Cryogenic scanning tunneling microscope for quantum dot spectroscopy

Review of Scientific Instruments

Volumn 72, Issue 7, 2001, Pages 2989-2995

  Chang, T H ^a   Yang, C H ^a   Yang, M J ^b   Dottellis, J B ^c  

^a UNIVERSITY OF MARYLAND   (United States)

^b NAVAL RESEARCH LABORATORY   (United States)

^c LABORATORY FOR PHYSICAL SCIENCES   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035397063     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1379608     Document Type: Article

References (69)

1. G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel, Phys. Rev. Lett. 49, 57 (1982).
2. G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, and B. Weibel, Phys. Rev. Lett. 50, 120 (1983).
3. S. A. Elrod, A. L. de Lozanne, and C. F. Quate, Appl. Phys. Lett. 45, 1240 (1984).
4. A. Cricenti, S. Selci, A. C. Felici, R. Generosi, E. Gori, W. Djaczenko, and G. Chiarotti, Helv. Phys. Acta 62, 701 (1989).
5. W. J. Kaiser and L. D. Bell, Phys. Rev. Lett. 60, 1406 (1988).
6. R. A. Wolkow, Phys. Rev. Lett. 68, 2636 (1992).
7. S. A. Elrod, A. Bryant, A. L. de Lozanne, S. Park, D. Smith, and C. F. Quate, IBM J. Res. Dev. 30, 387 (1986).
8. D. P. E. Smith and G. Binnig, Rev. Sci. Instrum. 57, 2630 (1986).
9. A. P. Fein, J. R. Kirtley, and R. M. Feenstra, Rev. Sci. Instrum. 58, 1806 (1987).
10. J. W. Lyding, S. Skala, J. S. Hubacek, R. Brockenbrough, and G. Gammie, Rev. Sci. Instrum. 59, 1897 (1988).
11. J. Burger, S. C. Meepagala, and E. L. Wolf, Rev. Sci. Instrum. 60, 735 (1989).
12. S. Kashiwaya, M. Koyanagi, A. Shoji, M. Matsuda, and H. Shibata, IEEE Trans. Magn. 27, 837 (1991).
13. F. J. Giessibl, Ch. Gerber, and G. Binnig, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 984 (1991).
14. J. G. Adler, T. T. Chen, M. C. Gallagher, M. K. Konkin, and D. P. Mullin, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 992 (1991).
15. M. A. Dubson and J. Hwang, Rev. Sci. Instrum. 63, 3643 (1992).
16. R. A. Wolkow, Rev. Sci. Instrum. 63, 4049 (1992).
17. D. N. Davydov, R. Deltour, N. Horii, V. A. Timofeev, and A. S. Grokholski, Rev. Sci. Instrum. 64, 3153 (1993).
18. F. Gao, C. Dai, Z. Chen, G. Huang, C. Bai, H. Tao, B. Yin, Q. Yang, and Z. Zhao, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 1708 (1994).
19. J. W. G. Wildöer, A. J. A. van Roy, H. van Kempen, and C. J. P. M. Harmans, Rev. Sci. Instrum. 65, 2849 (1994).
20. S. J. Stranick, M. M. Kamna, and P. S. Weiss, Rev. Sci. Instrum. 65, 3211 (1994).
21. A. R. Smith and C. K. Shih, Rev. Sci. Instrum. 66, 2499 (1995).
22. E. Bar-Sadeh, Y. Goldstein, M. Wolovelsky, D. Porath, C. Zhang, H. Deng, B. Abeles, and O. Millo, J. Vac. Sci. Technol. B 13, 1084 (1995).
23. J. G. A. Dubois, J. W. Gerritsen, J. G. H. Hermsen, and H. van Kempen, Rev. Sci. Instrum. 66, 4146 (1995).
24. J. Smoliner, C. Eder, G. Strasser, G. Böhm, and G. Weimann, Superlattices Microstruct. 20, 261 (1996).
25. H.-P. Rust, J. Buisset, E. K. Schweizer, and L. Cramer, Rev. Sci. Instrum. 68, 129 (1997).
26. L. A. Silva, Rev. Sci. Instrum. 68, 1300 (1997).
27. Chr. Wittneven, R. Dombrowski, S. H. Pan, and R. Wiesendanger, Rev. Sci. Instrum. 68, 3806 (1997).
28. K. L. Ekinci and J. M. Valles, Jr., Rev. Sci. Instrum. 68, 4152 (1997).
29. D. Wehnes, J. Meier, J. Classen, and C. Enss, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 66, S41 (1998).
30. T. Becker, H. Hövel, M. Tschudy, and B. Reihl, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 66, S27 (1998).
31. J. H. Ferris, J. G. Kushmerick, J. A. Johnson, M. G. Yoshikawa Youngquist, R. B. Kessinger, H. F. Kingsbury, and P. S. Weiss, Rev. Sci. Instrum. 69, 2691 (1998).
32. S. H. Pan, E. W. Hudson, and J. C. Davis, Rev. Sci. Instrum. 70, 1459 (1999).
33. O. Pietzsch, A. Kubetzka, D. Haude, M. Bode, and R. Wiesendanger, Rev. Sci. Instrum. 71, 424 (2000).
34. H. Murakami, T. Ogami, Y. Qi, K. Sakai, and T. Ito, Physica B 284-288, 2063 (2000).
35. H. van Kempen and G. F. A. van de Walle, IBM J. Res. Dev. 30, 509 (1986).
36. G. Binnig and D. P. E. Smith, Rev. Sci. Instrum. 57, 1688 (1986).
37. K. Besocke, Surf. Sci. 181, 145 (1987).
38. J. Frohn, J. F. Wolf, K. Besoeke, and M. Teske, Rev. Sci. Instrum. 60, 1200 (1989).
39. G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel, Appl. Phys. Lett. 40, 178 (1982).
40. D. W. Pohl, IBM J. Res. Dev. 30, 417 (1986).
41. M. Okano, K. Kajimura, S. Wakiyama, F. Sakai, W. Mizutani, and M. Ono, J. Vac. Sci. Technol. A 5, 3313 (1987).
42. D. W. Pohl, Rev. Sci. Instrum. 58, 54 (1987).
43. Ch. Renner, Ph. Niedermann, A. D. Kent, and Ø. Fisher, Rev. Sci. Instrum. 61, 965 (1990).
44. N. Agrït, Rev. Sci. Instrum. 63, 263 (1992).
45. A. Ferreira and P. Minotti, Rev. Sci. Instrum. 68, 1779 (1997).
46. D. P. E. Smith and S. A. Elrod, Rev. Sci. Instrum. 56, 1970 (1985).
47. M. Anders, M. Thaer, and C. Heiden, Surf. Sci. 181, 176 (1987).
48. B. L. Blackford and M. H. Jericho, Rev. Sci. Instrum. 61, 182 (1990).
49. R. T. Brockenbrough and J. W. Lyding, Rev. Sci. Instrum. 64, 2225 (1993).
50. K. Pond, B. Z. Nosho, H. R. Stuber, A. C. Gossard, and W. H. Weinberg, Rev. Sci. Instrum. 69, 1403 (1998).
51. S. Tarucha, D. G. Austing, T. Honda, R. J. van der Hage, and L. P. Kouwenhoven, Phys. Rev. Lett. 77, 3616 (1996).
52. R. C. Ashoori, H. L. Stormer, J. S. Weiner, L. N. Pfeiffer, S. J. Pearton, K. W. Baldwin, and K. W. West, Phys. Rev. Lett. 68, 3088 (1992).
53. K.-F. Berggren, G. Roos, and H. van Houten, Phys. Rev. B 37, 10118 (1988).
54. B. J. van Wees, H. van Houten, C. W. J. Beenakker, J. G. Williamson, L. P. Kouwenhoven, D. van der Marel, and C. T. Foxon, Phys. Rev. Lett. 60, 848 (1988).
55. U. Meirav, M. A. Kastner, and S. J. Wind, Phys. Rev. Lett. 65, 771 (1990).
56. M. A. Eriksson, R. G. Beck, M. Topinka, J. A. Katine, R. M. Westervelt, K. L. Campman, and A. C. Gossard, Appl. Phys. Lett. 69, 671 (1996).
57. L. Gurevich, L. Canali, and L. P. Kouwenhoven, Appl. Phys. Lett. 76, 384 (2000).
58. Staveley Sensor Inc., 91 Prestige Park Circle, East Hanford, CT 06108. We used EBL#2 piezoceramic for the tubes and slabs. There are Ni electrodes coated on the tubes and slabs as needed.
59. The epoxy is a two-component system, using Der331 resin and Versamid 140 hardener. The proper mixing ratio is 11 parts resin to 14 parts hardener by weight.
60. H. J. Hug, B. Stiefel, P. J. A. van Schendel, A. Moser, S. Martin, and H.-J. Güntherodt, Rev. Sci. Instrum. 70, 3625 (1999).
61. Omicron Vakuumphysik GmbH, Idsteiner Straße 78, D-65232 Taunusstein, Germany.
62. A. H. Church, Mechanical Vibrations, 2nd ed. (Wiley, New York, 1963), p. 379.
63. Dexter Magnetic Technologies, 48460 Kato Rd., Fremont, CA 94538.
64. K. Nagaya, J. Dyn. Syst., Meas., Control 106, 52 (1984).
65. J. P. Ibe, P. P. Bey, Jr., S. L. Brandow, R. A. Brizzolura, N. A. Burnham, D. P. DiLella, K. P. Lee, C. R. K. Marrian, and R. J. Colton, J. Vac. Sci. Technol. A 8, 3570 (1990).
66. T. H. Chang, K. A. Cheng, C. H. Yang, M. J. Yang, and D. Park, J. Vac. Sci. Technol. B 18, 3493 (2000).
67. T. H. Chang et al., Phys. Status Solidi 224, 693 (2001).
68. K. K. Likharev, IBM J. Res. Dev. 32, 144 (1987).
69. U. Banin, Y. Cao, D. Katz, and O. Millo, Nature (London) 400, 542 (1999).