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Volumn 7, Issue 1, 1998, Pages 61-67

Stress analysis in cubic boron nitride films by X-ray diffraction using sin2 ψ method

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EID: 11544289107     PISSN: 10091963     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.