Scanning tunneling microscopy and spectroscopy of topological defects in carbon nanotubes

Carbon

Volumn 38, Issue 11, 2000, Pages 1729-1733

  Meunier, V ^a   Lambin, Ph ^a  

^a UNIVERSITY OF NAMUR   (Belgium)

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CARBON; CRYSTAL DEFECTS; ELECTRONIC PROPERTIES; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SPECTROSCOPY;

CARBON NANOTUBES;

NANOTUBES;

EID: 0033711836     PISSN: 00086223     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0008-6223(99)00296-1     Document Type: Article

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