-
2
-
-
0037084676
-
-
Félidj, N.; Aubard, J.; Lévi, G.; Krenn, J. R.; Salerno, M.; Schider, G.; Lamprecht, B.; Leitner, A.; Aussenegg, F. R. Phys. Rev. B 2002, 65, 075419.
-
(2002)
Phys. Rev. B
, vol.65
, pp. 075419
-
-
Félidj, N.1
Aubard, J.2
Lévi, G.3
Krenn, J.R.4
Salerno, M.5
Schider, G.6
Lamprecht, B.7
Leitner, A.8
Aussenegg, F.R.9
-
5
-
-
0001536175
-
-
Sanchez, E. J.; Novotny, L.; Xie, X. S. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 4014.
-
(1999)
Phys. Rev. Lett.
, vol.82
, pp. 4014
-
-
Sanchez, E.J.1
Novotny, L.2
Xie, X.S.3
-
6
-
-
0035797869
-
-
Maier, S. A.; Brongersma, M. L.; Kik, P. G.; Meltzer, S.; Requicha, A. A. G.; Atwater, H. A. Adv. Mater. 2001, 13, 1501.
-
(2001)
Adv. Mater.
, vol.13
, pp. 1501
-
-
Maier, S.A.1
Brongersma, M.L.2
Kik, P.G.3
Meltzer, S.4
Requicha, A.A.G.5
Atwater, H.A.6
-
7
-
-
18344378820
-
-
Krenn, J. R.; Dereux, A.; Weeber, J. C.; Bourillot, E., Lacroute, Y.; Goudonnet, J. P.; Schider, G.; Gotschy, W.; Leitner, A.; Aussenegg, F. R.; Girard, C. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 2590.
-
(1999)
Phys. Rev. Lett.
, vol.82
, pp. 2590
-
-
Krenn, J.R.1
Dereux, A.2
Weeber, J.C.3
Bourillot, E.4
Lacroute, Y.5
Goudonnet, J.P.6
Schider, G.7
Gotschy, W.8
Leitner, A.9
Aussenegg, F.R.10
Girard, C.11
-
8
-
-
0002224782
-
-
Maier, S. A.; Brongersma, M. L.; Atwater, H. A. Appl. Phys. Lett. 2001, 78, 16.
-
(2001)
Appl. Phys. Lett.
, vol.78
, pp. 16
-
-
Maier, S.A.1
Brongersma, M.L.2
Atwater, H.A.3
-
9
-
-
0001557535
-
-
Quinten, M.; Krenn, J. R.; Aussenegg, F. R. Optics Lett. 1998, 23, 1331.
-
(1998)
Optics Lett.
, vol.23
, pp. 1331
-
-
Quinten, M.1
Krenn, J.R.2
Aussenegg, F.R.3
-
10
-
-
0041352964
-
-
Haynes, C. L.; McFarland, A. D.; Zhao, L.; Van Duyne, R. P.; Schatz, G. C.; Gunnarsson, L.; Prikulis, J.; Kasemo, B.; Kall, M. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 7337.
-
(2003)
J. Phys. Chem. B
, vol.107
, pp. 7337
-
-
Haynes, C.L.1
McFarland, A.D.2
Zhao, L.3
Van Duyne, R.P.4
Schatz, G.C.5
Gunnarsson, L.6
Prikulis, J.7
Kasemo, B.8
Kall, M.9
-
12
-
-
0347899827
-
-
Sönnichsen, C.; Geier, S.; Hecker, N. E.; Von Plessen, G.; Feldmann, J.; Ditlbacher, H.; Lamprecht, B.; Krenn, J. R.; Aussenegg, F. R.; Chan, V. Z-H.; Spatz, J. P.; Möller, M. Applied Physics Lett. 2000, 77, 2949.
-
(2000)
Applied Physics Lett.
, vol.77
, pp. 2949
-
-
Sönnichsen, C.1
Geier, S.2
Hecker, N.E.3
Von Plessen, G.4
Feldmann, J.5
Ditlbacher, H.6
Lamprecht, B.7
Krenn, J.R.8
Aussenegg, F.R.9
Chan, V.Z.-H.10
Spatz, J.P.11
Möller, M.12
-
13
-
-
0344110559
-
-
Jin, R.; Cao, Y.; Mirkin, C. A.; Kelly, K. L.; Schatz, G. C.; Zheng, J. G. Science 2001, 294.
-
(2001)
Science
, vol.294
-
-
Jin, R.1
Cao, Y.2
Mirkin, C.A.3
Kelly, K.L.4
Schatz, G.C.5
Zheng, J.G.6
-
14
-
-
0345404513
-
-
Mock, J. J.; Barbic M.; Smith D. R.; Schultz, D. A.; Schultz, S. J. Chem. Phys. 2002, 116, 2755.
-
(2002)
J. Chem. Phys.
, vol.116
, pp. 2755
-
-
Mock, J.J.1
Barbic, M.2
Smith, D.R.3
Schultz, D.A.4
Schultz, S.5
-
15
-
-
0001404911
-
-
Klar, T.; Perner, M.; Grosse, S.; Von Plessen, G.; Spirkl, W.; Feldmann, J. Phys. Rev. Lett. 1998, 80, 4249.
-
(1998)
Phys. Rev. Lett.
, vol.80
, pp. 4249
-
-
Klar, T.1
Perner, M.2
Grosse, S.3
Von Plessen, G.4
Spirkl, W.5
Feldmann, J.6
-
16
-
-
0032516947
-
-
Hamann, H. F.; Gallagher, A.; Nesbitt, D. J. App. Phys. Lett. 1998, 73, 1469.
-
(1998)
App. Phys. Lett.
, vol.73
, pp. 1469
-
-
Hamann, H.F.1
Gallagher, A.2
Nesbitt, D.J.3
-
19
-
-
0035963785
-
-
Higgins, D. A.; Liao, X. M.; Hall, J. E.; Mei, E. W. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 5874.
-
(2001)
J. Phys. Chem. B
, vol.105
, pp. 5874
-
-
Higgins, D.A.1
Liao, X.M.2
Hall, J.E.3
Mei, E.W.4
-
20
-
-
0642375848
-
-
Vanden Bout, D. A.; Kerimo, J.; Higgins, D. A.; Barbara, P. F. Acc. Chem. Res. 1997, 30, 204.
-
(1997)
Acc. Chem. Res.
, vol.30
, pp. 204
-
-
Vanden Bout, D.A.1
Kerimo, J.2
Higgins, D.A.3
Barbara, P.F.4
-
22
-
-
0036570916
-
-
Hranisavljevic, J.; Dimitrijevic, N. M.; Wurtz, G. A.; Wiederrecht, G. P. J. Am Chem. Soc. 2002, 124, 4536.
-
(2002)
J. Am Chem. Soc.
, vol.124
, pp. 4536
-
-
Hranisavljevic, J.1
Dimitrijevic, N.M.2
Wurtz, G.A.3
Wiederrecht, G.P.4
-
24
-
-
0034833182
-
-
Kometani, N.; Tsubonishi, M.; Fujita, T.; Asami, K.; Yonezawa, Y. Langmuir 2001, 17, 578.
-
(2001)
Langmuir
, vol.17
, pp. 578
-
-
Kometani, N.1
Tsubonishi, M.2
Fujita, T.3
Asami, K.4
Yonezawa, Y.5
-
28
-
-
0031700083
-
-
Madrazo, A.; Carminati, R.; Nieto-Vesperinas, M.; Greffet J. J. J. Opt. Soc. Am. A 1998, 15, 109.
-
(1998)
J. Opt. Soc. Am. a
, vol.15
, pp. 109
-
-
Madrazo, A.1
Carminati, R.2
Nieto-Vesperinas, M.3
Greffet, J.J.4
-
29
-
-
0345404512
-
-
note
-
This distance is directly obtained from the line by line sequential recording of the AFM signal at h = 0 nm and the NSOM signal at any given height h (Lift Mode from DI). This mode of operation also ensures that the tip to sample separation is preserved during the recording of the image, compensating for any piezoelectric actuator drift.
-
-
-
-
33
-
-
0037868904
-
-
Maier, S. A.; Kik, P. G.; Atwater, H. A.; Meltzer, S.; Harel, E.; Koel, B. E.; Requicha, A. A. G. Nature Mater. 2003, 2, 229.
-
(2003)
Nature Mater.
, vol.2
, pp. 229
-
-
Maier, S.A.1
Kik, P.G.2
Atwater, H.A.3
Meltzer, S.4
Harel, E.5
Koel, B.E.6
Requicha, A.A.G.7
-
34
-
-
23544434794
-
-
Maier, S. A.; Brongersma, M. L.; Kik, P. G.; Atwater, H. A. Phys. Rev. B 2002, 65, 19348.
-
(2002)
Phys. Rev. B
, vol.65
, pp. 19348
-
-
Maier, S.A.1
Brongersma, M.L.2
Kik, P.G.3
Atwater, H.A.4
|