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Volumn 85, Issue 13, 2000, Pages 2749-2752

Nanotomography

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IMAGE RECONSTRUCTION; MICROSCOPIC EXAMINATION; NANOSTRUCTURED MATERIALS;

EID: 0034714681     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.85.2749     Document Type: Article
Times cited : (119)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.