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Volumn 78, Issue 12, 2001, Pages 1667-1669

Electron and trap dynamics in As-ion-implanted and annealed GaAs

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EID: 0035911428     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1356727     Document Type: Article
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References (12)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.