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Volumn 65, Issue 11, 2002, Pages 1154021-1154028

Modeling photonic force microscopy with metallic particles under plasmon eigenmode excitation

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METAL; SILICON;

EID: 0041726550     PISSN: 01631829     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.