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Volumn 63, Issue 20, 2001, Pages 2052051-20520514

Tight-binding molecular dynamics study of vacancy-interstitial annihilation in silicon

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SILICON;

EID: 0034904750     PISSN: 01631829     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/physrevb.63.205205     Document Type: Article
Times cited : (16)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.