Optically detected magnetic resonance of thiol-capped CdTe nanocrystals

Israel Journal of Chemistry

Volumn 41, Issue 1, 2001, Pages 39-44

  Glozman, Alexander ^a   Lifshitz, Efrat ^a   Hoppe, Kathrin ^b   Rogach, Ahdrey L ^b   Welllr, Horst ^b   Echymüller, Alexander ^b  

^a TECHNION ISRAEL INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Israel)

^b UNIVERSITY OF HAMBURG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035604607     PISSN: 00212148     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1560/GVFT-60DT-8Y0E-7DR9     Document Type: Article

References (43)

1. Brus, L.E. J. Phys. Chem. 1986, 90, 2555.
2. Bawendi, M.G.; Carrol, P.J.; Wilson, W.L.; Brus, L.E. J. Chem. Phys. 1992, 96, 946.
3. Echymüller, A.; Hasselbarth, A.; Katsikas, L.; Weller, H. Ber. Bunsenges. Phys. Chem. 1991, 95, 79.
4. Henglein, A. Chem. Rev. 1989, 89, 1861.
5. Alivisatos, A.P. J. Phys. Chem. 1996, 100, 13266 and references therein.
6. Efros, A.L.; Rosen, M.; Kuno, M.; Nirmal, M.; Norris, D. J.; Bawendi, M.G. Phys. Rev. 1996, 53, 4843.
7. Brus, L.E. IEEE J. Quant. Electron. 1986, QE-22, 1909.
8. Spanhel, L.; Haase, M.; Weller, H.; Henglein, A. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 5649.
9. Wise, F.W. Acc. Chem. Res. 2000, 33, 773.
10. Lifshitz, E., Glozman, A.; Litvin, I.D.; Porteanu, H. Phys. Chem. 2000, 104, 10449.
11. Woggon, U.; Petri, W.; Dinger, A.; Petillon, S.; Hetterich, M.; Grun, M.; O'Donnell, K.P.; Kalt, H.; Klingshirn, C. Phys. Rev. 1997, 55, 1364.
12. Lee, J.; Sundar, V.C.; Hiene, J.R.; Bawendi, M.G.; Jensen, K.F. Adv. Mat. 2000, 12, 1102.
13. Tian, Y.; Tewton, T.; Kotov, N.A.; Guldi, D.M.; Fendler, J.H. J. Phys. Chem. 1996, 100, 8927.
14. Hines, M.A.; Guyot-Sionnest, P. J. Phys. Chem. 1996, 100, 468.
15. Kortan, A.R.; Hull, R.; Opila, R.L.; Bawendi, M.G.; Steigerwald, M.L.; Carroll, P.J.; Brus, L.E. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 1327.
16. Neuhaouser, R.G.; Shimizu, K.T.; Woo, W.K.; Empedocles, S.A.; Bawendi, M.G. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 3301.
17. Hasselbarth, A.; Echymüller, A.; Eichberger, R.; Giersig, M.; Mews, A.; Weller, H. J. Phys. Chem. 1993, 97, 5333.
18. Rogach, A.L.; Susha, A.; Caruso, F.; Sukhorukov, G.; Kornowski, A.; Kershaw, S.; Möhwald, H.; Eychmüller, A.; Weller, H. Adv. Mater. 2000, 12, 333.
19. Harrison, M.T.; Kershaw, S.V.; Rogach, A.L.; Kornowski, A.; Echymüller, A.; Weller, H. Adv. Mater. 2000, 12, 123.
20. Henglein, A.; Gutierrez, M.; Weller, H. Ber. Bunsenges. Phys. Chem. 1989, 93, 593.
21. Cao, Y.; Banin, U. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 9692.
22. Potter, B.C. Jr.; Simmons, J.H. J. Appl. Phys. 1990, 68, 1218.
23. Potter, B.G. Jr.; Simmons, J.H.; Kumar, P.; Stanton, C.J. J. Appl. Phys. 1994, 75, 8039.
24. de Oliveira, C.R.M.; de Paula, A.M.; Plentz Filho, F.O.; Medeiros Neto, J.A.; Barbosa, L.C.; Alves, O.L.; Menezes, E.A.; Rios, J.M.M.; Fragnito, H.L.; Brito. C.H.; Cruz, C.L. Cesar. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 439.
25. Gao, M.; Kirstein, S.; Möhwald, H.; Rogach, A.L.; Kornowski, A.; Eychmüller, A.; Weller, H. J. Phys. Chem. 1998, 102, 8360.
26. Masumoto, Y.; Sonobe, K. Phys. Rev., 1997, 56, 9734.
27. Esch, V.; Fluegel, B.; Khitrova, G.; Gibbs, H.M.; Jiajin, Xu; Kang, K.; Koch, S.W.; Liu, L.C.; Risbud, S.H. Peyghambarian, N. Phys. Rev. 1990, 42, 7450.
28. Dabbousi, B.O.; Rodriguez-Viejo, J.; Mikulec, F.V.; Heine, J.R.; Mattoussi, H.; Ober, R.; Jensen, K.F.; Bawendi, M.G. J. Phys. Chem. 1997, 101, 9463.
29. Peng, X.; Schlamp, M.C.; Kadavanich, A.V.; Alivisatos, A.P. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 7019.
30. Rogach, A.L.; Katsikas, L.; Kornowski, A.; Su, D.; Echymüller, A.; Weller, H. Ber. Bunsenges. Phys. Chem. 1996, 100, 1772.
31. Emanuelsson, P.; Omling, P.; Meyer, B.K.; Wienecke, M.; Schenk, M. Phys. Rev. 1993, 47, 15578.
32. Meyer, B.K.; Hofmann, D.M.; Stadler, W.; Emanuelsson, P.; Omling, P.; Weigel, E.; Muller-Vogt, G.; Wienecke, F.; Schenk, M. Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 1993, 302, 433.
33. Meyer, B.K.; Hofmann, D.M. Appl. Phys. 1995, 61, 213.
34. Meyer, B.K.; Stadler, W. J. Cryst. Growth 1996, 161, 119.
35. Rockenberger, J.; Troger, L.; Rogach, A.L.; Tischer, M.; Grundmann, M.; Eychmüller, A.; Weller, H. J. Chem. Phys. 1998, 108, 7807.
36. Rockenberger, J.; Tröger, L.; Rogach, A.L.; Tischer, M.; Grundmann, M.; Weller, H., Eychmüller, A. Ber. Bunsenges. Phys. Chem. 1998, 102, 1561.
37. Hofmann, D.M.; Meyer, B.K. J. Cryst. Growth 1990, 101, 536.
38. Dobrowolska, M.; Dobrowolski, W.; Mycielski, A. Solid State Commun. 1980, 34, 441.
39. Willatzen, M.; Cardona, M.; Christensen, N.E. Phys. Rev. 1995, 51, 17992.
40. Oestreich, M.; Hallstein, S.; Heberle, A.P.; Eberl, K.; Bauser, E.; Rühle, W.W. Phys. Rev. 1996, 53, 7911.
41. Wei, S.H.; Zhang, S.B.; Zunger, A. J. Appl. Phys. 2000, 87, 1304.
42. Fu, H.; Wang, L.W.; Zunger, A. Phys. Rev. 1999, 59, 5568.
43. Nirmal, M.; Morris, D.J.; Kuno, M.; Bawendi, M.G.; Efros, A.L.; Rosen, M. Phys. Rev. Lett. 1995, 75, 3728.