Increasing Detectivity of Polarization Modulation Infrared Reflection-Absorption Spectroscopy for the Study of Ultrathin Films Deposited on Various Substrates

Applied Spectroscopy

Volumn 57, Issue 10, 2003, Pages 1260-1265

  Saccani, J ^a   Buffeteau, T ^a   Desbat, B ^a   Blaudez, D ^b  

^a UNIVERSITÉ DE BORDEAUX   (France)

^b UMR 5798   (France)

Author keywords

Infrared reflection absorption spectroscopy; Infrared spectroscopy; IRRAS; Polarization modulation; Ultrathin films

Indexed keywords

ABSORPTION SPECTROSCOPY; POLARIZATION; ULTRATHIN FILMS;

POLARIZATION MODULATION;

INFRARED SPECTROSCOPY;

ARTICLE; INFRARED SPECTROSCOPY; METHODOLOGY; SEMICONDUCTOR; SENSITIVITY AND SPECIFICITY; SURFACE PROPERTY;

SEMICONDUCTORS; SENSITIVITY AND SPECIFICITY; SPECTROSCOPY, FOURIER TRANSFORM INFRARED; SURFACE PROPERTIES;

EID: 0242364216     PISSN: 00037028     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1366/000370203769699135     Document Type: Article

References (27)

1. T. Wadayama, K. Monma, and W. Suetaka, J. Phys. Chem. 87, 3181 (1983); K. Kunimatsu, H. Seki, and W. G. Golden, Chem. Phys. Lett. 108, 195 (1984); A. Hatta, T. Wadayama, and W. Suetaka, Anal. Sci. 1, 403 (1985); K. Kunimatsu, H. Seki, W. G. Golden, J. G. Gordon, and M. R. Philpott, Langmuir 4, 337 (1988); T. Buffeteau, B. Desbat, and J. M. Turlet, Appl. Spectrosc. 45, 380 (1991); D. Blaudez, T. Buffeteau, B. Desbat, M. Orrit, and J. M. Turlet, Thin Solid Films 210/211, 648 (1992); R. V. Duevel, R. M. Corn, M. D. Liu, and C. R. Leidner, J. Phys. Chem. 96, 468 (1992); M. R. Anderson, M. N. Evaniak, and M. Zhang, Langmuir 12, 2327 (1996); S. Payan, B. Desbat, C. Destrade, and H. T. Nguyen, Langmuir 12, 6627 (1996); R. Colorado, R. J. Villazana, and T. R. Lee, Langmuir 14, 6337 (1998); V. M. Bermudez, Thin Solid Films 347, 195 (1999); Y.-S. Shon and T. R. Lee, J. Phys. Chem. B 104, 8182 (2000); A. G. Frutos, J. M. Brockman, and R. M. Corn, Langmuir 16, 2192 (2000); S. L. Horswell, V. Zamlynny, H. Q. Li, A. R. Merrill, and J. Lipkowski, Faraday Discuss. 121, 405 (2002); V. Zamlynny, I. Zawisza, and J. Lipkowski, Langmuir 19, 132 (2003); A. J. Williams and V. K. Gupta, Thin Solid Films 423, 228 (2003).
2. T. Wadayama, K. Monma, and W. Suetaka, J. Phys. Chem. 87, 3181 (1983); K. Kunimatsu, H. Seki, and W. G. Golden, Chem. Phys. Lett. 108, 195 (1984); A. Hatta, T. Wadayama, and W. Suetaka, Anal. Sci. 1, 403 (1985); K. Kunimatsu, H. Seki, W. G. Golden, J. G. Gordon, and M. R. Philpott, Langmuir 4, 337 (1988); T. Buffeteau, B. Desbat, and J. M. Turlet, Appl. Spectrosc. 45, 380 (1991); D. Blaudez, T. Buffeteau, B. Desbat, M. Orrit, and J. M. Turlet, Thin Solid Films 210/211, 648 (1992); R. V. Duevel, R. M. Corn, M. D. Liu, and C. R. Leidner, J. Phys. Chem. 96, 468 (1992); M. R. Anderson, M. N. Evaniak, and M. Zhang, Langmuir 12, 2327 (1996); S. Payan, B. Desbat, C. Destrade, and H. T. Nguyen, Langmuir 12, 6627 (1996); R. Colorado, R. J. Villazana, and T. R. Lee, Langmuir 14, 6337 (1998); V. M. Bermudez, Thin Solid Films 347, 195 (1999); Y.-S. Shon and T. R. Lee, J. Phys. Chem. B 104, 8182 (2000); A. G. Frutos, J. M. Brockman, and R. M. Corn, Langmuir 16, 2192 (2000); S. L. Horswell, V. Zamlynny, H. Q. Li, A. R. Merrill, and J. Lipkowski, Faraday Discuss. 121, 405 (2002); V. Zamlynny, I. Zawisza, and J. Lipkowski, Langmuir 19, 132 (2003); A. J. Williams and V. K. Gupta, Thin Solid Films 423, 228 (2003).
3. T. Wadayama, K. Monma, and W. Suetaka, J. Phys. Chem. 87, 3181 (1983); K. Kunimatsu, H. Seki, and W. G. Golden, Chem. Phys. Lett. 108, 195 (1984); A. Hatta, T. Wadayama, and W. Suetaka, Anal. Sci. 1, 403 (1985); K. Kunimatsu, H. Seki, W. G. Golden, J. G. Gordon, and M. R. Philpott, Langmuir 4, 337 (1988); T. Buffeteau, B. Desbat, and J. M. Turlet, Appl. Spectrosc. 45, 380 (1991); D. Blaudez, T. Buffeteau, B. Desbat, M. Orrit, and J. M. Turlet, Thin Solid Films 210/211, 648 (1992); R. V. Duevel, R. M. Corn, M. D. Liu, and C. R. Leidner, J. Phys. Chem. 96, 468 (1992); M. R. Anderson, M. N. Evaniak, and M. Zhang, Langmuir 12, 2327 (1996); S. Payan, B. Desbat, C. Destrade, and H. T. Nguyen, Langmuir 12, 6627 (1996); R. Colorado, R. J. Villazana, and T. R. Lee, Langmuir 14, 6337 (1998); V. M. Bermudez, Thin Solid Films 347, 195 (1999); Y.-S. Shon and T. R. Lee, J. Phys. Chem. B 104, 8182 (2000); A. G. Frutos, J. M. Brockman, and R. M. Corn, Langmuir 16, 2192 (2000); S. L. Horswell, V. Zamlynny, H. Q. Li, A. R. Merrill, and J. Lipkowski, Faraday Discuss. 121, 405 (2002); V. Zamlynny, I. Zawisza, and J. Lipkowski, Langmuir 19, 132 (2003); A. J. Williams and V. K. Gupta, Thin Solid Films 423, 228 (2003).
4. T. Wadayama, K. Monma, and W. Suetaka, J. Phys. Chem. 87, 3181 (1983); K. Kunimatsu, H. Seki, and W. G. Golden, Chem. Phys. Lett. 108, 195 (1984); A. Hatta, T. Wadayama, and W. Suetaka, Anal. Sci. 1, 403 (1985); K. Kunimatsu, H. Seki, W. G. Golden, J. G. Gordon, and M. R. Philpott, Langmuir 4, 337 (1988); T. Buffeteau, B. Desbat, and J. M. Turlet, Appl. Spectrosc. 45, 380 (1991); D. Blaudez, T. Buffeteau, B. Desbat, M. Orrit, and J. M. Turlet, Thin Solid Films 210/211, 648 (1992); R. V. Duevel, R. M. Corn, M. D. Liu, and C. R. Leidner, J. Phys. Chem. 96, 468 (1992); M. R. Anderson, M. N. Evaniak, and M. Zhang, Langmuir 12, 2327 (1996); S. Payan, B. Desbat, C. Destrade, and H. T. Nguyen, Langmuir 12, 6627 (1996); R. Colorado, R. J. Villazana, and T. R. Lee, Langmuir 14, 6337 (1998); V. M. Bermudez, Thin Solid Films 347, 195 (1999); Y.-S. Shon and T. R. Lee, J. Phys. Chem. B 104, 8182 (2000); A. G. Frutos, J. M. Brockman, and R. M. Corn, Langmuir 16, 2192 (2000); S. L. Horswell, V. Zamlynny, H. Q. Li, A. R. Merrill, and J. Lipkowski, Faraday Discuss. 121, 405 (2002); V. Zamlynny, I. Zawisza, and J. Lipkowski, Langmuir 19, 132 (2003); A. J. Williams and V. K. Gupta, Thin Solid Films 423, 228 (2003).
5. T. Wadayama, K. Monma, and W. Suetaka, J. Phys. Chem. 87, 3181 (1983); K. Kunimatsu, H. Seki, and W. G. Golden, Chem. Phys. Lett. 108, 195 (1984); A. Hatta, T. Wadayama, and W. Suetaka, Anal. Sci. 1, 403 (1985); K. Kunimatsu, H. Seki, W. G. Golden, J. G. Gordon, and M. R. Philpott, Langmuir 4, 337 (1988); T. Buffeteau, B. Desbat, and J. M. Turlet, Appl. Spectrosc. 45, 380 (1991); D. Blaudez, T. Buffeteau, B. Desbat, M. Orrit, and J. M. Turlet, Thin Solid Films 210/211, 648 (1992); R. V. Duevel, R. M. Corn, M. D. Liu, and C. R. Leidner, J. Phys. Chem. 96, 468 (1992); M. R. Anderson, M. N. Evaniak, and M. Zhang, Langmuir 12, 2327 (1996); S. Payan, B. Desbat, C. Destrade, and H. T. Nguyen, Langmuir 12, 6627 (1996); R. Colorado, R. J. Villazana, and T. R. Lee, Langmuir 14, 6337 (1998); V. M. Bermudez, Thin Solid Films 347, 195 (1999); Y.-S. Shon and T. R. Lee, J. Phys. Chem. B 104, 8182 (2000); A. G. Frutos, J. M. Brockman, and R. M. Corn, Langmuir 16, 2192 (2000); S. L. Horswell, V. Zamlynny, H. Q. Li, A. R. Merrill, and J. Lipkowski, Faraday Discuss. 121, 405 (2002); V. Zamlynny, I. Zawisza, and J. Lipkowski, Langmuir 19, 132 (2003); A. J. Williams and V. K. Gupta, Thin Solid Films 423, 228 (2003).
6. T. Wadayama, K. Monma, and W. Suetaka, J. Phys. Chem. 87, 3181 (1983); K. Kunimatsu, H. Seki, and W. G. Golden, Chem. Phys. Lett. 108, 195 (1984); A. Hatta, T. Wadayama, and W. Suetaka, Anal. Sci. 1, 403 (1985); K. Kunimatsu, H. Seki, W. G. Golden, J. G. Gordon, and M. R. Philpott, Langmuir 4, 337 (1988); T. Buffeteau, B. Desbat, and J. M. Turlet, Appl. Spectrosc. 45, 380 (1991); D. Blaudez, T. Buffeteau, B. Desbat, M. Orrit, and J. M. Turlet, Thin Solid Films 210/211, 648 (1992); R. V. Duevel, R. M. Corn, M. D. Liu, and C. R. Leidner, J. Phys. Chem. 96, 468 (1992); M. R. Anderson, M. N. Evaniak, and M. Zhang, Langmuir 12, 2327 (1996); S. Payan, B. Desbat, C. Destrade, and H. T. Nguyen, Langmuir 12, 6627 (1996); R. Colorado, R. J. Villazana, and T. R. Lee, Langmuir 14, 6337 (1998); V. M. Bermudez, Thin Solid Films 347, 195 (1999); Y.-S. Shon and T. R. Lee, J. Phys. Chem. B 104, 8182 (2000); A. G. Frutos, J. M. Brockman, and R. M. Corn, Langmuir 16, 2192 (2000); S. L. Horswell, V. Zamlynny, H. Q. Li, A. R. Merrill, and J. Lipkowski, Faraday Discuss. 121, 405 (2002); V. Zamlynny, I. Zawisza, and J. Lipkowski, Langmuir 19, 132 (2003); A. J. Williams and V. K. Gupta, Thin Solid Films 423, 228 (2003).
7. T. Wadayama, K. Monma, and W. Suetaka, J. Phys. Chem. 87, 3181 (1983); K. Kunimatsu, H. Seki, and W. G. Golden, Chem. Phys. Lett. 108, 195 (1984); A. Hatta, T. Wadayama, and W. Suetaka, Anal. Sci. 1, 403 (1985); K. Kunimatsu, H. Seki, W. G. Golden, J. G. Gordon, and M. R. Philpott, Langmuir 4, 337 (1988); T. Buffeteau, B. Desbat, and J. M. Turlet, Appl. Spectrosc. 45, 380 (1991); D. Blaudez, T. Buffeteau, B. Desbat, M. Orrit, and J. M. Turlet, Thin Solid Films 210/211, 648 (1992); R. V. Duevel, R. M. Corn, M. D. Liu, and C. R. Leidner, J. Phys. Chem. 96, 468 (1992); M. R. Anderson, M. N. Evaniak, and M. Zhang, Langmuir 12, 2327 (1996); S. Payan, B. Desbat, C. Destrade, and H. T. Nguyen, Langmuir 12, 6627 (1996); R. Colorado, R. J. Villazana, and T. R. Lee, Langmuir 14, 6337 (1998); V. M. Bermudez, Thin Solid Films 347, 195 (1999); Y.-S. Shon and T. R. Lee, J. Phys. Chem. B 104, 8182 (2000); A. G. Frutos, J. M. Brockman, and R. M. Corn, Langmuir 16, 2192 (2000); S. L. Horswell, V. Zamlynny, H. Q. Li, A. R. Merrill, and J. Lipkowski, Faraday Discuss. 121, 405 (2002); V. Zamlynny, I. Zawisza, and J. Lipkowski, Langmuir 19, 132 (2003); A. J. Williams and V. K. Gupta, Thin Solid Films 423, 228 (2003).
8. T. Wadayama, K. Monma, and W. Suetaka, J. Phys. Chem. 87, 3181 (1983); K. Kunimatsu, H. Seki, and W. G. Golden, Chem. Phys. Lett. 108, 195 (1984); A. Hatta, T. Wadayama, and W. Suetaka, Anal. Sci. 1, 403 (1985); K. Kunimatsu, H. Seki, W. G. Golden, J. G. Gordon, and M. R. Philpott, Langmuir 4, 337 (1988); T. Buffeteau, B. Desbat, and J. M. Turlet, Appl. Spectrosc. 45, 380 (1991); D. Blaudez, T. Buffeteau, B. Desbat, M. Orrit, and J. M. Turlet, Thin Solid Films 210/211, 648 (1992); R. V. Duevel, R. M. Corn, M. D. Liu, and C. R. Leidner, J. Phys. Chem. 96, 468 (1992); M. R. Anderson, M. N. Evaniak, and M. Zhang, Langmuir 12, 2327 (1996); S. Payan, B. Desbat, C. Destrade, and H. T. Nguyen, Langmuir 12, 6627 (1996); R. Colorado, R. J. Villazana, and T. R. Lee, Langmuir 14, 6337 (1998); V. M. Bermudez, Thin Solid Films 347, 195 (1999); Y.-S. Shon and T. R. Lee, J. Phys. Chem. B 104, 8182 (2000); A. G. Frutos, J. M. Brockman, and R. M. Corn, Langmuir 16, 2192 (2000); S. L. Horswell, V. Zamlynny, H. Q. Li, A. R. Merrill, and J. Lipkowski, Faraday Discuss. 121, 405 (2002); V. Zamlynny, I. Zawisza, and J. Lipkowski, Langmuir 19, 132 (2003); A. J. Williams and V. K. Gupta, Thin Solid Films 423, 228 (2003).
9. T. Wadayama, K. Monma, and W. Suetaka, J. Phys. Chem. 87, 3181 (1983); K. Kunimatsu, H. Seki, and W. G. Golden, Chem. Phys. Lett. 108, 195 (1984); A. Hatta, T. Wadayama, and W. Suetaka, Anal. Sci. 1, 403 (1985); K. Kunimatsu, H. Seki, W. G. Golden, J. G. Gordon, and M. R. Philpott, Langmuir 4, 337 (1988); T. Buffeteau, B. Desbat, and J. M. Turlet, Appl. Spectrosc. 45, 380 (1991); D. Blaudez, T. Buffeteau, B. Desbat, M. Orrit, and J. M. Turlet, Thin Solid Films 210/211, 648 (1992); R. V. Duevel, R. M. Corn, M. D. Liu, and C. R. Leidner, J. Phys. Chem. 96, 468 (1992); M. R. Anderson, M. N. Evaniak, and M. Zhang, Langmuir 12, 2327 (1996); S. Payan, B. Desbat, C. Destrade, and H. T. Nguyen, Langmuir 12, 6627 (1996); R. Colorado, R. J. Villazana, and T. R. Lee, Langmuir 14, 6337 (1998); V. M. Bermudez, Thin Solid Films 347, 195 (1999); Y.-S. Shon and T. R. Lee, J. Phys. Chem. B 104, 8182 (2000); A. G. Frutos, J. M. Brockman, and R. M. Corn, Langmuir 16, 2192 (2000); S. L. Horswell, V. Zamlynny, H. Q. Li, A. R. Merrill, and J. Lipkowski, Faraday Discuss. 121, 405 (2002); V. Zamlynny, I. Zawisza, and J. Lipkowski, Langmuir 19, 132 (2003); A. J. Williams and V. K. Gupta, Thin Solid Films 423, 228 (2003).
10. T. Wadayama, K. Monma, and W. Suetaka, J. Phys. Chem. 87, 3181 (1983); K. Kunimatsu, H. Seki, and W. G. Golden, Chem. Phys. Lett. 108, 195 (1984); A. Hatta, T. Wadayama, and W. Suetaka, Anal. Sci. 1, 403 (1985); K. Kunimatsu, H. Seki, W. G. Golden, J. G. Gordon, and M. R. Philpott, Langmuir 4, 337 (1988); T. Buffeteau, B. Desbat, and J. M. Turlet, Appl. Spectrosc. 45, 380 (1991); D. Blaudez, T. Buffeteau, B. Desbat, M. Orrit, and J. M. Turlet, Thin Solid Films 210/211, 648 (1992); R. V. Duevel, R. M. Corn, M. D. Liu, and C. R. Leidner, J. Phys. Chem. 96, 468 (1992); M. R. Anderson, M. N. Evaniak, and M. Zhang, Langmuir 12, 2327 (1996); S. Payan, B. Desbat, C. Destrade, and H. T. Nguyen, Langmuir 12, 6627 (1996); R. Colorado, R. J. Villazana, and T. R. Lee, Langmuir 14, 6337 (1998); V. M. Bermudez, Thin Solid Films 347, 195 (1999); Y.-S. Shon and T. R. Lee, J. Phys. Chem. B 104, 8182 (2000); A. G. Frutos, J. M. Brockman, and R. M. Corn, Langmuir 16, 2192 (2000); S. L. Horswell, V. Zamlynny, H. Q. Li, A. R. Merrill, and J. Lipkowski, Faraday Discuss. 121, 405 (2002); V. Zamlynny, I. Zawisza, and J. Lipkowski, Langmuir 19, 132 (2003); A. J. Williams and V. K. Gupta, Thin Solid Films 423, 228 (2003).
11. T. Wadayama, K. Monma, and W. Suetaka, J. Phys. Chem. 87, 3181 (1983); K. Kunimatsu, H. Seki, and W. G. Golden, Chem. Phys. Lett. 108, 195 (1984); A. Hatta, T. Wadayama, and W. Suetaka, Anal. Sci. 1, 403 (1985); K. Kunimatsu, H. Seki, W. G. Golden, J. G. Gordon, and M. R. Philpott, Langmuir 4, 337 (1988); T. Buffeteau, B. Desbat, and J. M. Turlet, Appl. Spectrosc. 45, 380 (1991); D. Blaudez, T. Buffeteau, B. Desbat, M. Orrit, and J. M. Turlet, Thin Solid Films 210/211, 648 (1992); R. V. Duevel, R. M. Corn, M. D. Liu, and C. R. Leidner, J. Phys. Chem. 96, 468 (1992); M. R. Anderson, M. N. Evaniak, and M. Zhang, Langmuir 12, 2327 (1996); S. Payan, B. Desbat, C. Destrade, and H. T. Nguyen, Langmuir 12, 6627 (1996); R. Colorado, R. J. Villazana, and T. R. Lee, Langmuir 14, 6337 (1998); V. M. Bermudez, Thin Solid Films 347, 195 (1999); Y.-S. Shon and T. R. Lee, J. Phys. Chem. B 104, 8182 (2000); A. G. Frutos, J. M. Brockman, and R. M. Corn, Langmuir 16, 2192 (2000); S. L. Horswell, V. Zamlynny, H. Q. Li, A. R. Merrill, and J. Lipkowski, Faraday Discuss. 121, 405 (2002); V. Zamlynny, I. Zawisza, and J. Lipkowski, Langmuir 19, 132 (2003); A. J. Williams and V. K. Gupta, Thin Solid Films 423, 228 (2003).
12. T. Wadayama, K. Monma, and W. Suetaka, J. Phys. Chem. 87, 3181 (1983); K. Kunimatsu, H. Seki, and W. G. Golden, Chem. Phys. Lett. 108, 195 (1984); A. Hatta, T. Wadayama, and W. Suetaka, Anal. Sci. 1, 403 (1985); K. Kunimatsu, H. Seki, W. G. Golden, J. G. Gordon, and M. R. Philpott, Langmuir 4, 337 (1988); T. Buffeteau, B. Desbat, and J. M. Turlet, Appl. Spectrosc. 45, 380 (1991); D. Blaudez, T. Buffeteau, B. Desbat, M. Orrit, and J. M. Turlet, Thin Solid Films 210/211, 648 (1992); R. V. Duevel, R. M. Corn, M. D. Liu, and C. R. Leidner, J. Phys. Chem. 96, 468 (1992); M. R. Anderson, M. N. Evaniak, and M. Zhang, Langmuir 12, 2327 (1996); S. Payan, B. Desbat, C. Destrade, and H. T. Nguyen, Langmuir 12, 6627 (1996); R. Colorado, R. J. Villazana, and T. R. Lee, Langmuir 14, 6337 (1998); V. M. Bermudez, Thin Solid Films 347, 195 (1999); Y.-S. Shon and T. R. Lee, J. Phys. Chem. B 104, 8182 (2000); A. G. Frutos, J. M. Brockman, and R. M. Corn, Langmuir 16, 2192 (2000); S. L. Horswell, V. Zamlynny, H. Q. Li, A. R. Merrill, and J. Lipkowski, Faraday Discuss. 121, 405 (2002); V. Zamlynny, I. Zawisza, and J. Lipkowski, Langmuir 19, 132 (2003); A. J. Williams and V. K. Gupta, Thin Solid Films 423, 228 (2003).
13. T. Wadayama, K. Monma, and W. Suetaka, J. Phys. Chem. 87, 3181 (1983); K. Kunimatsu, H. Seki, and W. G. Golden, Chem. Phys. Lett. 108, 195 (1984); A. Hatta, T. Wadayama, and W. Suetaka, Anal. Sci. 1, 403 (1985); K. Kunimatsu, H. Seki, W. G. Golden, J. G. Gordon, and M. R. Philpott, Langmuir 4, 337 (1988); T. Buffeteau, B. Desbat, and J. M. Turlet, Appl. Spectrosc. 45, 380 (1991); D. Blaudez, T. Buffeteau, B. Desbat, M. Orrit, and J. M. Turlet, Thin Solid Films 210/211, 648 (1992); R. V. Duevel, R. M. Corn, M. D. Liu, and C. R. Leidner, J. Phys. Chem. 96, 468 (1992); M. R. Anderson, M. N. Evaniak, and M. Zhang, Langmuir 12, 2327 (1996); S. Payan, B. Desbat, C. Destrade, and H. T. Nguyen, Langmuir 12, 6627 (1996); R. Colorado, R. J. Villazana, and T. R. Lee, Langmuir 14, 6337 (1998); V. M. Bermudez, Thin Solid Films 347, 195 (1999); Y.-S. Shon and T. R. Lee, J. Phys. Chem. B 104, 8182 (2000); A. G. Frutos, J. M. Brockman, and R. M. Corn, Langmuir 16, 2192 (2000); S. L. Horswell, V. Zamlynny, H. Q. Li, A. R. Merrill, and J. Lipkowski, Faraday Discuss. 121, 405 (2002); V. Zamlynny, I. Zawisza, and J. Lipkowski, Langmuir 19, 132 (2003); A. J. Williams and V. K. Gupta, Thin Solid Films 423, 228 (2003).
14. T. Wadayama, K. Monma, and W. Suetaka, J. Phys. Chem. 87, 3181 (1983); K. Kunimatsu, H. Seki, and W. G. Golden, Chem. Phys. Lett. 108, 195 (1984); A. Hatta, T. Wadayama, and W. Suetaka, Anal. Sci. 1, 403 (1985); K. Kunimatsu, H. Seki, W. G. Golden, J. G. Gordon, and M. R. Philpott, Langmuir 4, 337 (1988); T. Buffeteau, B. Desbat, and J. M. Turlet, Appl. Spectrosc. 45, 380 (1991); D. Blaudez, T. Buffeteau, B. Desbat, M. Orrit, and J. M. Turlet, Thin Solid Films 210/211, 648 (1992); R. V. Duevel, R. M. Corn, M. D. Liu, and C. R. Leidner, J. Phys. Chem. 96, 468 (1992); M. R. Anderson, M. N. Evaniak, and M. Zhang, Langmuir 12, 2327 (1996); S. Payan, B. Desbat, C. Destrade, and H. T. Nguyen, Langmuir 12, 6627 (1996); R. Colorado, R. J. Villazana, and T. R. Lee, Langmuir 14, 6337 (1998); V. M. Bermudez, Thin Solid Films 347, 195 (1999); Y.-S. Shon and T. R. Lee, J. Phys. Chem. B 104, 8182 (2000); A. G. Frutos, J. M. Brockman, and R. M. Corn, Langmuir 16, 2192 (2000); S. L. Horswell, V. Zamlynny, H. Q. Li, A. R. Merrill, and J. Lipkowski, Faraday Discuss. 121, 405 (2002); V. Zamlynny, I. Zawisza, and J. Lipkowski, Langmuir 19, 132 (2003); A. J. Williams and V. K. Gupta, Thin Solid Films 423, 228 (2003).
15. T. Wadayama, K. Monma, and W. Suetaka, J. Phys. Chem. 87, 3181 (1983); K. Kunimatsu, H. Seki, and W. G. Golden, Chem. Phys. Lett. 108, 195 (1984); A. Hatta, T. Wadayama, and W. Suetaka, Anal. Sci. 1, 403 (1985); K. Kunimatsu, H. Seki, W. G. Golden, J. G. Gordon, and M. R. Philpott, Langmuir 4, 337 (1988); T. Buffeteau, B. Desbat, and J. M. Turlet, Appl. Spectrosc. 45, 380 (1991); D. Blaudez, T. Buffeteau, B. Desbat, M. Orrit, and J. M. Turlet, Thin Solid Films 210/211, 648 (1992); R. V. Duevel, R. M. Corn, M. D. Liu, and C. R. Leidner, J. Phys. Chem. 96, 468 (1992); M. R. Anderson, M. N. Evaniak, and M. Zhang, Langmuir 12, 2327 (1996); S. Payan, B. Desbat, C. Destrade, and H. T. Nguyen, Langmuir 12, 6627 (1996); R. Colorado, R. J. Villazana, and T. R. Lee, Langmuir 14, 6337 (1998); V. M. Bermudez, Thin Solid Films 347, 195 (1999); Y.-S. Shon and T. R. Lee, J. Phys. Chem. B 104, 8182 (2000); A. G. Frutos, J. M. Brockman, and R. M. Corn, Langmuir 16, 2192 (2000); S. L. Horswell, V. Zamlynny, H. Q. Li, A. R. Merrill, and J. Lipkowski, Faraday Discuss. 121, 405 (2002); V. Zamlynny, I. Zawisza, and J. Lipkowski, Langmuir 19, 132 (2003); A. J. Williams and V. K. Gupta, Thin Solid Films 423, 228 (2003).
16. T. Wadayama, K. Monma, and W. Suetaka, J. Phys. Chem. 87, 3181 (1983); K. Kunimatsu, H. Seki, and W. G. Golden, Chem. Phys. Lett. 108, 195 (1984); A. Hatta, T. Wadayama, and W. Suetaka, Anal. Sci. 1, 403 (1985); K. Kunimatsu, H. Seki, W. G. Golden, J. G. Gordon, and M. R. Philpott, Langmuir 4, 337 (1988); T. Buffeteau, B. Desbat, and J. M. Turlet, Appl. Spectrosc. 45, 380 (1991); D. Blaudez, T. Buffeteau, B. Desbat, M. Orrit, and J. M. Turlet, Thin Solid Films 210/211, 648 (1992); R. V. Duevel, R. M. Corn, M. D. Liu, and C. R. Leidner, J. Phys. Chem. 96, 468 (1992); M. R. Anderson, M. N. Evaniak, and M. Zhang, Langmuir 12, 2327 (1996); S. Payan, B. Desbat, C. Destrade, and H. T. Nguyen, Langmuir 12, 6627 (1996); R. Colorado, R. J. Villazana, and T. R. Lee, Langmuir 14, 6337 (1998); V. M. Bermudez, Thin Solid Films 347, 195 (1999); Y.-S. Shon and T. R. Lee, J. Phys. Chem. B 104, 8182 (2000); A. G. Frutos, J. M. Brockman, and R. M. Corn, Langmuir 16, 2192 (2000); S. L. Horswell, V. Zamlynny, H. Q. Li, A. R. Merrill, and J. Lipkowski, Faraday Discuss. 121, 405 (2002); V. Zamlynny, I. Zawisza, and J. Lipkowski, Langmuir 19, 132 (2003); A. J. Williams and V. K. Gupta, Thin Solid Films 423, 228 (2003).
17. D. Blaudez, T. Buffeteau, J. C. Cornut, B. Desbat, N. Escafre, M. Pézolet, and J. M. Turlet, Appl. Spectrosc. 47, 869 (1993).
18. H. Kuhn, D. Möbius, and H. Bücher, Physical Methods of Chemistry (John Wiley and Sons, New York, 1972).
19. D. Blaudez, J. M. Turlet, J. Dufourcq, D. Bard, T. Buffeteau, and B. Desbat, J. Chem. Soc., Faraday Trans. 92, 525 (1996).
20. T. Buffeteau, D. Blaudez, E. Péré, and B. Desbat, J. Phys. Chem. B 103, 5020 (1999).
21. M. Tasumi and T. Shimanouchi, J. Chem. Phys. 43, 1245 (1965); R. G. Snyder, S. L. Hsu, and S. Krimm, Spectrochim. Acta, Part A 34
22. M. Tasumi and T. Shimanouchi, J. Chem. Phys. 43, 1245 (1965); R. G. Snyder, S. L. Hsu, and S. Krimm, Spectrochim. Acta, Part A 34, 395 (1978).
23. D. Blaudez, T. Buffeteau, N. Castaings, B. Desbat, and J. M. Turlet, J. Chem. Phys. 104, 9983 (1996).
24. T. Buffeteau, E. Le Calvez, S. Castano, B. Desbat, D. Blaudez, and J. Dufourcq, J. Phys. Chem. B 104, 4537 (2000).
25. Y. Wang and E. A. Irene, J. Vacuum Sci. Technol., B: Microelectron. Nanometer Struct. 18, 279 (2000).
26. R. Saoudi, G. Hollinger, A. Gagnaire, P. Ferret, and M. Pitaval, Journal de Physique III 3, 1479 (1993).
27. F. L. Galeener and G. Lucovsky, Phys. Rev. Lett. 37, 1474 (1976).