, D. T.; Winter, A. J. Phys. Chem. 1989, 93, 3702-3703.
2. Bourges-Monnier, C.; Shanahan, M. E. R. Langmuir 1995, 11, 2820-2829.
3. Cachile, M.; Benichou, O.; Cazabat, A. M. Langmuir 2002, 18, 7985-7990.
4. Hu, H.; Larson, R. G. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 1334-1344.
5. Picknett, R. G.; Bexon, R. J. Colloid Interface Sci. 1977, 61, 336350.
6. Rowan, S. M.; Newton, M. I.; McHale, G. J. Phys. Chem. 1995, 99, 13268-13271.
7. Rowan, S. M.; McHale, G.; Newton, M. I.; Toomeman, M. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 1265-1267.
8. McHale, G.; Rowan, S. M.; Newton, M. I.; Banerjee, M. K. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 1964-1967.
9. Deegan, R. D. Phys. Rev. E 2000, 61, 475-485.
10. Deegan, R. D.; Bakajin, O.; Dupont, T. F.; Huber, G.; Nagel, S. R.; Witten, T. A. Phys. Rev. E 2000, 62, 756-765.
11. Deegan, R. D.; Bakajin, O.; Dupont, T. F.; Huber, G.; Nagel, S. R.; Witten, T. A. Nature 1997, 389, 827-829.
12. Pham, N. T.; McHale, G.; Newton, M. I.; Carroll, B. J.; Rowan, S. M. Langmuir 2004, 20, 841-847.
13. Uno, K.; Hayashi, K.; Hayashi, T.; Ito, K.; Kitano, H. Colloid Polym. Sci. 1998, 276, 810-815.
14. McKenna, L.; Newton, M. I.; McHale, G.; Lucklum, R.; Schroeder, J. J. Appl. Phys. 2001, 89, 676-680.
15. McHale, G.; Erbil, H. Y.; Newton, M. I.; Natterer, S. Langmuir 2001, 17, 6995-6998.
16. Kern, R.; Müller, P. Surf. Sci. 1992, 264, 467-494.
17. White, L. R. J. Colloid Interface Sci. 2003, 258, 82-96.
18. Spaepen, F. J. Mech. Phys. Solids 1996, 44, 675-681.
19. von Bahr, M.; Tiberg, F.; Zhmud, B. Langmuir 2003, 19, 10109-10115.
20. Rioboo, R.; Marengo, M.; Tropea, C. Exp. Fluids 2002, 33, 112-124.
21. Rein, M. Fluid Dyn. Res. 1993, 12, 61-93.
22. Butt, H.-J.; Siedle, P.; Seifert, K.; Fendler, K.; Seeger, T.; Bamberg, E.; Weisenhorn, A. L.; Goldie, K.; Engel, A. J. Micros. (Oxford) 1993, 169, 75-84.
23. Butt, H.-J.; Jaschke, M. Nanotechnology 1995, 6, 1-7.
24. Sarid, D. Scanning Force Microscopy; Oxford University Press: New York, 1991.
25. Cleveland, J. P.; Manne, S.; Bocek, D.; Hansma, P. K. Rev. Sci. Instrum. 1993, 64, 403-405.
26. Stoney, G. G. Proc. R. Soc. London, Ser. A 1909, 82, 172-175.
27. Cappella, B.; Dietler, G. Surf. Sci. Rep. 1999, 34, 1-104.
28. Gould, S. A. C.; Drake, B.; Prater, C. B.; Weisenhorn, A. L.; Manne, S.; Kelderman, G. L.; Butt, H.-J.; Hansma, H.; Hansma, P. K.; Magonov, S.; Cantow, H. J. Ultramicroscopy 1990, 33, 93-98.
29. Preuss, M.; Butt, H.-J. Langmuir 1998, 14, 3164-3174.
30. Hutter, J. L.; Bechhoefer, J. Rev. Sci. Instrum. 1993, 64, 1868-1873.
31. Burnham, N. N.; Chen, X.; Hodges, C. S.; Matei, G. A.; Thoreson, E. J.; Roberts, C. J.; Davies, M. C.; Tendler, S. J. B. Nanotechnology 2003, 14, 1-6.
32. Brenner, H. Chem. Eng. Sci. 1961, 16, 242-251.
33. Chan, D. Y. C.; Horn, R. G. J. Chem. Phys. 1985, 83, 5311-5324.
34. Sader, J. E. J. Appl. Phys. 2001, 89, 2911-2921.