Effect of sp2/sp3 Ratio on Electron Emission Properties of Nitrogen-Doped Diamond Electron Emitter

Physica Status Solidi (A) Applied Research

Volumn 186, Issue 2, 2001, Pages 257-262

  Yamada, T ^a   Sawabe, A ^a   Koizumi, S ^b   Itoh, J ^c   Okano, K ^d  

^a AOYAMA GAKUIN UNIVERSITY   (Japan)

^b NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE   (Japan)

^c ELECTROTECHNICAL LABORATORY   (Japan)

^d INTERNATIONAL CHRISTIAN UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0142146549     PISSN: 00318965     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/1521-396X(200108)186:2<257::AID-PSSA257>3.0.CO;2-A     Document Type: Article

References (22)

1. F. J. HIMPSEL, J. A. KNAPP, J. A. VAN VECHTE, and D. E. EASTMAN, Phys. Rev. B 20, 624 (1979).
2. B. B. PATE, Surf. Sci. 165, 83 (1986).
3. J. VAN DER WEIDE and R. J. NEMANICH, Appl. Phys. Lett. 62, 1878 (1993).
4. M. W. GEIS, A. GREGORY, and B. B. PATE, IEEE Trans. Electron Devices 38, 619 (1991).
5. C. WANG, A. GARCIA, D. C. INGRAM, M. LAKE, and M. E. KORDESCH, Electron. Lett. 27, 1459 (1999).
6. N. S. XU, R. V. LATHAM, and Y. TZENG, Electron. Lett. 29, 1596 (1993).
7. K. OKANO and K. K. GLEASON, Electron. Lett. 31, 74 (1995).
8. M. W. GEIS, J. C. T. TWINCHELL, J. MACAULAY, and K. OKANO, Appl. Phys. Lett. 67, 1328 (1995).
9. M. W. GEIS, J. C. TWINCHELL, N. N. EFREMOW, K. E. KROHAN, M. B. STERN, and T. W. LYSZCZARZ, IEEE Electron Device Lett. 18, 585 (1997).
10. K. OKANO, S. KOIZUMI, S. R. P. SILVA, and G. A. J. AMARATUNGA, Nature 381, 140 (1996).
11. K. OKANO, T. YAMADA, H. ISHIHARA, S. KOIZUMI, and J. ITOH, Appl. Phys. Lett. 70, 2201 (1997).
12. K. OKANO, T. YAMADA, A. SAWABE, S. KOIZUMI, R. MATSUDA, C. BANDIS, W. CHANG, and B. B. PLATE, Appl. Surf. Sci. 146, 247 (1999).
13. P. LERNER, N. M. MISKOVSKY, and P. H. CUTLER, J. Vac. Sci. Technol. B 16, 900 (1998).
14. S. R. P. SILVA, G. A. J. AMARATUNGA, and K. OKANO, J. Vac. Sci. Technol. B 17, 557 (1999).
15. N. A. FOX, W. N. WANG, T. J. DAVIES, J. W. STEEDS, and P. W. MAY, Appl. Phys. Lett. 71, 2337 (1997).
16. O. GRTONING, O. N. KUTTEL, P. GRONING, and L. SCHLAPBACH, J. Vac. Sci. Technol. B 17, 1064 (1999).
17. W. ZHU, G. P. KOCHANSKI, S. JIN, L. SEIBLES, D. C. JACOBSON, M. MCCORMACK, and A. E. WHILE, Appl. Phys. Lett. 67, 1157 (1995).
18. H. F. CHENG, Y. C. CHEN, Y. L. WANG, Y. Y. CHEN, B. J. TSAU, T. CHEN, and I. N. LIN, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 1866 (2000).
19. K. OKANO, K. HOSHINA, M. IIDA, S. KOIZUMI, and T. INUZUKA, Appl. Phys. Lett. 64, 2742 (1994).
20. F. TUINSTRA and J. L. KOENG, J. Chem. Phys. 53, 1126 (1970).
21. M. W. GEIS, J. C. TWINCHELL, N. N. EFREMOW, K. KORHN, and T. M. LYSZSCZARZ, Appl. Phys. Lett. 68, 2294 (1996).
22. T. YAMADA, A. SAWABE, S. KOIZUMI, J. ITOH, and K. OKANO, Appl. Phys. Lett. 76, 1297 (2000).