A spectro-microscopic approach to study the morphology and elemental distribution of mc-Si surfaces

Physica Status Solidi (B) Basic Research

Volumn 215, Issue 1, 1999, Pages 743-749

  Hoffmann, P ^a   Mikalo, R P ^a   Schmeisser, D ^a   Kittler, M ^b  

^a BRANDENBURG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Germany)

^b IHP   (Germany)

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EID: 0033197170     PISSN: 03701972     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(SICI)1521-3951(199909)215:1<743::AID-PSSB743>3.0.CO;2-C     Document Type: Article

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