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Volumn 230, Issue 1, 2002, Pages 237-241

Scaling analysis of the variable range hopping in p-Ge at high compensation

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EID: 0035994636     PISSN: 03701972     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/1521-3951(200203)230:1<237::AID-PSSB237>3.0.CO;2-S     Document Type: Conference Paper
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References (17)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.