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Volumn 223, Issue 3, 2001, Pages 635-648

Numerical determination of shallow electronic states bound by dislocations in semiconductors

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EID: 0035530750     PISSN: 03701972     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/1521-3951(200102)223:3<635::AID-PSSB635>3.0.CO;2-K     Document Type: Article
Times cited : (21)

References (27)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.