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Volumn 50, Issue 4, 2000, Pages 411-421

Analysis of thin films by optical multi-sample methods

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EID: 0040195719     PISSN: 03230465     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.