Functionalized Nanoparticle Films with Rectifying Conduction Properties

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 107, Issue 50, 2003, Pages 13774-13781

  Reda, Torsten ^a,c   Collings, Anthony F ^a   Barton, Chris ^b   Lukins, Philip ^b  

^a CSIRO   (Australia)

^b UNIVERSITY OF SYDNEY   (Australia)

^c UNIVERSITY OF CAMBRIDGE   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CURRENT VOLTAGE CHARACTERISTICS; DEPOSITION; ELECTRIC CONDUCTIVITY; GRAPHITE; MOLECULAR WEIGHT; NANOSTRUCTURED MATERIALS; SPECTROSCOPY;

ELECTRON ACCEPTORS; SPRAY DEPOSITION;

THIN FILMS;

EID: 0346937227     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp034836a     Document Type: Article

References (43)

1. Aviram, A.; Ratner, M. A. Chem. Phys. Lett. 1974, 29, 277.
2. Ashwell, G. J.; Sambles, J. R.; Martin, A. S.; Parker, W. G.; Szablewski, M. J. Chem. Soc. - Chem. Commun. 1990, 19, 1374.
3. Martin, A. S.; Sambles, J. R.; Ashwell, G. J. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 218.
4. Metzger, R. M.; Chen, B.; Hopfner, U.; Lakshmikantham, M. V.; Vuillaume, D.; Kawai, T.; Wu, X. L.; Tachibana, H.; Hughes, T. V.; Sakurai, H.; Baldwin, J. W.; Hosch, C.; Cava, M. P.; Brehmer, L.; Ashwell, G. J. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 10455.
5. Metzger, R. M. Synth. Met. 2001, 124, 107.
6. Ashwell, G. J.; Gandolfo, D. S. J. Mater. Chem. 2001, 11, 246.
7. Ashwell, G. J.; Gandolfo, D. S.; Hamilton, R. J. Mater. Chem. 2002, 12, 416.
8. Ashwell, G. J.; Gandolfo, D. S. J. Mater. Chem. 2002, 12, 411.
9. Baldwin, J. W.; Amaresh, R. R.; Peterson, I. R.; Shumate, W. J.; Cava, M. P.; Amiri, M. A.; Hamilton, R.; Ashwell, G. J.; Metzger, R. M. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 12158.
10. Ashwell, G. J.; Paxton, G. A. N. Aust. J. Chem. 2002, 55, 199.
11. Okazaki, N.; Sambles J. R.; Jory, M. J.; Ashwell, G. J. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 2300.
12. Metzger, R. M.; Baldwin, J. W.; Shumate, W. J.; Peterson, I. R.; Mani, P.; Mankey, G. J.; Morris, T.; Szulczewski, G.; Bosi, S.; Prato, M.; Commito, A.; Rubin, Y. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 1021.
13. Reichert, J.; Ochs, R.; Beckmann, D.; Weber, H. B.; Mayor, M.; von Lohneysen, H. Phys. Rev. Lett. 2002, 88, 176804.
14. Chen, J.; Reed, M. A.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M. Science 1999, 286, 1550.
15. Pope, M.; Swenber, C. E. Electronic Processes in Organic Crystals and Polymers; Oxford University Press: Oxford, 1999.
16. Garnier, F.; Hajlaoui, R.; Yassar, A.; Srivastava, P. Science 1994, 265, 1684.
17. Patel, N. K.; Cina, S.; Burroughes, J. H. IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 2002, 8, 346.
18. Fischer, C. M.; Burghard, M.; Roth, S. Synth. Met. 1995, 71, 1975.
19. Fischer, C. M.; Burghard, M.; Roth, S.; von Klitzing, K. Surf. Sci. 1996, 362, 905.
20. Chabinyc, M. L.; Chen, X. X.; Holmlin, R. E.; Jacobs, H.; Skulason, H.; Frisbie, C. D.; Mujica, V.; Ratner, M. A.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 11730.
21. McConnell, W. P.; Novak, J. P.; Brousseau, L. C.; Fuierer, R. R.; Tenent, R. C.; Feldheim, D. L. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 8925.
22. Uosaki, K. Electrochemistry 1999, 67, 1105.
23. Martin, J. E.; Wilcoxon, J. P.; Odinek, J.; Provencio, P. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 9475.
24. He, H. X.; Zhang, H.; Li, Q. G.; Zhu, T.; Li, S. F. Y.; Liu, Z. F. Langmuir 2000, 16, 3846.
25. Fuller, S. B.; Wilhelm, E. J.; Jacobson J. M. J. Microelectromech. Syst. 2002, 11, 54.
26. Turkevich, J.; Stevenson, P. C.; Hillier, J. Discuss. Faraday Soc. 1951, 11, 55.
27. Frens, G. Nature Phys. Sci. 1973, 241, 20.
28. Creighton, J. A.; Blatchford, G. C.; Albrecht, M. G. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 2 1979, 75, 790.
29. Lee, P. C.; Meisel, D. P. J. Phys. Chem. 1982, 86, 3391.
30. Rodriguez-Gattorno, G.; Diaz, D.; Rendon, L.; Hernandez-Segura, G. O. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2482.
31. Tsutsumi, H.; Furumoto, S.; Morita, M.; Matsuda, Y. J. Colloid Interface Sci. 1995, 71, 505.
32. Müller, K. H.; Herrmann. J.; Raguse, B.; Baxter, G.; Reda, T. Phys. Rev. B 2002, 66, 075417.
33. Klusek, Z. Appl. Surf. Sci. 1997, 108, 405.
34. Colton, R. J.; Baker, S. M.; Driscoll, R. J.; Younquist, M. G.; Baldeschwieler, J. D.; Kaiser, W. J. J. Vac. Sci. Technol. A 1988, 6, 349.
35. Lambe, J.; Jaklevic, R. C. Phys. Rev. 1968, 165, 821.
36. Metzger, R. M. J. Mater. Chem. 2000, 10, 55.
37. Metzger, R. M.; Xu, T.; Peterson, I. R. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 7280.
38. Caro, J.; Fraxedas, J.; Figueras, A. Chem. Vapor Deposition 1997, 3, 263.
39. Nakamura, T.; Isotalo, H.; Akutagawa, T.; Tachibana, H.; Azumi, R.; Matsumoto, M.; Horiuchi, S.; Yamochi, H.; Saito, G. Thin Solid Films 1996, 285, 508.
40. Raguse, B.; Herrmann, J.; Stevens, G.; Myers, J.; Baxter, G.; Müller, K. H.; Reda, T.; Molodyk, A.; Braach-Maksvytis, V. J. Nanoparticle Res. 2002, 4, 137.
41. O'Kane, S. A.; Clerac, R.; Zhao, H. H.; Xiang, O. Y.; Galan-Mascaros, J. R.; Heintz, R.; Dunbar, K. R. J. Solid State Chem. 2000, 152, 159.
42. Potember, R. S.; Poehler, T. O.; Cowan, D. O. Appl. Phys. Lett. 1979, 34, 405.
43. Snook, G. Investigation of Solid-State Reactions by Electrochemical and Quartz Crystal Microbalance Measurements. Ph.D. Thesis, Dept. of Chemistry, Monash University, Melbourne, Australia, 2000.