Thickness dependence of exchange bias and coercivity in a ferromagnetic layer coupled with an antiferromagnetic layer

Journal of Applied Physics

Volumn 94, Issue 4, 2003, Pages 2529-2533

  Hu, Jing Guo ^a,b   Jin, Guo Jun ^a   Ma, Yu Qiang ^a  

^a NANJING UNIVERSITY   (China)

^b YANGZHOU UNIVERSITY   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANTIFERROELECTRIC MATERIALS; FERROMAGNETIC MATERIALS; MAGNETIC ANISOTROPY; MAGNETIZATION; THICKNESS MEASUREMENT;

EXCHANGE COUPLING;

COERCIVE FORCE;

EID: 0041421281     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1594271     Document Type: Article

References (30)

1. W. P. Meiklejohn and C. P. Bean, Phys. Rev. 102, 1413 (1956).
2. B. Dieny, V. S. Speriosu, S. Metin, S. S. P. Parkin, B. A. Gurney, P. Baumgart, and D. R. Wilhoit, J. Appl. Phys. 69, 4774 (1991).
3. D. Heim, R. Fontana, C. Tsang, V. Speriosu, B. Gurney, and M. Williams, IEEE Trans. Magn. MAG-30, 316 (1994).
4. J. C. Scott, J. Appl. Phys. 57, 3681 (1985); J. G. Hu, G. J. Jin, and Y. Q. Ma, ibid. 91, 2180 (2002).
5. J. C. Scott, J. Appl. Phys. 57, 3681 (1985); J. G. Hu, G. J. Jin, and Y. Q. Ma, ibid. 91, 2180 (2002).
6. A. Layadi, W. C. Cain, J.-W. Lee, and J. O. Artman, IEEE Trans. Magn. MAG-23, 2993 (1987).
7. R. D. McMichael, M. D. Stiles, P. J. Chen, and W. F. Egelhoff, Jr., Phys. Rev. B 58, 8605 (1998).
8. J. Nogués and I. K. Schuller, J. Magn. Magn. Mater. 192, 203 (1999).
9. H. W. Xi, M. H. Kryder, and R. M. White, Appl. Phys. Lett. 74, 2687 (1997); H. W. Xi and R. M. White, Phys. Rev. B 61, 80 (2000); 61, 1318 (2000).
10. H. W. Xi, M. H. Kryder, and R. M. White, Appl. Phys. Lett. 74, 2687 (1997); H. W. Xi and R. M. White, Phys. Rev. B 61, 80 (2000); 61, 1318 (2000).
11. H. W. Xi, M. H. Kryder, and R. M. White, Appl. Phys. Lett. 74, 2687 (1997); H. W. Xi and R. M. White, Phys. Rev. B 61, 80 (2000); 61, 1318 (2000).
12. M. D. Stiles and R. D. McMichael, Phys. Rev. B 59, 3722 (1999).
13. M. Kiwi, J. Magn. Magn. Mater. 234, 584 (2001).
14. J. M. Lopez, R. Ramirez, and M. Kiwi, J. Magn. Magn. Mater. 241, 364 (2002).
15. S. S. P. Parkin, V. R. Deline, R. O. Hilleke, and G. P. Felcher, Phys. Rev. B 42, 10583 (1990).
16. E. Goto, N. Hayashi, T. Miyashita, and K. Nakagawa, J. Appl. Phys. 36, 2951 (1965).
17. N. C. Koon, Phys. Rev. Lett. 78, 4865 (1997).
18. J. Slonczewski, Phys. Rev. Lett. 67, 3172 (1991).
19. T. C. Schulthess and W. H. Bulter, Phys. Rev. Lett. 81, 4516 (1998).
20. Y. Ijiri, J. A. Borchers, R. W. Erwin, S.-H. Lee, J. J. Vander Zaag, and D. L. Wolf, Phys. Rev. Lett. 80, 608 (1998).
21. T. J. Moran and I. K. Schuller, J. Appl. Phys. 79, 5109 (1996).
22. T. J. Moran, J. Nogués, D. Lederman, and I. K. Schuller, Appl. Phys. Lett. 72, 617 (1998).
23. A. H. Morrish, The Physical Principles of Magnetism (Wiley, New York, 1965), Chap. 7, p. 344.
24. V. I. Nikitenko, V. S. Gornakov, L. M. Dedukh, Yu. P. Kabanov, A. F. Khapikov, A. J. Shapiro, R. D. Shall, A. Chaihen, and R. P. Michel, Phys. Rev. B 57, R8111 (1998).
25. S. M. Zhou, K. Liu, and C. L. Chien, Phys. Rev. B 58, R14717 (1998).
26. R. Jungblut, R. Coehoorn, M. T. Johnson, J. aan de Stegge, and A. Reinders, J. Appl. Phys. 75, 6659 (1994).
27. D. Mauri, H. C. Siegmann, P. S. Bagus, and E. Kay, J. Appl. Phys. 62, 3047 (1987).
28. Z. Celinski, B. Heinrtch, and J. F. Cochran, J. Appl. Phys. 73, 5966 (1993).
29. J. C. Slonczewski, J. Appl. Phys. 73, 5957 (1993).
30. P. A. A. van der Heijden, C. H. W. Swüste, W. J. M. de Jonge, J. M. Gaines, J. T. W. M. van Eeneren, and K. M. S. Chep, Phys. Rev. Lett. 82, 1020 (1999).