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Volumn 12, Issue 9, 1997, Pages 1147-1153

Simulation of impact ionization breakdown in MESFETS using Monte Carlo methods

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EID: 0342641051     PISSN: 02681242     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0268-1242/12/9/014     Document Type: Article
Times cited : (5)

References (19)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.