-
1
-
-
0029293275
-
-
M. Tanaka, Mater. Sci. Eng., B 31, 117 (1995); Physica E (Amsterdam) 2, 372 (1998).
-
(1995)
Mater. Sci. Eng., B
, vol.31
, pp. 117
-
-
Tanaka, M.1
-
2
-
-
0029293275
-
-
Amsterdam
-
M. Tanaka, Mater. Sci. Eng., B 31, 117 (1995); Physica E (Amsterdam) 2, 372 (1998).
-
(1998)
Physica E
, vol.2
, pp. 372
-
-
-
4
-
-
4243101311
-
-
H. Munekata, H. Ohno, S. von Molnar, A. Segmuller, L. L. Chang, and L. Esaki, Phys. Rev. Lett. 63, 1849 (1989).
-
(1989)
Phys. Rev. Lett.
, vol.63
, pp. 1849
-
-
Munekata, H.1
Ohno, H.2
Von Molnar, S.3
Segmuller, A.4
Chang, L.L.5
Esaki, L.6
-
5
-
-
0009501328
-
-
H. Ohno, A. Shen, F. Matsukura, A. Oiwa, A. Endo, S. Katsumoto, and Y. Iye, Appl. Phys. Lett. 69, 363 (1996); H. Ohno, Science 281, 951 (1998).
-
(1996)
Appl. Phys. Lett.
, vol.69
, pp. 363
-
-
Ohno, H.1
Shen, A.2
Matsukura, F.3
Oiwa, A.4
Endo, A.5
Katsumoto, S.6
Iye, Y.7
-
6
-
-
0032516694
-
-
H. Ohno, A. Shen, F. Matsukura, A. Oiwa, A. Endo, S. Katsumoto, and Y. Iye, Appl. Phys. Lett. 69, 363 (1996); H. Ohno, Science 281, 951 (1998).
-
(1998)
Science
, vol.281
, pp. 951
-
-
Ohno, H.1
-
7
-
-
0031141824
-
-
T. Hayashi, M. Tanaka, T. Nishinaga, H. Shimada, and Y. Otuka, J. Cryst. Growth 175/176, 1063 (1997); M. Tanaka, J. Vac. Sci. Technol. B 16, 2267 (1998).
-
(1997)
J. Cryst. Growth
, vol.175-176
, pp. 1063
-
-
Hayashi, T.1
Tanaka, M.2
Nishinaga, T.3
Shimada, H.4
Otuka, Y.5
-
8
-
-
0000842243
-
-
T. Hayashi, M. Tanaka, T. Nishinaga, H. Shimada, and Y. Otuka, J. Cryst. Growth 175/176, 1063 (1997); M. Tanaka, J. Vac. Sci. Technol. B 16, 2267 (1998).
-
(1998)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.16
, pp. 2267
-
-
Tanaka, M.1
-
9
-
-
0000039030
-
-
J. De Boeck, R. Oesterholt, A. Van Esch, H. Bender, C. Bruynseraede, C. Van Hoof, and G. Borghs, Appl. Phys. Lett. 68, 2744 (1996).
-
(1996)
Appl. Phys. Lett.
, vol.68
, pp. 2744
-
-
De Boeck, J.1
Oesterholt, R.2
Van Esch, A.3
Bender, H.4
Bruynseraede, C.5
Van Hoof, C.6
Borghs, G.7
-
10
-
-
0031220005
-
-
T. Hayashi, M. Tanaka, K. Seto, T. Nishinaga, and K. Ando, Appl. Phys. Lett. 71, 1825 (1997).
-
(1997)
Appl. Phys. Lett.
, vol.71
, pp. 1825
-
-
Hayashi, T.1
Tanaka, M.2
Seto, K.3
Nishinaga, T.4
Ando, K.5
-
11
-
-
0031674347
-
-
T. Kuroiwa, T. Yasuda, F. Matsukura, A. Shen, Y. Ohno, Y. Segawa, and H. Ohno, Electron. Lett. 34, 190 (1998).
-
(1998)
Electron. Lett.
, vol.34
, pp. 190
-
-
Kuroiwa, T.1
Yasuda, T.2
Matsukura, F.3
Shen, A.4
Ohno, Y.5
Segawa, Y.6
Ohno, H.7
-
12
-
-
0032097503
-
-
K. Ando, T. Hayashi, M. Tanaka, and A. Twardowski, J. Appl. Phys. 83, 6548 (1998).
-
(1998)
J. Appl. Phys.
, vol.83
, pp. 6548
-
-
Ando, K.1
Hayashi, T.2
Tanaka, M.3
Twardowski, A.4
-
13
-
-
0001816185
-
-
H. Akinaga, S. Miyanishi, K. Tanaka, W. Van Roy, and K. Onodera, Appl. Phys. Lett. 76, 97 (2000).
-
(2000)
Appl. Phys. Lett.
, vol.76
, pp. 97
-
-
Akinaga, H.1
Miyanishi, S.2
Tanaka, K.3
Van Roy, W.4
Onodera, K.5
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