Surface Stoichiometry of CdSe Nanocrystals Determined by Rutherford Backscattering Spectroscopy

Journal of Cluster Science

Volumn 12, Issue 4, 2001, Pages 571-582

  Taylor, Jason ^a   Kippeny, Tadd ^a   Rosenthal, Sandra J ^a  

^a VANDERBILT UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

cdse; Nanocrystal; Spectroscopy; Surface passivation

Indexed keywords

EID: 0035545155     PISSN: 10407278     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1023/A:1014246315331     Document Type: Article

References (25)

1. J. E. Bowen Katari, V. L. Colvin, and A. P. Alivisatos (1994). J. Phys. Chem. 98, 4109.
2. The optical and structural properties of CdSe nanocrystals prepared by pyrolysis in TOPO and TOP/TOPO have been extensively studied. For review see A. P. Alivisatos (1996). J. Phys. Chem. 100, 13226.
3. V. L. Colvin, M. C. Schlamp, and A. P. Alivisatos (1994). Nature 370, 354.
4. M. C. Schlamp, X. G. Peng, and A. P. Alivisatos (1997). J. Applied Physics 82, 5837.
5. H. Mattoussi, L. H. Radzilowski, B. O. Dabbousi, E. L. Thomas, M. G. Bawendi, and M. F. Rubner (1998). J. Appl. Phys. 83, 7965.
6. B. O. Dabbousi, M. G. Bawendi, O. Onitsuka, and M. F. Rubner (1995). Appl. Phys. Lett. 66, 1316.
7. N. C. Greenham, X. G. Peng, and A. P. Alivisatos (1997). Synthetic Metals 84, 545.
8. N. C. Greenham, X. G. Peng, and A. P. Alivisatos (1996). Phys. Rev. B Cond. Matt. 54, 17628.
9. D. L. Klein, R. Roth, A. K. L. Lim, A. P. Alivisatos, and P. L. McEuen (1997). Nature 389, 699.
10. N. A. Hill and K. B. Whaley (1993). J. Chem. Phys. 99, 3707.
11. N. A. Hill and K. B. Whaley (1994). J. Chem. Phys. 100, 2831.
12. H. Fu and A. Zunger (1997). Phys. Rev. B 56, 1496.
13. S. Pokrant and K. B. Whaley (1999). Eur. J. Phys. D 255.
14. K. Leung and K. B. Whaley (1999). J. Chem. Phys. 11012.
15. S. H. Tolbert and A. P. Alivisatos (1994). Science 265, 373.
16. J. J. Shiang, A. V. Kadavanich, R. K. Grubbs, and A. P. Alivisatos (1995). J. Phys. Chem. 99, 17418.
17. A. V. Kadavanich. The Structure and Morphology of Semiconductor Nanocrystals, Ph.D. thesis (University of California, Berkeley, 1997).
18. S. A. Blanton, R. L. Leheny, M. A. Hines, and P. Guyot-Sionnest, (1997). Phys. Rev. Lett. 79, 865.
19. L. R. Becerra, C. B. Murray, R. G. Griffin, and M. G. Bawendi (1994). J. Chem. Phys. 100, 3297.
20. M. Kuno, J. K. Lee, B. O. Dabbousi, F. V. Mikulec, and M. G. Bawendi (1997). J. Chem. Phys. 106, 9869.
21. B. O. Dabbousi, J. Rodriguez-Viejo, F. V. Mikulec, J. R. Heine, H. Mattoussi, R. Ober, K. F. Jensen, and M. G. Bawendi (1997). J. Phys. Chem. 101, 9463.
22. Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis (L. C. Feldman and J. W. Mayer, North-Holland, 1986).
23. C. Jeynes, Z. H. Jafri, R. P. Webb, A. C. Kimber, and M. J. Ashwin (1997). Surface and Interface Analysis 25, 254.
24. X. Peng, J. Wickham, and A. P. Alivisatos (1998). J. Am. Chem. Soc. 120, 5343.
25. C. B. Murray, D. J. Norris, and M. G. Bawendi (1993). J. Am. Chem. Soc. 115, 8706.