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Volumn 44, Issue 1, 2001, Pages 84-87

Interferometric Methods for Surface Testing. High-Order White-Light Interferometer

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EID: 0442297662     PISSN: 00204412     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1023/A:1004189118571     Document Type: Article
Times cited : (4)

References (10)
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    • Schwider, J., Appl. Opt., 1997, vol. 36, no. 7, p. 1433.
    • (1997) Appl. Opt. , vol.36 , Issue.7 , pp. 1433
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.