Helium plasma source time-of-flight mass spectrometry: Off-cone sampling for elemental analysis

Analytical Chemistry

Volumn 72, Issue 11, 2000, Pages 2455-2462

  Su, Yongxuan ^a   Duan, Yixiang ^a   Jin, Zhe ^a  

^a LOS ALAMOS NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

HELIUM;

AIR; ANALYTIC METHOD; ARTICLE; ATMOSPHERIC PRESSURE; HIGH TEMPERATURE; MASS SPECTROMETRY; PLUME; SPECTRAL SENSITIVITY;

EID: 0034213399     PISSN: 00032700     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ac991374h     Document Type: Article

References (39)

1. Houk, R. S.; Fassel, V. A.; Flesch, G. D.; Svec, H. J.; Gray, A. L.; Taylor, C. E. Anal. Chem. 1980, 52, 2283-2289.
2. Vela, N. P.; Olson, L. K.; Caruso, J. A. Anal. Chem. 1993, 65, 585A-597A.
3. Douglas, D. J.; Quan, E. S. K.; Smith, R. G. Spectrochim. Acta, Part B 1983, 38, 39-48.
4. Aggarwal, J. K.; Shabani, M, B.; Palmer, R. A.; Gnarsdottir, K. V. Anal. Chem. 1996, 68, 4418-4423.
5. Horlick, G.; Shao, Y. In Inductively Coupled Plasma in Analytical Atomic Spectrometry, 2nd ed.; Montaser, A. Golightly, D. W., Eds.; VCH: New York, NY, 1992.
6. Tan, S. H.; Horlick, G. Appl. Spectrosc. 1986, 40, 445-460.
7. Houk, R. S. Anal. Chem. 1986, 58, 97A-105A.
8. Wilson, D. A.; Vickers, G. H.; Hieftje, G. M. Anal. Chem. 1987, 59, 1664-1670.
9. Houk, R. S.; Montaser, A.; Fassel, V. A. Appl. Spectrosc. 1983, 37, 425-428.
10. Satzger, R. D.; Fricke, F. L.; Caruso, J. A. J. Anal. At. Spectrom. 1988, 3, 319-323.
11. Chan, S.; Montaser, A. Spectrochim. Acta, Part B 1985, 40, 1467-1472.
12. Zhang, H.; Nam, S. H.; Cai, M. X.; Montaser, A. Appl. Spectrosc. 1996, 50, 427-435.
13. Okamoto, Y. J. Anal. At. Spectrom. 1994, 9, 745-749.
14. Shen, W.; Davidson, T. M.; Creed, J. T.; Caruso, J. A. Appl. Spectrosc. 1990, 44, 1003-1010.
15. Ohata, M.; Furuta, N. J. Anal. At. Spectrom. 1998, 13, 447-453.
16. Shirasaki, T.; Hiraki, K. Bunseki Kagaku 1994, 43(1), 25-29.
17. Oishi, K.; Okumoto, T.; linot, T., Koga, M.; Shirasaki, T.; Furuta, N. Spectrochim. Acta, Part B 1994, 49, 901-914.
18. Shen, W.; Davidson, T. M.; Creed, J. T.; Caruso, J. T. Appl. Spectrosc. 1990, 44, 1011-1014.
19. Koppenaal, D. W.; Quinton, L. F. J. Anal. At. Spectrom. 1988, 3, 667-672.
20. Satzger, R. D.; Fricke, F. L.; Brown, P. G.; Caruso, J. A. Spectrochim. Acta, Part B 1987, 42, 705-712.
21. Fecher, P. A.; Nagengast, N. J. Anal. At. Spectrom. 1994, 9, 1021-1027.
22. Chambers, D. M.; Carnahan, J. W.; Jin, Q.; Hieftje, G. M. Spectrochim. Acta, Part B 1991, 46, 1745-1765.
23. Wu, M.; Duan, Y.; Jin, Q.; Hieftje, G. M. Spectrochim. Acta, Part B 1994, 49, 137-148.
24. Hieftje, G. M.; Myers, D. P.; Li, G.; Mahoney, P. P.; Burgoyne, T. W.; Ray, S. J.; Guzowski, J. P. J. Anal. At. Spectrom. 1997, 12, 287-292.
25. Myers, D. P.; Li, G.; Yang, P.; Hieftje, G. M. J. Am. Soc. Mass Spectrom. 1994, 5, 1008-1016.
26. Myers, D. P.; Li, G.; Mahoney, P. P.; Hieftje, G. M. J. Am. Soc. Mass Spectrom. 1995, 6, 400-410.
27. Myers, D. P.; Li, G.; Mahoney, P. P.; Hieftje, G. M. J. Am. Soc. Mass Spectrom. 1995, 6, 411-420.
28. Myers, D. P.; Mahoney, P. P.; Li, G.; Hieftje, G. M. J. Am Soc. Mass Spectrom. 1995, 6, 920-927.
29. Mahoney, P. P.; Li, G.; Hieftje, G. M. J. Anal. At. Spectrom. 1996, 11, 401-405.
30. Mahoney, P. P.; Ray, S. J.; Li, G.; Hieftje, G. M. Anal. Chem. 1999, 71, 1378-1383.
31. Jin, Q.; Zhu, C,; Borer, W.; Hieftje, G. M. Spectrochim. Acta, Part B 1991, 46, 417-430.
32. Madrid, Y., Wu, M.; Jin, Q.; Hieftje, G. M. Anal. Chim. Acta 1993, 277, 1-8.
33. Prokisch, C.; Broekaert, J. A. C. Spectrochim. Acta, Part B 1998, 53, 1109-1119.
34. Pack, B. W.; Hieftje, G. M. Spectrochim. Acta, Part B 1997, 52, 2163-2168.
35. Duan, Y.; Su, Y.; Jin, Z.; Abeln, S. P. Rev. Sci. Instrum. 2000, 71 (3), 1557-1563.
36. Höglund, A.; Rosengren, L. G. Int. J. Mass Spectrom. Ion. Processes 1984, 60, 173-187.
37. Olivares, J. A.; Houk, R. S. Anal. Chem. 1985, 57, 2674-2679.
38. Abdallah, M. H.; Mermet, J. M. Spectrochim. Acta, Part B 1982, 37, 391-397.
39. Niu, H.; Houk, R. S. Spectrochim. Acta, Part B 1996, 51, 779-815.