-
3
-
-
33645573216
-
-
Xu H., Makishima K., Fukazawa Y., Ikebe Y., Kikuchi K., Ohashi T., Tamura T. Astrophys. J. 500:1998;738.
-
(1998)
Astrophys. J.
, vol.500
, pp. 738
-
-
Xu, H.1
Makishima, K.2
Fukazawa, Y.3
Ikebe, Y.4
Kikuchi, K.5
Ohashi, T.6
Tamura, T.7
-
4
-
-
0033228185
-
-
Ikebe Y., Makishima K., Fukzawa Y., Tamura T., Xu H., Ohashi T., Matsushita K. Astrophys. J. 525:1999;58.
-
(1999)
Astrophys. J.
, vol.525
, pp. 58
-
-
Ikebe, Y.1
Makishima, K.2
Fukzawa, Y.3
Tamura, T.4
Xu, H.5
Ohashi, T.6
Matsushita, K.7
-
6
-
-
0033732929
-
-
Irwin K.D., Hilton G.C., Martinis J.M., Deiker S., Bergren N., Nam S.W., Rudman D.A., Wollman D.A. NIMA. 444:2000;184.
-
(2000)
NIMA
, vol.444
, pp. 184
-
-
Irwin, K.D.1
Hilton, G.C.2
Martinis, J.M.3
Deiker, S.4
Bergren, N.5
Nam, S.W.6
Rudman, D.A.7
Wollman, D.A.8
-
8
-
-
0029327546
-
-
Irwin K.D., Nam S.W., Cabrera B., Chugg B., Park G.S., Welty R.P., Martinis J.M. IEEE. Trans. Appl. Supercond. 5:1995;2690.
-
(1995)
IEEE. Trans. Appl. Supercond.
, vol.5
, pp. 2690
-
-
Irwin, K.D.1
Nam, S.W.2
Cabrera, B.3
Chugg, B.4
Park, G.S.5
Welty, R.P.6
Martinis, J.M.7
-
9
-
-
0242601457
-
-
H. Kudo, Y. Yokoyama, S. Shoji, Y. Aruga, R. Fujimoto, K. Mitsuda, T. Miyazaki, Proc. 2nd Int. Symp. Electrochem. Microsys. Technol. (1998) 122.
-
(1998)
Proc. 2nd Int. Symp. Electrochem. Microsys. Technol.
, pp. 122
-
-
Kudo, H.1
Yokoyama, Y.2
Shoji, S.3
Aruga, Y.4
Fujimoto, R.5
Mitsuda, K.6
Miyazaki, T.7
-
10
-
-
0033332398
-
-
Kudo H., Yokoyama Y., Shoji S., Oshima T., Aruga Y., Maegami K., Fujimoto R., Miyazaki T., Mitsuda K. Proc. SPIE Design Characterization. Packaging MEMS Microelectron. 3893:1999;241.
-
(1999)
Proc. SPIE Design Characterization. Packaging MEMS Microelectron.
, vol.3893
, pp. 241
-
-
Kudo, H.1
Yokoyama, Y.2
Shoji, S.3
Oshima, T.4
Aruga, Y.5
Maegami, K.6
Fujimoto, R.7
Miyazaki, T.8
Mitsuda, K.9
-
11
-
-
0342323887
-
-
Mitsuda K., Fujimoto R., Miyazaki T., Maegami K., Aruga Y., Oshima T., Nakayama S., Shoji S., Kudo H., Yokoyama Y., Mihara T., Shimizu H.M. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 436:1999;252.
-
(1999)
Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A
, vol.436
, pp. 252
-
-
Mitsuda, K.1
Fujimoto, R.2
Miyazaki, T.3
Maegami, K.4
Aruga, Y.5
Oshima, T.6
Nakayama, S.7
Shoji, S.8
Kudo, H.9
Yokoyama, Y.10
Mihara, T.11
Shimizu, H.M.12
-
12
-
-
0033734126
-
-
Fujimoto R., Mitsuda K., Miyazaki T., Maegami K., Aruga Y., Oshima T., Yamazaki M., Shoji S., Kudo H., Yokoyama Y., Mihara T., Shimizu H.M. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 444:2000;180.
-
(2000)
Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A
, vol.444
, pp. 180
-
-
Fujimoto, R.1
Mitsuda, K.2
Miyazaki, T.3
Maegami, K.4
Aruga, Y.5
Oshima, T.6
Yamazaki, M.7
Shoji, S.8
Kudo, H.9
Yokoyama, Y.10
Mihara, T.11
Shimizu, H.M.12
-
13
-
-
0038029922
-
-
Kudo H., Yokoyama Y., Shoji S., Mitsuda K., Fujimoto R., Miyazaki T., Oshima T., Yamazaki M., Iyomoto N., Futamoto K., Ishisaki Y., Kagei T. Proc. SPIE Micromachin. Microfabricat. 4230:2000;58.
-
(2000)
Proc. SPIE Micromachin. Microfabricat.
, vol.4230
, pp. 58
-
-
Kudo, H.1
Yokoyama, Y.2
Shoji, S.3
Mitsuda, K.4
Fujimoto, R.5
Miyazaki, T.6
Oshima, T.7
Yamazaki, M.8
Iyomoto, N.9
Futamoto, K.10
Ishisaki, Y.11
Kagei, T.12
-
14
-
-
0038706682
-
-
Kudo H., Sato H., Nakamura T., Goto E., Shoji S., Homma T., Osaka T., Mitsuda K., Fujimoto R., Iyomoto N., Audley M.D., Miyazaki T., Oshima T., Yamazaki M., Futamoto K., Takei Y., Ishisaki Y., Kagei T., Hiroike T., Ohashi T., Yamasaki N.Y., Kushino A., Kuroda Y., Onishi M., Goto M. Proc. Low Temperature Detectors. 605:2002;235.
-
(2002)
Proc. Low Temperature Detectors
, vol.605
, pp. 235
-
-
Kudo, H.1
Sato, H.2
Nakamura, T.3
Goto, E.4
Shoji, S.5
Homma, T.6
Osaka, T.7
Mitsuda, K.8
Fujimoto, R.9
Iyomoto, N.10
Audley, M.D.11
Miyazaki, T.12
Oshima, T.13
Yamazaki, M.14
Futamoto, K.15
Takei, Y.16
Ishisaki, Y.17
Kagei, T.18
Hiroike, T.19
Ohashi, T.20
Yamasaki, N.Y.21
Kushino, A.22
Kuroda, Y.23
Onishi, M.24
Goto, M.25
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