-
1
-
-
0012056402
-
-
Asahi, R.; Babcock, J.R.; Edleman, N.L.; Kammler, D.R.; Ko, D.; Lane, M.A.; Metz, A.W.; Wang, A.; Yan, M.; Chang, R.P.H.; Dravid, V.; Freeman, A.J.; Kannewurf, C.R.; Marks, T.J.; Mason, T.O.; Poeppelmeier, K.R. Proc. Electrochem. Soc. 2001, 2001-10, 333-348; Wang, A.; Babcock, J.R.; Edleman, N.L.; Metz, A.W.; Lane, M.A.; Asahi, R.; Dravid, V.P.; Kannewurf, C.R.; Freeman, A.J.; Marks, T.J. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2001, 98, 7113-7116.
-
(2001)
Proc. Electrochem. Soc.
, vol.2001
, Issue.10
, pp. 333-348
-
-
Asahi, R.1
Babcock, J.R.2
Edleman, N.L.3
Kammler, D.R.4
Ko, D.5
Lane, M.A.6
Metz, A.W.7
Wang, A.8
Yan, M.9
Chang, R.P.H.10
Dravid, V.11
Freeman, A.J.12
Kannewurf, C.R.13
Marks, T.J.14
Mason, T.O.15
Poeppelmeier, K.R.16
-
2
-
-
0035912742
-
-
Asahi, R.; Babcock, J.R.; Edleman, N.L.; Kammler, D.R.; Ko, D.; Lane, M.A.; Metz, A.W.; Wang, A.; Yan, M.; Chang, R.P.H.; Dravid, V.; Freeman, A.J.; Kannewurf, C.R.; Marks, T.J.; Mason, T.O.; Poeppelmeier, K.R. Proc. Electrochem. Soc. 2001, 2001-10, 333-348; Wang, A.; Babcock, J.R.; Edleman, N.L.; Metz, A.W.; Lane, M.A.; Asahi, R.; Dravid, V.P.; Kannewurf, C.R.; Freeman, A.J.; Marks, T.J. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2001, 98, 7113-7116.
-
(2001)
Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A.
, vol.98
, pp. 7113-7116
-
-
Wang, A.1
Babcock, J.R.2
Edleman, N.L.3
Metz, A.W.4
Lane, M.A.5
Asahi, R.6
Dravid, V.P.7
Kannewurf, C.R.8
Freeman, A.J.9
Marks, T.J.10
-
3
-
-
0012021956
-
-
Babcock, J.R.; Wang, A.; Metz, A.W.; Edleman, N.L.; Metz, M.V.; Lane, M.A.; Kannewurf, C.R.; Marks, T.J. Adv. Mater. Chem. Vapor Dep. 2001, 7, 239-242.
-
(2001)
Adv. Mater. Chem. Vapor Dep.
, vol.7
, pp. 239-242
-
-
Babcock, J.R.1
Wang, A.2
Metz, A.W.3
Edleman, N.L.4
Metz, M.V.5
Lane, M.A.6
Kannewurf, C.R.7
Marks, T.J.8
-
4
-
-
0035556850
-
-
F1.8.1
-
Barnes, T.M.; Li, X.; DeHart, C.; Moutinho, H.; Asher, S.; Yan, Y.; Gessert, T.A. Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 2001, 666, F1.8.1; Li, X.; Yan, Y.; Mason, A.; Gessert, T.A.; Courts, T.J. Electrochem. Solid State Lett. 2001, 4, C66-C68; Li, X.; Young, D.L.; Moutinho, H.; Yan, Y.; Narayanswamy, C.; Gessert, T.A.; Coutts, T.J. Electrochem. Solid State Lett. 2001, 4, C43-C46; Li, X.; Barnes, T.M.; DeHart, C.; King, D.; Asher, S.; Young, M.; Gessert, T.A.; Courts, T.J. Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 2001, 666, F3.18.11.
-
(2001)
Mat. Res. Soc. Symp. Proc.
, vol.666
-
-
Barnes, T.M.1
Li, X.2
Dehart, C.3
Moutinho, H.4
Asher, S.5
Yan, Y.6
Gessert, T.A.7
-
5
-
-
0035469711
-
-
Barnes, T.M.; Li, X.; DeHart, C.; Moutinho, H.; Asher, S.; Yan, Y.; Gessert, T.A. Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 2001, 666, F1.8.1; Li, X.; Yan, Y.; Mason, A.; Gessert, T.A.; Courts, T.J. Electrochem. Solid State Lett. 2001, 4, C66-C68; Li, X.; Young, D.L.; Moutinho, H.; Yan, Y.; Narayanswamy, C.; Gessert, T.A.; Coutts, T.J. Electrochem. Solid State Lett. 2001, 4, C43-C46; Li, X.; Barnes, T.M.; DeHart, C.; King, D.; Asher, S.; Young, M.; Gessert, T.A.; Courts, T.J. Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 2001, 666, F3.18.11.
-
(2001)
Electrochem. Solid State Lett.
, vol.4
-
-
Li, X.1
Yan, Y.2
Mason, A.3
Gessert, T.A.4
Courts, T.J.5
-
6
-
-
0035383690
-
-
Barnes, T.M.; Li, X.; DeHart, C.; Moutinho, H.; Asher, S.; Yan, Y.; Gessert, T.A. Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 2001, 666, F1.8.1; Li, X.; Yan, Y.; Mason, A.; Gessert, T.A.; Courts, T.J. Electrochem. Solid State Lett. 2001, 4, C66-C68; Li, X.; Young, D.L.; Moutinho, H.; Yan, Y.; Narayanswamy, C.; Gessert, T.A.; Coutts, T.J. Electrochem. Solid State Lett. 2001, 4, C43-C46; Li, X.; Barnes, T.M.; DeHart, C.; King, D.; Asher, S.; Young, M.; Gessert, T.A.; Courts, T.J. Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 2001, 666, F3.18.11.
-
(2001)
Electrochem. Solid State Lett.
, vol.4
-
-
Li, X.1
Young, D.L.2
Moutinho, H.3
Yan, Y.4
Narayanswamy, C.5
Gessert, T.A.6
Coutts, T.J.7
-
7
-
-
0035557205
-
-
F3.18.11
-
Barnes, T.M.; Li, X.; DeHart, C.; Moutinho, H.; Asher, S.; Yan, Y.; Gessert, T.A. Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 2001, 666, F1.8.1; Li, X.; Yan, Y.; Mason, A.; Gessert, T.A.; Courts, T.J. Electrochem. Solid State Lett. 2001, 4, C66-C68; Li, X.; Young, D.L.; Moutinho, H.; Yan, Y.; Narayanswamy, C.; Gessert, T.A.; Coutts, T.J. Electrochem. Solid State Lett. 2001, 4, C43-C46; Li, X.; Barnes, T.M.; DeHart, C.; King, D.; Asher, S.; Young, M.; Gessert, T.A.; Courts, T.J. Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 2001, 666, F3.18.11.
-
(2001)
Mat. Res. Soc. Symp. Proc.
, vol.666
-
-
Li, X.1
Barnes, T.M.2
Dehart, C.3
King, D.4
Asher, S.5
Young, M.6
Gessert, T.A.7
Courts, T.J.8
-
8
-
-
0035896796
-
-
Yan, M.; Lane, M.; Kannewurf, C.R.; Chang, R.P.H. Appl. Phys. Lett. 2001, 78, 2342-2344.
-
(2001)
Appl. Phys. Lett.
, vol.78
, pp. 2342-2344
-
-
Yan, M.1
Lane, M.2
Kannewurf, C.R.3
Chang, R.P.H.4
-
9
-
-
0036197511
-
-
Gulino, A.; Castelli, F.; Dapporto, P.; Rossi, P.; Fragala, I. Chem. Mater. 2002, 14, 704-709.
-
(2002)
Chem. Mater.
, vol.14
, pp. 704-709
-
-
Gulino, A.1
Castelli, F.2
Dapporto, P.3
Rossi, P.4
Fragala, I.5
-
10
-
-
0035847486
-
-
Hatanpaeae, T.; Kansikas, J.; Mutikainen, I.; Leskelae, M. Inorg. Chem. 2001, 40, 788-794; Belot, J.A.; Neumayer, D.A.; Reedy, C.J.; Studebaker, D.B.; Hinds, B.J.; Stern, C.L.; Marks, T.J. Chem. Mater. 1997, 9, 1638-1648.
-
(2001)
Inorg. Chem.
, vol.40
, pp. 788-794
-
-
Hatanpaeae, T.1
Kansikas, J.2
Mutikainen, I.3
Leskelae, M.4
-
11
-
-
0001716719
-
-
Hatanpaeae, T.; Kansikas, J.; Mutikainen, I.; Leskelae, M. Inorg. Chem. 2001, 40, 788-794; Belot, J.A.; Neumayer, D.A.; Reedy, C.J.; Studebaker, D.B.; Hinds, B.J.; Stern, C.L.; Marks, T.J. Chem. Mater. 1997, 9, 1638-1648.
-
(1997)
Chem. Mater.
, vol.9
, pp. 1638-1648
-
-
Belot, J.A.1
Neumayer, D.A.2
Reedy, C.J.3
Studebaker, D.B.4
Hinds, B.J.5
Stern, C.L.6
Marks, T.J.7
-
12
-
-
0031146366
-
-
Hinds, B.J.; McNeely, R.J.; Studebaker, D.B.; Marks, T.J.; Hogan, T.P.; Schindler, J.L.; Kannewurf, C.R.; Zhang, X.F.; Miller, D.J. J. Mater. Res. 1997, 12, 1214-1236.
-
(1997)
J. Mater. Res.
, vol.12
, pp. 1214-1236
-
-
Hinds, B.J.1
McNeely, R.J.2
Studebaker, D.B.3
Marks, T.J.4
Hogan, T.P.5
Schindler, J.L.6
Kannewurf, C.R.7
Zhang, X.F.8
Miller, D.J.9
-
13
-
-
0023978724
-
-
Lyding, J.W.; Marcy, H.O.; Marks, T.J.; Kannewurf, C.R. IEEE Trans. Instrum. Meas. 1988, 37, 76-80.
-
(1988)
IEEE Trans. Instrum. Meas.
, vol.37
, pp. 76-80
-
-
Lyding, J.W.1
Marcy, H.O.2
Marks, T.J.3
Kannewurf, C.R.4
|