Simulation in electrochemistry using the finite element method part 2: Scanning electrochemical microscopy

Electrochimica Acta

Volumn 48, Issue 27, 2003, Pages 3975-3980

  Nann, Thomas ^a   Heinze, Jürgen ^a  

^a UNIVERSITY OF FREIBURG   (Germany)

Author keywords

Adaptive finite element method; SECM; Simulation

Indexed keywords

ALGORITHMS; COMPUTER SIMULATION; CYCLIC VOLTAMMETRY; FINITE ELEMENT METHOD; MICROELECTRODES; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY;

MULTIDIMENSIONAL PROBLEMS;

ELECTROCHEMISTRY;

EID: 0142259659     PISSN: 00134686     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0013-4686(03)00312-8     Document Type: Article

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